Origin of differing reactivities of aliphatic chains on H-Si(111) and oxide surfaces with metal

Journal of Physical Chemistry C

Volumn 111, Issue 26, 2007, Pages 9384-9392

  Hacker, Christina A ^a   Richter, Curt A ^a   Gergel Hackett, Nadine ^a   Richter, Lee J ^a  

^a NATIONAL INSTITUTE OF STANDARDS AND TECHNOLOGY   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ALIPHATIC CHAINS; HYDROSILATION; OXIDE SURFACES;

CHEMICAL REACTIVITY; MOLECULAR ELECTRONICS; MOLECULAR INTERACTIONS; SILICA; VAPOR DEPOSITION; X RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY;

ORGANIC COMPOUNDS;

EID: 34547448177     PISSN: 19327447     EISSN: 19327455     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp072216u     Document Type: Article

References (40)

1. Walker, A. V.; Tighe, T. B.; Cabarcos, O. M.; Reinard, M. D.; Haynie, B. C.; Uppili, S.; Winograd, N.; Allara, D. L. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126 (12), 3954-3963.
2. Richter, C. A.; Hacker, C. A.; Richter, L. J.; Kirillov, O. A.; Suehle, J. S.; Vogel, E. M. Solid-State Electron. 2006, 50 (6), 1088-1096.
3. Tai, Y.; Shaporenko, A.; Eck, W.; Grunze, M.; Zharnikov, M. Appl. Phys. Lett. 2004, 85 (25), 6257-6259.
4. Stewart, D. R.; Ohlberg, D. A. A.; Beck, P. A.; Chen, Y.; Williams, R. S.; Jeppesen, J. O.; Nielsen, K. A.; Stoddart, J. F. Nano Lett. 2004, 4 (1), 133-136.
5. Jung, D. R.; Czanderna, A. W. Crit. Rev. Solid State Mater. Sci. 1994, 19 (1), 1-54.
6. DeIonno, E.; Tseng, H. R.; Harvey, D. D.; Stoddart, J. F.; Heath, J. R. J. Phys. Chem. B 2006, 110 (15), 7609-7612.
7. Chang, S. C.; Li, Z. Y.; Lau, C. N.; Larade, B.; Williams, R. S. Appl. Phys. Lett. 2003, 83 (15), 3198-3200.
8. Tighe, T. B.; Daniel, T. A.; Zhu, Z. H.; Uppili, S.; Winograd, N.; Allara, D. L. J. Phys. Chem. B 2005, 109 (44), 21006-21014.
9. Herdt, G. C.; Czanderna, A. W. J. Vac. Sci. Technol., A 1999, 17 (6), 3415-3418.
10. Jung, D. R.; Czanderna, A. W. Appl. Surf. Sci. 1996, 99 (2), 161-168.
11. Cai, L. T.; Skulason, H.; Kushmerick, J. G.; Pollack, S. K.; Naciri, J.; Shashidhar, R.; Allara, D. L.; Mallouk, T. E.; Mayer, T. S. J. Phys. Chem. B 2004, 108 (9), 2827-2832.
12. Lodha, S.; Janes, D. B. J. Appl. Phys. 2006, 100 (2), 024503-1-024503-8.
13. Metzger, R. M.; Xu, T.; Peterson, I. R. J. Phys. Chem. B 2001, 105 (30), 7280-7290.
14. Haick, H.; Ambrico, M.; Ligonzo, T.; Tung, R. T.; Cahen, D. J. Am. Chem. Soc. 2006, 128 (21), 6854-6869.
15. Hooper, A.; Fisher, G. L.; Konstadinidis, K.; Jung, D.; Nguyen, H.; Opila, R.; Collins, R. W.; Winograd, N.; Allara, D. L. J. Am. Chem. Soc. 1999, 121 (35), 8052-8064.
16. Tai, Y.; Shaporenko, A.; Noda, H.; Grunze, M.; Zharnikov, M. Adv. Mater. 2005, 17 (14), 1745-1749.
17. de Boer, B.; Frank, M. M.; Chabal, Y. J.; Jiang, W. R.; Garfunkel, E.; Bao, Z. Langmuir 2004, 20 (5), 1539-1542.
18. Jung, D. R.; Czanderna, A. W.; Herdt, G. C. J. Vac Sci. Technol., A 1996, 14 (3), 1779-1787.
19. Konstadinidis, K.; Zhang, P.; Opila, R. L.; Allara, D. L. Surf. Sci. 1995, 338 (1-3), 300-312.
20. Walker, A. V.; Tighe, T. B.; Haynie, B. C.; Uppili, S.; Winograd, N.; Allara, D. L. J. Phys. Chem. B 2005, 109 (22), 11263-11272.
21. Richter, C. A.; Hacker, C. A.; Richter, L. J. J. Phys. Chem. B 2005, 109 (46), 21836-21841.
22. Richter, C. A.; Hacker, C. A.; Richter, L. J.; Vogel, E. M. Solid-State Electron. 2004, 48 (10-11), 1747-1752.
23. Hacker, C. A.; Anderson, K. A.; Richter, L. J.; Richter, C. A. Langmuir 2005, 21 (3), 882-889.
24. Herzinger, C. M.; Johs, B.; McGahan, W. A.; Woollam, J. A.; Paulson, W. J. Appl. Phys. 1998, 83 (6), 3323-3336.
25. Brixner, B. J. Opt. Soc. Am. 1965, 55, 1205.
26. Shi, J.; Hong, B.; Parikh, A. N.; Collins, R. W.; Allara, D. L. Chem. Phys. Lett. 1995, 246 (1-2), 90-94.
27. Hofman, S. Rep. Prog. Phys. 1998, 61, 827-888.
28. Macphail, R. A.; Strauss, H. L.; Snyder, R. G.; Elliger, C. A. J. Phys. Chem. 1984, 88 (3), 334-341.
29. Snyder, R. G.; Strauss, H. L.; Elliger, C A. J. Phys. Chem. 1982, 86 (26), 5145-5150.
30. Haber, J. A.; Lewis, N. S. J. Phys. Chem. B 2002, 106 (14), 3639-3656.
31. Bazant, V.; Chvalovsky, V.; Rathousky, J. Organosilicon Sompounds; Academic Press: New York, 1965.
32. Arwin, H.; Aspnes, D. E. Thin Solid Films 1984, 113, 101-113.
33. Yeh, J. J.; Hwang, J.; Bertness, K.; Friedman, D. J.; Cao, R.; Lindau, I. Phys. Rev. Lett. 1993, 70 (24), 3768-3771.
34. O'Shea, J. N.; Phillips, M. A.; Taylor, M. D. R.; Beton, P. H.; Moriarty, P.; Kanai, M.; Dennis, T. J. S.; Dhanak, V. R.; Patel, S.; Poolton, N. J. Chem. Phys. 2003, 119 (24), 13046-13052.
35. Walker, A. V.; Tighe, T. B.; Stapleton, J.; Haynie, B. C.; Upilli, S.; Allara, D. L.; Winograd, N. Appl. Phys. Lett. 2004, 84 (20), 4008-4010.
36. Yukawa, M.; Kitagawa, H.; Iida, S. Appl. Surf. Sci. 2004, 237 (1-4), 156-160.
37. Yamamoto, M.; Sakurai, Y.; Hosoi, Y.; Ishii, H.; Ito, E.; Kajikawa, K.; Ouchi, Y.; Seki, K. Surf. Sci. 1999, 428, 388-392.
38. Palik, E. D. Handbook of Optical Constants of Solids II; Academic Press: New York, 1991.
39. Richter, C. A.; Stewart, D. R.; Ohlberg, D. A. A.; Williams, R. S. Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process. 2005, 80 (6), 1355-1362.
40. Lodha, S.; Carpenter, P.; Janes, D. B. J. Appl. Phys. 2006, 99 (2), 024510.