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Volumn 92, Issue 10, 2008, Pages 1199-1204

High-pressure condition of SiH4+Ar+H2 plasma for deposition of hydrogenated nanocrystalline silicon film

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nc c Si:H; Plasma impedance; Raman; RF PECVD

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HIGH PRESSURE CONDITIONS;

EID: 47049106534     PISSN: 09270248     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/j.solmat.2008.04.008     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.