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Volumn 12, Issue , 2010, Pages

Nanomanipulation of ridges in few-layer epitaxial graphene grown on the carbon face of 4H-SiC

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AFM TIP; ATOMIC FORCE MICROSCOPES; CROSS-SECTION TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPIES; EPITAXIAL GRAPHENE; LATERAL DIRECTIONS; NANOMANIPULATIONS; SIC SUBSTRATES; TEM;

EID: 78650132549     PISSN: 13672630     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1088/1367-2630/12/12/125009     Document Type: Article
Times cited : (15)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.