Tip-modulation scanned gate microscopy

Nano Letters

Volumn 8, Issue 8, 2008, Pages 2161-2165

  Wilson, Neil R ^a   Cobden, David H ^b  

^a UNIVERSITY OF WARWICK   (United Kingdom)

^b UNIVERSITY OF WASHINGTON   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ATOMIC FORCE MICROSCOPES; LOW NOISE; NON LOCALS; SINGLE-WALLED CARBON NANOTUBE NETWORKS; VOLTAGE BIAS;

CARBON NANOTUBES; MODULATION; SINGLE-WALLED CARBON NANOTUBES (SWCN);

MARKUP LANGUAGES;

EID: 61449256311     PISSN: 15306984     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/nl080488i     Document Type: Article

References (24)

1. Kuntze, S.; Ban, D.; Sargent, E.; Dixon-Warren, S.; White, J.; Hinzer, K. Crit. Rev. Solid State 2005, 30 (2), 71-124.
2. Tans, S. J.; Dekker, C. Nature 2000, 404 (6780), 834.
3. Park, J.-Y.; Yaish, Y.; Brink, M.; Rosenblatt, S.; McEuen, P. L. Appl. Phys. Lett. 2002, 80 (23), 4446-4448.
4. Bachtold, A.; Fuhrer, M. S.; Plyasunov, S.; Forero, M.; Anderson, E. H.; Zettl, A.; McEuen, P. L. Phys. Rev. Lett. 2000, 84 (26), 6082-6085.
5. Freitag, M.; Johnson, A. T.; Kalinin, S. V.; Bonnell, D. A. Phys. Rev. Lett. 2002, 89 (21), 4.
6. Freitag, M.; Radosavljevic, M.; Zhou, Y.; Johnson, A. T.; Smith, W. F. Appl. Phys. Lett. 2001, 79 (20), 3326.
7. Bockrath, M.; Liang, W. J.; Bozovic, D.; Hafner, J. H.; Lieber, C. M.; Tinkham, M.; Park, H. K. Science 2001, 291 (5502), 283-285.
8. Woodside, M. T.; McEuen, P. L. Science 2002, 296 (5570), 1098-1101.
9. Zhou, X.; Dayeh, S. A.; Wang, D.; Yu, E. T. Appl. Phys. Lett. 2007, 90 (23), 3.
10. Eriksson, M. A.; Beck, R. G.; Topinka, M.; Katine, J. A.; Westervelt, R. M.; Campman, K. L.; Gossard, A. C. Appl. Phys. Lett. 1996, 69 (5), 671-673.
11. Aoki, N.; da Cunha, C. R.; Akis, R.; Ferry, D. K.; Ochiai, Y. Phys. Rev. B 2005, 72 (15), 4.
12. Topinka, M. A.; LeRoy, B. J.; Westervelt, R. M.; Shaw, S. E. J.; Fleischmann, R.; Heller, E. J.; Maranowski, K. D.; Gossard, A. C. Nature 2001, 410 (6825), 183-186.
13. Crook, R.; Smith, C. G.; Tribe, W. R.; O'Shea, S. J.; Simmons, M. Y.; Ritchie, D. A. Phys. Rev. B 2002, 66 (12), 121301.
14. Nonnenmacher, M.; Oboyle, M. P.; Wickramasinghe, H. K. Appl. Phys. Lett. 1991, 58 (25), 2921-2923.
15. Gil, A.; Colchero, J.; Gomez-Herrero, J.; Baro, A. M. Nanotechnology 2003, 14 (2), 332-340.
16. Kalinin, S. V.; Bonnell, D. A.; Freitag, M.; Johnson, A. T. Appl. Phys. Lett. 2002, 81 (4), 754.
17. Wilson, N. R.; Macpherson, J. V. J Appl. Phys. 2004, 96 (6), 3565-3567.
18. -18 F (see, e.g., Bockrath et al. Nano Lett. 2002, 2, (3), 187-190).
19. Colchero, J.; Gil, A.; Baro, A. M. Phys. Rev. B 2001, 64 (24), 245403.
20. Jacobs, H. O.; Leuchtmann, P.; Homan, O. J.; Stemmer, A. J. Appl. Phys. 1998, 84 (3), 1168-1173.
21. Gruner, G. Anal. Bioanal. Chem. 2006, 384 (2), 322-35.
22. Gruner, G. J. Mater. Chem. 2006, 16 (35), 3533-3539.
23. Snow, E. S.; Novak, J. P.; Lay, M. D.; Houser, E. H.; Perkins, F. K.; Campbell, P. M. J. Vac. Sci. Technol. B 2004, 22 (4), 1990-1994.
24. Edgeworth, J. P.; Wilson, N. R.; Macpherson, J. V. Small 2007, 3 (5), 860-870.