메뉴 건너뛰기




Volumn 78, Issue 11, 2008, Pages

Disorder and surface effects on work function of Ni-Pt metal gates

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords


EID: 52949083587     PISSN: 10980121     EISSN: 1550235X     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevB.78.115420     Document Type: Article
Times cited : (46)

References (26)
  • 1
    • 79956006409 scopus 로고    scopus 로고
    • APPLAB 0003-6951 10.1063/1.1467970
    • S. J. Wang and C. K. Ong, Appl. Phys. Lett. APPLAB 0003-6951 10.1063/1.1467970 80, 2541 (2002).
    • (2002) Appl. Phys. Lett. , vol.80 , pp. 2541
    • Wang, S.J.1    Ong, C.K.2
  • 2
    • 1642330111 scopus 로고    scopus 로고
    • PRLTAO 0031-9007 10.1103/PhysRevLett.92.057601
    • P. W. Peacock and J. Robertson, Phys. Rev. Lett. PRLTAO 0031-9007 10.1103/PhysRevLett.92.057601 92, 057601 (2004).
    • (2004) Phys. Rev. Lett. , vol.92 , pp. 057601
    • Peacock, P.W.1    Robertson, J.2
  • 3
    • 33749233440 scopus 로고    scopus 로고
    • PRBMDO 0163-1829 10.1103/PhysRevB.72.045327
    • Y. F. Dong, Y. P. Feng, S. J. Wang, and A. C. H. Huan, Phys. Rev. B PRBMDO 0163-1829 10.1103/PhysRevB.72.045327 72, 045327 (2005).
    • (2005) Phys. Rev. B , vol.72 , pp. 045327
    • Dong, Y.F.1    Feng, Y.P.2    Wang, S.J.3    Huan, A.C.H.4
  • 9
    • 33144485586 scopus 로고    scopus 로고
    • PRBMDO 0163-1829 10.1103/PhysRevB.73.045302
    • Y. F. Dong, S. J. Wang, Y. P. Feng, and A. C. H. Huan, Phys. Rev. B PRBMDO 0163-1829 10.1103/PhysRevB.73.045302 73, 045302 (2006).
    • (2006) Phys. Rev. B , vol.73 , pp. 045302
    • Dong, Y.F.1    Wang, S.J.2    Feng, Y.P.3    Huan, A.C.H.4
  • 15
    • 0037938629 scopus 로고    scopus 로고
    • EDLEDZ 0741-3106 10.1109/LED.2003.809528
    • Bing-Yue Tsui, IEEE Electron Device Lett. EDLEDZ 0741-3106 10.1109/LED.2003.809528 24, 153 (2003).
    • (2003) IEEE Electron Device Lett. , vol.24 , pp. 153
    • Tsui, B.1
  • 17
    • 0030190741 scopus 로고    scopus 로고
    • CMMSEM 0927-0256 10.1016/0927-0256(96)00008-0
    • G. Kresse and J. Furthmuller, Comput. Mater. Sci. CMMSEM 0927-0256 10.1016/0927-0256(96)00008-0 6, 15 (1996).
    • (1996) Comput. Mater. Sci. , vol.6 , pp. 15
    • Kresse, G.1    Furthmuller, J.2
  • 19
    • 0011236321 scopus 로고    scopus 로고
    • PRBMDO 0163-1829 10.1103/PhysRevB.59.1758
    • G. Kresse and D. Joubert, Phys. Rev. B PRBMDO 0163-1829 10.1103/PhysRevB.59.1758 59, 1758 (1999).
    • (1999) Phys. Rev. B , vol.59 , pp. 1758
    • Kresse, G.1    Joubert, D.2
  • 21
    • 33748135627 scopus 로고    scopus 로고
    • PRBMDO 0163-1829 10.1103/PhysRevB.74.073414
    • Paul C. Rusu and Geert Brocks, Phys. Rev. B PRBMDO 0163-1829 10.1103/PhysRevB.74.073414 74, 073414 (2006).
    • (2006) Phys. Rev. B , vol.74 , pp. 073414
    • Rusu, P.C.1    Brocks, G.2
  • 22
    • 0000509213 scopus 로고
    • PRBMDO 0163-1829 10.1103/PhysRevB.46.787
    • C. P. Herrero, L. Utrera, and R. Ramirez, Phys. Rev. B PRBMDO 0163-1829 10.1103/PhysRevB.46.787 46, 787 (1992).
    • (1992) Phys. Rev. B , vol.46 , pp. 787
    • Herrero, C.P.1    Utrera, L.2    Ramirez, R.3
  • 24
    • 34347373075 scopus 로고    scopus 로고
    • PRBMDO 0163-1829 10.1103/PhysRevB.75.233401
    • D. W. Yuan, X. G. Gong, and Ruqian Wu, Phys. Rev. B PRBMDO 0163-1829 10.1103/PhysRevB.75.233401 75, 233401 (2007).
    • (2007) Phys. Rev. B , vol.75 , pp. 233401
    • Yuan, D.W.1    Gong, X.G.2    Wu, R.3
  • 25
    • 33846045114 scopus 로고    scopus 로고
    • JAPIAU 0021-8979 10.1063/1.2400506
    • A. M. Black-Schaffer and K. Cho, J. Appl. Phys. JAPIAU 0021-8979 10.1063/1.2400506 100, 124902 (2006).
    • (2006) J. Appl. Phys. , vol.100 , pp. 124902
    • Black-Schaffer, A.M.1    Cho, K.2
  • 26
    • 33746504449 scopus 로고    scopus 로고
    • PRBMDO 0163-1829 10.1103/PhysRevB.74.035433
    • Y. Jia, B. Wu, H. H. Weitering, and Z. Zhang, Phys. Rev. B PRBMDO 0163-1829 10.1103/PhysRevB.74.035433 74, 035433 (2006).
    • (2006) Phys. Rev. B , vol.74 , pp. 035433
    • Jia, Y.1    Wu, B.2    Weitering, H.H.3    Zhang, Z.4


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.