Molecular rectification in metal-bridge molecule-metal junctions

Physica Status Solidi (A) Applications and Materials Science

Volumn 207, Issue 4, 2010, Pages 891-897

  Liu, Yaqing ^a,b   Offenhäusser, Andreas ^a,b   Mayer, Dirk ^a,b  

^a FORSCHUNGSZENTRUM JÜLICH   (Germany)

^b JARA Fundamentals of Future Information Technology   (Germany)

Author keywords

Junction diodes; Scanning tunneling microscopy; Spin polarized resonance tunnel junctions

Indexed keywords

JUNCTION DIODE; JUNCTION DIODES; SPIN POLARIZED RESONANCE TUNNEL JUNCTIONS; SPIN-POLARIZED;

DIODES; ELECTRIC RECTIFIERS; HETEROJUNCTIONS; METALS; MOLECULES; QUANTUM CHEMISTRY; RESONANCE; SCANNING; SCANNING TUNNELING MICROSCOPY; SPIN DYNAMICS; SPIN POLARIZATION; TUNNEL JUNCTIONS; WIND TUNNELS;

RESONANT TUNNELING DIODES;

EID: 77951440769     PISSN: 18626300     EISSN: 18626319     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/pssa.200983318     Document Type: Article

References (48)

1. S.M. Lindsay andM. A. Ratner, Adv.Mater. 19, 23-31 (2007).
2. F. Chen and N. J. Tao, Acc. Chem. Res. 42, 429-438 (2009).
3. A. Aviram and M. Ratner, Chem. Phys. Lett. 29, 277 (1974).
4. M. Pita and E. Katz, J. Am. Chem. Soc. 130, 36-37 (2008).
5. Y. Liu, A. Offenhäusser, and D. Mayer, Bioelectrochemistry 77, 89-93 (2010).
6. Y. Liu, A. Offenhäusser, and D. Mayer, Biosens. Bioelectron. 25, 1173-1178 (2010).
7. K. Kitagawa, T. Morita, and S. Kimura, J. Phys. Chem. B 109, 13906-13911 (2005).
8. Rl. Carroll and C. B. Gorman, Angew. Chem., Int. Ed. 41, 4379 (2002).
9. N. S. Hush, A. T. Wong, G. B. Bacskay, and J. R. Reimers, J. Am. Chem. Soc. 112, 4192 (1990).
10. A. Nitzan and M. A. Ratner, Science 300, 1384 (2003).
11. K. Weber, L. Hockett, and S. Creager, J. Phys. Chem. B 101, 8286-8291 (1997).
12. L. A. Hockett and S. E. Creager, Langmuir 11, 2318-2321 (1995).
13. J. J. Sumner and S. E. Creager, J. Am. Chem. Soc. 122, 11914-11920 (2000).
14. J. F. Smalley, H. O. Finklea, C. E. D. Chidsey, M. R. Linford, S. E. Creager, J. P. Ferraris, K. Chalfant, T. Zawodzinsk, S. W. Feldberg, and M. D. Newton, J. Am. Chem. Soc. 125, 2004-2013 (2003).
15. S. E. Creager and T. T. Wooster, Anal. Chem. 70, 4257 (1998).
16. C. E. D. Chidsey, C. R. Bertozzi, T. M. Putinski, and A. M. Mujsce, J. Am. Chem. Soc. 112, 4301 (1990).
17. J. N. Richardson, S. R. Peck, L. S. Curtin, L. M. Tender, R. H. Terrill, M. T. Carter, and R. W. Murray, J. Phys. Chem. 99, 766 (1995).
18. B. Xu, X. Xiao, X. Yang, L. Zang, and N. Tao, J. Am. Chem. Soc. 127, 2386-2387 (2005).
19. V. Engelkes, J. Beebe, and C. Frisbie, J. Am. Chem. Soc. 126, 14287-14296 (2004).
20. M. A. Reed, C. Zhou, C. Muller, T. P. Burgin, and J. M. Tour, Science 278, 252-254 (1997).
21. X. Xiao, D. Brune, J. He, S. Lindsay, C. B. Gorman, and N. J. Tao, Chem. Phys. 326, 138-143 (2006).
22. C. B. Gorman, R. L. Carroll, and R. R. Fuierer, Langmuir 17, 6923-6930 (2001).
23. R. A. Wassel, G. M. Credo, R. R. Fuierer, D. L. Feldheim, and C. B. Gorman, J. Am. Chem. Soc. 126, 295-300 (2004).
24. A. V. Tivanski and G. C. Walker, J. Am. Chem. Soc. 127, 7647-7653 (2005).
25. K. Kitagawa, T. Morita, and S. Kimura, Langmuir 21, 10624-10631 (2005).
26. S. Corni, IEEE Trans. Nanotechnol. 6, 561-570 (2007).
27. G. E. Poirier, Langmuir 13, 2019 (1997).
28. D. Mayer, K. Ataka, J. Heberle, and A. Offenhaeusser, Langmuir 21, 8580-8583 (2005).
29. D. J. Wold and C. D. Frisbie, J. Am. Chem. Soc. 122, 2970-2971 (2000).
30. J. M. Beebe, V. B. Engelkes, L. L. Miller, and C. D. Frisbie, J. Am. Chem. Soc. 124, 11268-11269 (2002).
31. T. Lee, W. Wang, J. F. Klemic, J. J. Zhang, J. Su, and M. A. Reed, J. Phys. Chem. B 108, 8742-8750 (2004).
32. A. Salomon, D. Cahen, S. Lindsay, J. Tomfohr, V. B. Engelkes, and C. D. Frisbie, Adv. Mater. 15, 1881-1890 (2003).
33. J. G. Simmons, J. Appl. Phys. 34, 1793 - 1803 (1963).
34. K. Slowinski, H. K. Y. Fong, and M. Majda, J. Am. Chem. Soc. 103, 7257-7261 (1981).
35. J. F. Smalley, S. W. Feldberg, C. E. D. Chidsey, M. R. Linford, M. D. Newton, and Y.-P. Liu, J. Phys. Chem. 99(35), 13141-13149 (1995).
36. J. N. Richardson, S. R. Peck, L. S. Curtin, L. M. Tender, R. H. Terrill, M. T. Carter, R. W. Murray, G. K. Rowe, and S. E. Creager, J. Phys. Chem. 99(2), 766-772 (1995).
37. A. M. Napper, H. Liu, and D. H. Waldeck, J. Phys. Chem. B 105(32), 7699-7707 (2001).
38. R. Novwak, F. Schulz, M. Umana, R. Law, and R. Murray, Anal. Chem. 52, 315-321 (1980).
39. A. S. Viana, A. H. Jones, L. M. Abrantes, and M. Kalaji, J. Electroanal. Chem. 500, 290 (2001).
40. N. J. Tao, Phys. Rev. Lett. 21, 4066-4069 (1996).
41. M. V. Vigdorovich, A. M. Kuznetsov, and J. Ulstrup, Chem. Phys. 176, 539-554 (1993).
42. A. N. Kuznetsov and W. Schmickler, Chem. Phys. 282, 371-377 (2002).
43. R. E. Holmlin, R. Haag, M. L. Chabinyc, R. F. Ismagilov, A. E. Cohen, A. Terfort, M. A. Rampi, and G. M. Whitesides, J. Am. Chem. Soc. 123, 5075-5085 (2001).
44. A. M. Kuznetsov and J. Ulstrup, J. Phys. Chem. A 104, 11531-11540 (2000).
45. M. Di Ventra, S. T. Pantelides, and N. D. Lang, Appl. Phys. Lett. 76, 3448 (2000).
46. P. Damle, T. Rakshit, M. Paulsson, and S. Datta, IEEE Trans. Nanotechnol. 1, 145 (2002).
47. H. S. White, G. P. Kittlesen, and M. S. Wrighton, J. Am. Chem. Soc. 106, 5375 (1984).
48. M. Krüger, M. R. Buitelaar, T. Nussbaumer, C. Schönenberger, and L. Forro, Appl. Phys. Lett. 78, 1291 (2001).