Rayleigh imaging of graphene and graphene layers

Nano Letters

Volumn 7, Issue 9, 2007, Pages 2711-2717

  Casiraghi, C ^a   Hartschuh, A ^b   Lidorikis, E ^c   Qian, H ^b   Harutyunyan, H ^b   Gokus, T ^b   Novoselov, K S ^d   Ferrari, A C ^a  

^a UNIVERSITY OF CAMBRIDGE   (United Kingdom)

^b UNIVERSITY OF MUNICH   (Germany)

^c UNIVERSITY OF IOANNINA   (Greece)

^d UNIVERSITY OF MANCHESTER   (United Kingdom)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ELECTRON GAS; GRAPHITE; IMAGE ANALYSIS; RAMAN SCATTERING; RAMAN SPECTROSCOPY; RAYLEIGH SCATTERING;

MONOCHROMATIC CONTRAST; RAYLEIGH IMAGING; RAYLEIGH SCATTERING MICROSCOPY;

ORGANIC COMPOUNDS;

GRAPHITE; NANOMATERIAL;

ARTICLE; CHEMISTRY; CONFORMATION; MACROMOLECULE; MATERIALS TESTING; METHODOLOGY; MICROSCOPY; NANOTECHNOLOGY; PARTICLE SIZE; REFRACTOMETRY; SURFACE PROPERTY; ULTRASTRUCTURE;

GRAPHITE; MACROMOLECULAR SUBSTANCES; MATERIALS TESTING; MICROSCOPY; MOLECULAR CONFORMATION; NANOSTRUCTURES; NANOTECHNOLOGY; PARTICLE SIZE; REFRACTOMETRY; SURFACE PROPERTIES;

EID: 34948869453     PISSN: 15306984     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/nl071168m     Document Type: Article

References (38)

1. Geim, A. K.; Novoselov, K. S. Nat. Mater. 2007, 6, 183.
2. Novoselov, K. S.; Jiang, D.; Schedin, F.; Booth, T. J.; Khotkevich, V. V.; Morozov, S. V. Proc. Natl. Acad Sci. U.S.A. 2005, 102, 10451.
3. Novoselov, K. S.; Geim, A. K.; Morozov, S. V.; Jiang, D.; Katsnelson, M. I.; Grigorieva, I. V.; Dubonos, S. V.; Firsov, A. A. Nature 2005, 438, 197.
4. Zhang, Y.; Tan, Y. W.; Stormer, H. L.; Kim, P. Nature 2005, 438, 201.
5. Novoselov, K. S.; Geim, A. K.; Morozov, S. V.; Jiang, D.; Zhang, Y.; Dubonos, S. V.; Grigorieva, I. V.; Firsov, A. A. Science 2004, 306, 666.
6. Novoselov, K. S.; McCann, E.; Morozov, S. V.; Falko, V. I.; Katsnelson, M. I.; Zeitler, U.; Jiang, D.; Schedin, F.; Geim, A. K. Nat. Phys. 2006, 2, 177.
7. Han, M. Y.; Ozyilmaz, B.; Zhang, Y.; Kim, P. Phys. Rev. Lett. 2007, 98, 206805, cond-mat/0702511.
8. Lemme, M. C.; Echtermeyer, T. J.; Baus, M.; Kurz, H. IEEE Electron. Device Lett. 2007, 28, 282.
9. Chen, Z.; Lin, Y. M.; Rooks, M. J.; Avouris, P. 2007, cond-mat/0701599.
10. Zhang, Y.; Small, P. J.; Pontius, W. V.; Kim, P. Appl. Phys. Lett. 2005, 86, 073104.
11. Berger, C.; Song, Z.; Li, T.; Li, X.; Ogbazghi, Y.; Feng, R.; Dai, Z.; Marchenkov, A. N.; Conrad, E. H.; First, P. N. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 19912.
12. Bunch, S. J.; Yaish, Y.; Brink, M.; Bolotin, K.; McEuen, P. L. Nano Lett. 2005, 5, 287.
13. Viculis, L. M.; Mack, J. J.; Kaner, R. B. Science 2003, 299, 5611.
14. Viculis, L. M.; Mack, J. J.; Mayer, O. M.; Hahn, H. T.; Kaner, R. B. J. Mater. Chem. 2005, 15, 9.
15. Niyogi, S.; Bekyarova, E.; Itkis, M.E.; McWilliams, J. L.; Hammon, M. A.; Haddon, R. C. J. Am. Chem. Soc. 2006, 128, 1720.
16. Stankovich, S.; Dikin, D. A.; Dommett, G. H. B.; Kohlhass, K. M.; Zimmey, E. J.; Stach, E. A.; Piner, R. D.; Nguyen, S. B. T.; Ruoff, R. S. Nature 2006, 442, 282.
17. Stankovich, S.; Piner, R. D.; Chen, X.; Wu, N.; Nguyen, T.; Ruoff, R. S. J. Mater. Chem. 2006, 16, 155.
18. Forbeaux, I.; Themlin, J. M.; Debever, J. M. Surf. Sci. 1999, 442, 9.
19. Ohta, T.; Bostwick, A.; Seyller, T.; Horn, K.; Rotenberg, E. Science 2006, 313, 951.
20. Rolling, E.; Gweon, G. H.; Zhou, S. Y.; Mun, B. S.; McChesney, J. L.; Hussain, B. S.; Fedorov, A.; First, P. N.; de Heer, W. A.; Lanzara, A. J. Phys. Chem. Solids 2006, 67, 2172.
21. Meyer, J. C.; Geim, A. K.; Katsnelson, M. I.; Novoselov, K. S.; Booth, T. J.; Roth, S. Nature 2007, 446, 60.
22. Ferrari, A. C.; Meyer, J. C.; Scardaci, V.; Casiraghi, C.; Lazzeri, M.; Mauri, F.; Piscanec, S.; Jiang, D.; Novoselov, K. S.; Roth, S.; Geim, A. K. Phys. Rev. Lett. 2006, 97, 187401.
23. Pisana, S.; Lazzeri, M.; Casiraghi, C.; Novoselov, K.; Geim, A. K.; Ferrari, A. C.; Mauri, F. Nat. Mater. 2007, 6, 198.
24. Ignatovich, F. V.; Topham, D.; Novotny, L. IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron. 2006, 12, 1292.
25. Lindfors, K.; Kalkbrenner, T.; Stoller, P.; Sandoghdar, V. Phys. Rev. Lett. 2004, 93, 0374011.
26. Failla, A. V.; Qian, H.; Hartschuh, A.; Meixner, A. J. Nano Lett. 2006, 6, 1374.
27. Sfeir, M. Y.; Beetz, T.; Wang, F.; Huang, L. M.; Huang, X. M. H.; Huang, M. Y.; Hone, J.; O'Brien, S.; Misewich, J. A.; Heinz, T. F.; Wu, L. J.; Zhu, M. Y.; Brus, L. E. Science 2006, 312, 554.
28. Wang, F.; Sfeir, M. Y.; Huang, L.; Huang, X. M. H.; Wu, Y.; Kim, J.; Hone, J.; O'Brien, S.; Brus, L. E.; Heinz, T. F. Phys. Rev. Lett. 2006, 96, 167401.
29. Schultz, S.; Smith, D. R.; Mock, J. J.; Schultz, D. A. Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 2000, 97, 996.
30. Kim, S. W.; Kim, G. H. Appl. Opt. 1999, 38, 5968.
31. Calatroni, J.; Guerrero, A. L.; Sainz, C.; Escalona, R. Opt. Laser Technol. 1996, 28, 485.
32. Born, M.; Wolf, E. Principles of Optics; Pergamon Press: Elmsford, NY, 1959.
33. Bortchagovsky, E. G.; Fischer, U. C. J. Chem. Phys. 2002, 117, 5384.
34. Hecht, E. Optics; Addison-Wesley: Reading, MA, 1998.
35. Ciddor, P. E. Am. J. Phys. 1976, 44, 786.
36. Palik, E. D., Ed. Handbook of Optical Constants of Solids; Academic Press: New York, 1991.
37. Djurisic, A. B.; Li, E. H. J. Appl. Phys. 1999, 85, 7404.
38. Bunch, S. J.; van der Zande, A. M.; Verbridge, S. S.; Frank, I. W.; Tanenbaum, D. M.; Parpia, J. M.; Craighead, H. G.; McEuen, P. L. Science 2007, 315, 490.