-
1
-
-
0034723247
-
-
M.-F. Yu, O. Lourie, M. J. Dyer, K. Moloni, T. F. Kelly, R. S. Ruoff, Sci. 2000, 287, 637.
-
(2000)
Sci.
, vol.287
, pp. 637
-
-
Yu, M.-F.1
Lourie, O.2
Dyer, M.J.3
Moloni, K.4
Kelly, T.F.5
Ruoff, R.S.6
-
2
-
-
0037191823
-
-
N. de Jonge, Y. Lamy, K. Schoots, T. H. Oosterkamp, Nature 2002, 420, 393.
-
(2002)
Nature
, vol.420
, pp. 393
-
-
De Jonge, N.1
Lamy, Y.2
Schoots, K.3
Oosterkamp, T.H.4
-
3
-
-
14944338761
-
-
T. Bret, S. Mauron, I. Utke, P. Hoffmann, Microelectron. Eng. 2005, 78-79, 300.
-
(2005)
Microelectron. Eng.
, vol.78-79
, pp. 300
-
-
Bret, T.1
Mauron, S.2
Utke, I.3
Hoffmann, P.4
-
4
-
-
22944478665
-
-
W. Ding, D. A. Dikin, X. Chen, R. D. Piner, R. S. Ruoff, E. Zussman, X. Wang and X. Li, J. Appl. Phys. 2005, 98, 014905.
-
(2005)
J. Appl. Phys.
, vol.98
, pp. 014905
-
-
Ding, W.1
Dikin, D.A.2
Chen, X.3
Piner, R.D.4
Ruoff, R.S.5
Zussman, E.6
Wang, X.7
Li, X.8
-
5
-
-
29044443037
-
-
T. Brintlinger, M. S. Fuhrer, J. Melngailis, I. Utke, T. Bret, A. Perentes, P. Hoffmann, P. Doppelt, M. Abourida, J. Vac. Sci. Technol. B 2005, 23, 3174.
-
(2005)
J. Vac. Sci. Technol. B
, vol.23
, pp. 3174
-
-
Brintlinger, T.1
Fuhrer, M.S.2
Melngailis, J.3
Utke, I.4
Bret, T.5
Perentes, A.6
Hoffmann, P.7
Doppelt, P.8
Abourida, M.9
-
6
-
-
4344706353
-
-
K. Molhave, D. N. Madsen, S. Dohn, P. Boggild, Nano-technol. 2004, 15, 1047.
-
(2004)
Nano-technol.
, vol.15
, pp. 1047
-
-
Molhave, K.1
Madsen, D.N.2
Dohn, S.3
Boggild, P.4
-
7
-
-
33645525103
-
-
T. D. Yuzvinsky, A. M. Fennimore, W. Mickelson, C. Esquivias, A. Zettl, Appl. Phys. Lett. 2005, 86.
-
(2005)
Appl. Phys. Lett.
, pp. 86
-
-
Yuzvinsky, T.D.1
Fennimore, A.M.2
Mickelson, W.3
Esquivias, C.4
Zettl, A.5
-
8
-
-
0034317713
-
-
I. Utke, P. Hoffmann, B. Dwir, K. Leifer, E. Kapon, P. Doppelt, J. Vac. Sci. Technol. B 2000, 18, 3168.
-
(2000)
J. Vac. Sci. Technol. B
, vol.18
, pp. 3168
-
-
Utke, I.1
Hoffmann, P.2
Dwir, B.3
Leifer, K.4
Kapon, E.5
Doppelt, P.6
-
9
-
-
33645517086
-
-
G. Boero, I. Utke, T. Bret, N. Quack, M. Todorova, S. Mouaziz, P. Kejik, J. Brugger, R. S. Popovic, P. Hoffmann, Appl. Phys. Lett. 2005, 86.
-
(2005)
Appl. Phys. Lett.
, pp. 86
-
-
Boero, G.1
Utke, I.2
Bret, T.3
Quack, N.4
Todorova, M.5
Mouaziz, S.6
Kejik, P.7
Brugger, J.8
Popovic, R.S.9
Hoffmann, P.10
-
10
-
-
0001679513
-
-
H. W. P. Koops, R. Weiel, D. P. Kern, T. H. Baum, J. Vac. Sci. Technol. B 1988, 6, 477.
-
(1988)
J. Vac. Sci. Technol. B
, vol.6
, pp. 477
-
-
Koops, H.W.P.1
Weiel, R.2
Kern, D.P.3
Baum, T.H.4
-
11
-
-
20444468507
-
-
I. Utke, J. Michler, P. Gasser, C. Santschi, D. Laub, M. Cantoni, P. A. Buffat, C. Jiao, P. Hoffmann, Adv. Eng. Mater. 2005, 7, 323.
-
(2005)
Adv. Eng. Mater.
, vol.7
, pp. 323
-
-
Utke, I.1
Michler, J.2
Gasser, P.3
Santschi, C.4
Laub, D.5
Cantoni, M.6
Buffat, P.A.7
Jiao, C.8
Hoffmann, P.9
-
12
-
-
2542499189
-
-
I. Utke, T. Bret, D. Laub, P. Buffat, L. Scandella, P. Hoffmann, Microelectron. Eng. 2004, 73-74, 553.
-
(2004)
Microelectron. Eng.
, vol.73-74
, pp. 553
-
-
Utke, I.1
Bret, T.2
Laub, D.3
Buffat, P.4
Scandella, L.5
Hoffmann, P.6
-
13
-
-
79956056203
-
-
I. Utke, P. Hoffmann, R. Berger, L. Scandella, Appl. Phys. Lett. 2002, 80, 4792.
-
(2002)
Appl. Phys. Lett.
, vol.80
, pp. 4792
-
-
Utke, I.1
Hoffmann, P.2
Berger, R.3
Scandella, L.4
-
14
-
-
9744258802
-
-
T. Bret, I. Utke, C. Gaillard, P. Hoffmann, J. Vac. Sci. Technol. B 2004, 22, 2504.
-
(2004)
J. Vac. Sci. Technol. B
, vol.22
, pp. 2504
-
-
Bret, T.1
Utke, I.2
Gaillard, C.3
Hoffmann, P.4
-
15
-
-
22344437341
-
-
E. Zussman, X. Chen, W. Ding, L. Calabri, D. A. Dikin, J. P. Quintana, R. S. Ruoff, Carbon 2005, 43, 2175.
-
(2005)
Carbon
, vol.43
, pp. 2175
-
-
Zussman, E.1
Chen, X.2
Ding, W.3
Calabri, L.4
Dikin, D.A.5
Quintana, J.P.6
Ruoff, R.S.7
|