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Volumn 92, Issue 15, 2008, Pages

A study of Hf vacancies at Si:Hf O2 heterojunctions

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VACANCIES;

EID: 42349116571     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2913008     Document Type: Article
Times cited : (3)

References (23)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.