Length dependence of electron conduction for oligo(1,4-phenylene ethynylene)s: A conductive probe-atomic force microscopy investigation

Journal of Physical Chemistry C

Volumn 112, Issue 11, 2008, Pages 4342-4349

  Liu, Ke ^a,b   Li, Guorong ^a   Wang, Xianhong ^a   Wang, Fosong ^c  

^a CHANGCHUN INSTITUTE OF APPLIED CHEMISTRY   (China)

^b UNIVERSITY OF CHINESE ACADEMY OF SCIENCES   (China)

^c INSTITUTE OF GEOLOGY AND GEOPHYSICS   (China)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

AROMATIC COMPOUNDS; ATOMIC FORCE MICROSCOPY; ATOMIC PHYSICS; ATOMS; CHAIN LENGTH; ELECTRONS; HEAT CONDUCTION; METALS; MICROSCOPIC EXAMINATION; NANOSTRUCTURES; NANOWIRES; POLYETHYLENES; SCANNING PROBE MICROSCOPY; WIRE;

ATOMIC FORCE (AF); ATTENUATION FACTOR (AF); CONDUCTIVE PROBE; DOMINANT FACTORS; ELECTRON (HOLE) CONDUCTION; ELECTRON TRANSPORT (ET); HIGHEST OCCUPIED MOLECULE ORBITAL (HOMO); LENGTH DEPENDENCE; MAIN CHAINS; METAL SUBSTRATES; MOLECULAR JUNCTIONS; MOLECULAR LENGTHS; MOLECULAR WIRES; MOLECULAR WIRES (MW); NON-RESONANT TUNNELING; PHENYLENE-ETHYNYLENE (PPE); TERMINAL GROUPS;

IMAGING TECHNIQUES;

EID: 47149095769     PISSN: 19327447     EISSN: 19327455     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp0775799     Document Type: Article

References (36)

1. Reed, M. A.; Tour, J. M. Sci. Am. 2000, 282, 86.
2. Aviram, A.; Rattier, M. A. Chem. Phys. Lett. 1974, 29, 277.
3. Tour, J. M.; Rawlett, A. M.; Kozaki, M.; Yao, Y. X.; Jagessar, R. C.; Dirk, S. M.; Price, D. W.; Reed, M. A.; Zhou, C. W.; Chen, J.; Wang, W. Y.; Campbell, I. Chem.-Eur. J. 2001, 7, 5118.
4. Wold, D. J.; Hagg, R.; Rampi, M. A.; Frisbie, C. D. J. Phys. Chem. B 2002, 106, 2813.
5. Wu, R. L.; Schumm, J. S.; Pearson, D. L.; Tour, J. M. J. Org. Chem. 1996, 61, 6906.
6. Hansen, N. S.; Christensen, J. B.; Harrit, N.; Bj0rnholm, T. J. Org. Chem. 2003, 68, 1275.
7. Reed, M. A.; Zhou, C.; Muller, C. J.; Burgin, T. P.; Tour, J. M. Science 1997, 278, 252.
8. Chen, J.; Reed, M. A.; Rawlett, A. M.; Tour, J. M. Science 1999, 286, 1550.
9. Kushmerick, J. G.; Holt, D. B.; Pollack, S. K.; Ratner, M. A.; Yang, J. C.; Schull, T. L.; Naciri, J.; Moore, M. H.; Shashidar, R. J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 10654.
10. Holmlin, R. E.; Hagg, R.; Chabinyc, M. L.; Ismagilov, R. F.; Cohen, A. E.; Terfort, A.; Rampi, M. A.; Whitesides, G. M. J. Am. Chem. Soc. 2001, 123, 5075.
11. (a) Xu, B. Q.; Tao, N. J. Science 2003, 301, 1221.
12. (b) Fan, F. F.; Yang, J.; Cai, L.; Price, D. W., Jr.; Dirk, S. M.; Kosynkin, D. V.; Yao, Y.; Rawlett, A. M.; Tour, J. M.; Bard, A. J. J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 5550.
13. (c) Blum, A. S.; Yang, J. C.; Shashidhar, R.; Ratna, B. Appl. Phys. Lett. 2003, 82, 3322.
14. (d) Bumm, L. A.; Arnold, J. J.; Cygan, M. T.; Dunbar, T. D.; Burgin, T. P.; Jones, L.; Allara, D. L.; Tour, J. M.; Weiss, P. S. Science 1996, 271, 1705.
15. (a) Leatherman, G.; Durantini, E. N.; Gust, D.; Moore, T. A.; Moore, A. L.; Stone, S.; Zhou, Z.; Rez, P.; Liu, Y. Z.; Lindsay, S. M. J. Phys. Chem. B 1999, 103, 4006.
16. (b) Wold, D. J.; Frisbie, C. D. J. Am. Chem. Soc. 2001, 123, 5549.
17. (c) Zhao, J. W.; Davis, J. J.; Sansom, M. P.; Hung, A. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 5601.
18. (d) Ishida, T.; Mizutani, W.; Aya, Y.; Ogiso, H.; Sasaki, S.; Tokumoto, H. J. Phys. Chem. B 2002, 106, 5886.
19. (e) Tivanski, A. V.; He, Y. F.; Borguet, E.; Liu, H. Y.; Walker, G. C.; Waldeck, D. H. J. Phys. Chem. B 2005, 109, 5398.
20. Cui, X. D.; Primak, A.; Zarate, X.; Tomfohr, J.; Sankey, O. F.; Moore, A. L.; Moore, T. A.; Gust, D.; Harris, G.; Lindsay, S. M. Science 2001, 294, 571.
21. Tour, J. M.; Jones, L.; Pearson, D. L.; Lamba, J. S.; Burgin, T. P.; Whitesides, G. M.; Allara, D. L.; Parikh, A. N.; Atre, S. V. J. Am. Chem. Soc. 1995, 117, 9529.
22. Laibinis, P. E.; Bain, C. D.; Whitesides, G. M. J. Phys. Chem. 1991, 95, 7017.
23. Frisch, M. J.; et al. Gaussian 03, revision B.03; Gaussian, Inc.: Pittsburgh, PA, 2003.
24. Becke, A. D. J. Chem. Phys. 1993, 98, 5648.
25. Cygan, M. T.; Dunbar, T. D.; Arnold, J. J.; Bumm, L. A.; Shedlock, N. F.; Burgin, T. P.; Jones, L.; Allara, D. L.; Tour, J. M.; Weiss, P. S. J. Am. Chem. Soc. 1998, 120, 2721.
26. Poirier, G. E. Chem. Rev. 1997, 97, 1117.
27. Wold, D. J.; Frisbie, C. D. J. Am. Chem. Soc. 2000, 122, 2970.
28. Simmons, J. G. J. Appl. Phys. 1963, 281, 1793.
29. Slowinski, K.; Chamberlain, R. V.; Bilewicz, R.; Majda, M. J. Am. Chem. Soc. 1996, 118, 4709.
30. Chu, C. W.; Na, J. S.; Parsons, G. N. J. Am. Chem. Soc. 2007, 129, 2287.
31. Sakaguchi, H.; Hirai, A.; Iwata, F.; Sasaki, A.; Nagamura, T.; Kawata, E.; Nakabayashi, S. Appl. Phys. Lett. 2001, 79, 3708.
32. Schull, T. L.; Kushmerick, J. G.; Patterson, C. H.; George, C.; Moore, M. H.; Pollack, S. K.; Shashidhar, R. J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 3202.
33. Kim, B. S.; Beebe, J. M.; Olivier, C.; Rigaut, S.; Touchard, D.; Kushmerick, J. G.; Zhu, X. Y.; Frisbie, C. D. J. Phys. Chem. C2007, 111, 7521.
34. Selzer, Y.; Salomon, A.; Cahen, D. J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 2886.
35. Beebe, J. M.; Engelkes, V. B.; Miller, L. L.; Frisbie, C. D. J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 11268.
36. Reddy, P.; Jang, S. Y.; Majumdar, A. Science 2007, 315, 1568.