Reference-free X-ray spectrometry based on metrology using synchrotron radiation

Journal of Analytical Atomic Spectrometry

Volumn 23, Issue 6, 2008, Pages 845-853

  Beckhoff, Burkhard ^a  

^a PHYSIKALISCH TECHNISCHE BUNDESANSTALT   (Germany)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ATOMIC FUNDAMENTAL PARAMETERS; ATOMIC PARAMETER; BEAM GEOMETRY; BINDING STATE; ELEMENTAL COMPOSITIONS; ENERGY RESOLUTIONS; EXCITATION RADIATION; EXPERIMENTAL PARAMETERS; FLUORESCENCE LINES; FLUORESCENCE YIELD; INFORMATION CONCERNING; MASS ABSORPTION COEFFICIENT; NEW MATERIAL; RELATIVE UNCERTAINTY; RESPONSE BEHAVIOR; SOFT X-RAY RANGE; SOLID ANGLE; SPECTRAL PURITY; STANDARD REFERENCE MATERIAL; SUBSHELLS; SUPERCONDUCTING TUNNEL JUNCTION; TRANSITION PROBABILITIES; X RAY SPECTROMETRY;

FLUORESCENCE; SPECTROMETRY; SYNCHROTRON RADIATION; SYNCHROTRONS; TUNNEL JUNCTIONS; UNCERTAINTY ANALYSIS; X RAY LITHOGRAPHY;

ATOMS;

EID: 56449101097     PISSN: 02679477     EISSN: 13645544     Source Type: Journal    
DOI: 10.1039/b718355k     Document Type: Article

References (63)

1. B. Beckhoff R. Klein M. Krumrey F. Scholze R. Thornagel G. Ulm Nucl. Instrum. Methods, Sect. A 2000 444 480
2. G. Ulm Metrologia 2003 40 S101
3. F. Senf U. Flechsig F. Eggenstein W. Gudat R. Klein H. Rabus G. Ulm J. Synchrotron Radiat. 1998 5 780
4. F. Scholze B. Beckhoff G. Brandt R. Fliegauf R. Klein B. Meyer D. Rost D. Schmitz M. Veldkamp J. Weser G. Ulm E. Louis A. E. Yakshin S. Oestreich F. Bijkerk Proc. SPIE 2000 4146 72
5. M. Krumrey G. Ulm Nucl. Instrum. Methods, Sect. A 2001 467-468 1175
6. A. Gottwald U. Kroth M. Krumrey M. Richter F. Scholze G. Ulm Metrologia 2006 43 S125
7. F. Scholze R. Thornagel G. Ulm Metrologia 2001 38 391
8. F. Scholze M. Procop X-ray Spectrom. 2001 30 69
9. M. Krumrey M. Gerlach F. Scholze G. Ulm Nucl. Instrum. Methods, Sect. A 2006 568 364
10. B. Beckhoff R. Fliegauf M. Kolbe M. Müller J. Weser G. Ulm Anal. Chem. 2007 79 7873
11. M. Mantler, J. P. Willis, G. R. Lachance, B. A. R. Vrebos, K.-E. Mauser, N. Kawahara, R. M. Rousseau and P. N. Brouwer, Quantitative Analysis, in Handbook of Practical X-Ray Fluorescence Analysis, ed., B. Beckhoff, B. Kanngießer, N. Langhoff, R. Wedell, and, H. Wolff, Springer, 2006, pp. 309-410
12. R. Tertian X-ray Spectrom 1986 15 177
13. J. P. Willis G. R. Lachance X-ray Spectrom. 2004 33 181
14. R. M. Rousseau Spectrochim. Acta, Part B 2006 61 759
15. R. P. Gardner A. R. Hawthorne X-ray Spectrom 1973 4 138
16. M. Mantler Adv. X-ray Anal. 1999 41 753
17. L. Vinze B. Vekemans K. Janssens F. Adams J. Anal. At. Spectrom. 1999 14 529
18. M. Kolbe B. Beckhoff M. Krumrey G. Ulm Spectrochim. Acta, Part B 2005 60 505
19. M. Müller B. Beckhoff G. Ulm B. Kanngießer Phys. Rev. A 2006 74
20. W. Bambynek B. Crasemann R. W. Fink H.-U. Freund H. Mark C. D. Swift R. E. Price P. Venugopala Rao Rev. Mod. Phys. 1972 44 716
21. M. O. Krause C. W. Nestor C. J. Sparks E. Ricci Oak Ridge National Laboratory (ORNL) report no. 5399 1978
22. E. B. Saloman J. H. Hubbell J. H. Scofield At. Data Nucl. Data Tables 1988 38 1
23. B. L. Henke E. M. Gullikson J. C. Davis At. Data Nucl. Data Tables 1993 54 181
24. C. T. Chantler J. Phys. Chem. Ref. Data 2000 29 597
25. W. T. Elam B. D. Ravel J. R. Sieber Radiat. Phys. Chem. 2002 63 121
26. H. Ebel R. Svagera M. F. Ebel A. Shaltout J. H. Hubbell X-ray Spectrom. 2003 32 442
27. A. Brunetti M. Sanchez del Rio B. Golosio A. Simionovici A. Somogyi Spectrochim. Acta, Part B 2004 59 1725
28. A. Shaltout H. Ebel R. Svagera X-ray Spectrom. 2006 35 52
29. Handbook of X-Ray Data, ed., G. H. Zschornack, Springer, 2007
30. B. Beckhoff G. Ulm Adv. X-ray Anal. 2001 44 349
31. B. Kanngießer W. Malzer M. Müller N. Schmidt P. Zimmermann A. G. Kochur V. L. Sukhorukov Phys. Rev. A 2003 68
32. Ch. Zarkadas A. G. Karydas M. Müller B. Beckhoff Spectrochim. Acta, Part B 2006 61 189
33. F. Scholze B. Beckhoff M. Kolbe M. Krumrey M. Müller G. Ulm Microchim. Acta 2006 155 275
34. J. Szlachetko J.-Cl. Dousse J. Hoszowska M. Pajek R. Barrett M. Berset K. Fennane A. Kubala-Kukus M. Szlachetko Phys. Rev. Lett. 2006 97
35. J. Szlachetko J.-Cl. Dousse M. Berset K. Fennane M. Szlachetko J. Hoszowska R. Barrett M. nPajek A. Kubala-Kukus Phys. Rev. A 2007 75
36. D. Windt Comput. Phys. 1998 12 360
37. B. Beckhoff R. Fliegauf G. Ulm Spectrochim. Acta, Part B 2003 58 615
38. S. Bechstein B. Beckhoff R. Fliegauf J. Weser G. Ulm Spectrochim. Acta, Part B 2004 59 215
39. M. Mantler Adv. X-ray Anal. 2000 43 429
40. N. Kawahara T. Shoji T. Yamada Y. Kataoka B. Beckhoff G. Ulm M. Mantler Adv. X-ray Anal. 2002 45 511
41. B. Beckhoff M. Kolbe O. Hahn A. G. Karydas Ch. Zarkadas D. Sokaras M. Mantler X-ray Spectrom 2008 10.1002/xrs.1073
42. A. Longoni and C. Fiorini, X-ray detectors and signal processing, in Handbook of Practical X-Ray Fluorescence Analysis, ed., B. Beckhoff, B. Kanngießer, N. Langhoff, R. Wedell, and, H. Wolff, Springer, 2006, pp. 203-261
43. T. Eggert O. Boslau J. Kemmer A. Pahlke F. Wiest Nucl. Instrum. Methods, Sect. A 2006 568 1
44. Total-Reflection X-Ray Fluorescence Analysis, ed. R. Klockenkämper, John Wiley and Sons Inc., 1997
45. C. Streli, P. Wobrauschek, L. Fabry, S. Pahlke, F. Comin, R. Barett, P. Pianetta, K. Lüning and B. Beckhoff, Total-Reflection X-Ray Fluorescence (TXRF) Wafer Analysis, in Handbook of Practical X-Ray Fluorescence Analysis, ed., B. Beckhoff, B. Kanngießer, N. Langhoff, R. Wedell, and, H. Wolff, Springer, 2006, pp. 498-553
46. D. Hellin S. de Gendt N. Valckx P. W. Mertens C. Vinckier Spectrochim. Acta, Part B 2006 61 496
47. R. Klockenkämper Spectrochim. Acta, Part B 2006 61 1082
48. T. Conard S. List M. Claes B. Beckhoff Solid State Phenom. 2008 134 281
49. P. Hönicke B. Beckhoff M. Kolbe S. List T. Conard H. Struyff Spectrochim. Acta, Part B 2008
50. B. Beckhoff R. Fliegauf P. Hönicke M. Kolbe M. Müller B. Pollakowski J. Weser G. Ulm ECS Trans. 2007 11 3 273
51. B. Pollakowski B. Beckhoff F. Reinhardt S. Braun P. Gawlitza Phys. Rev. B 2008
52. G. Pepponi C. Streli P. Wobrauschek N. Zoeger K. Luening P. Pianetta D. Giubertoni M. Barozzi M. Bersani Spectrochim. Acta, Part B 2004 59 1243
53. NEXAFS Spectroscopy, ed., J. Stöhr, Springer Series in Surface Sciences 25, 1992
54. J. J. Rehr R. C. Albers Rev. Mod. Phys. 2000 72 621
55. F. de Groot Chem. Rev. 2001 101 1779
56. F. de Groot Coord. Chem. Rev. 2005 249 31
57. J. J. Rehr Radiat. Phys. Chem. 2006 75 1547
58. G. Pepponi B. Beckhoff T. Ehmann G. Ulm C. Streli L. Fabry S. Pahlke P. Wobrauschek Spectrochim. Acta, Part B 2003 58 2245
59. S. Török J. Osan B. Beckhoff G. Ulm Powder Diffr. 2004 19 81
60. J. Osan S. Török B. Beckhoff G. Ulm H. Hwang C.-U. Ro C. Abete R. Fuoco Atmos. Environ. 2006 40 4691
61. P. Hoffmann O. Baake B. Beckhoff W. Ensinger N. Fainer A. Klein M. Kosinova B. Pollakowski V. Trunova G. Ulm J. Weser Nucl. Instrum. Methods, Sect. A 2007 575 78
62. M. Huber S. Bechstein B. Beckhoff F. v. Freilitzsch J. Jochum M. Krumrey A. Rüdig G. Ulm Nucl. Instrum. Methods, Sect. A 2004 520 234
63. M. Loidl E. Leblanc M. Rodrigues B. Leprince L. Eglin H. Rotzinger M. Linck A. Burck T. Scarbrough A. Fleischmann C. Enss Nucl. Instrum. Methods, Sect. A 2006 559 769