High-resolution X-ray diffraction in situ study of very small complexes: The case of hydrogenated dilute nitrides

Journal of Applied Crystallography

Volumn 41, Issue 2, 2008, Pages 366-372

  Bisognin, G ^a   De Salvador, D ^a   Napolitani, E ^a   Berti, M ^a   Polimeni, A ^b   Capizzi, M ^b   Rubini, S ^c   Martelli, F ^c   Franciosi, A ^c  

^a UNIVERSITY OF PADOVA   (Italy)

^b UNIVERSITÀ DI ROMA LA SAPIENZA   (Italy)

^c LABORATORIO TASC   (Italy)

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Dissolution energy; In situ HRXRD; Semiconductors; Small complexes; Thermal annealing

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EID: 40849111498     PISSN: 00218898     EISSN: 16005767     Source Type: Journal    
DOI: 10.1107/S0021889807068094     Document Type: Article

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