메뉴 건너뛰기




Volumn 84, Issue 9-10, 2007, Pages 2412-2415

Modeling HfO2/SiO2/Si interface

Author keywords

Ab initio; Band alignment; Disorder; High k; Interface

Indexed keywords

ELECTRONIC STRUCTURE; ENERGY GAP;

EID: 34249041764     PISSN: 01679317     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/j.mee.2007.04.102     Document Type: Article
Times cited : (28)

References (18)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.