메뉴 건너뛰기




Volumn 9, Issue 2, 2006, Pages

Improvement of electrical properties and reliability of (Ba 0.5Sr0.5)TiO3 thin films on Si substrates by N2O prenitridation

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

GRAIN SIZE AND SHAPE; LEAKAGE CURRENTS; NITRIDES; PERMITTIVITY; SEMICONDUCTOR MATERIALS; SILICON; SPUTTER DEPOSITION; SUBSTRATES; TITANIUM OXIDES;

EID: 33645503741     PISSN: 10990062     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1149/1.2139972     Document Type: Article
Times cited : (4)

References (18)
  • 1
    • 0001642112 scopus 로고    scopus 로고
    • K. Eisenberg, J. M. Finder, Z. Yu, J. Ramdani, J. A. Curless, J. A. Hallmark, R. Droopad, W. J. Ooms, L. Salem, S. Bradshaw, and C. D. Overgaard, Appl. Phys. Lett., 76, 1324 (2000).
    • (2000) Appl. Phys. Lett. , vol.76 , pp. 1324
    • Eisenberg, K.1
  • 2
    • 4244101024 scopus 로고    scopus 로고
    • R. A. McKee, F. J. Walker, and M. F. Chisholm, Phys. Rev. Lett., 81, 3014 (1998).
    • (1998) Phys. Rev. Lett. , vol.81 , pp. 3014
    • McKee, R.A.1
  • 3
    • 79955998846 scopus 로고    scopus 로고
    • A. H. Mueller, N. A. Suvorova, E. A. Irene, O. Auciello, and J. A. Schultz. Appl. Phys. Lett., 80, 3796 (2002).
    • (2002) Appl. Phys. Lett. , vol.80 , pp. 3796
    • Mueller, A.H.1
  • 4
    • 36449009699 scopus 로고
    • C. S. Hwang, S. O. Park, H. J. Cho, C. S. Kang, H. K. Kang, S. I. Lee, and M. Y. Lee, Appl. Phys. Lett., 67, 2819 (1995).
    • (1995) Appl. Phys. Lett. , vol.67 , pp. 2819
    • Hwang, C.S.1
  • 5
    • 0037475078 scopus 로고    scopus 로고
    • S. J. Lee, S. E. Moon, H. C. R, M. H. Kwak, Y. T. Kim, and S. K. Han. Appl. Phys. Lett., 82, 2133 (2003).
    • (2003) Appl. Phys. Lett. , vol.82 , pp. 2133
    • Lee, S.J.1
  • 7
    • 0035872897 scopus 로고    scopus 로고
    • G. D. Wilk, R. M. Wallace, and J. M. Anthony. J. Appl. Phys., 85, 5243 (2001).
    • (2001) J. Appl. Phys. , vol.85 , pp. 5243
    • Wilk, G.D.1
  • 8
    • 0037392678 scopus 로고    scopus 로고
    • A. H. Mueller, N. A. Suvorova, E. A. Irene, O. Auciello, and J. A. Schultz, J. Appl. Phys., 93, 3866 (2003).
    • (2003) J. Appl. Phys. , vol.93 , pp. 3866
    • Mueller, A.H.1
  • 9
    • 79956030489 scopus 로고    scopus 로고
    • C. S. Kang, H.-J. Cho, K. Onishi, R. Nieh, R. Choi, S. Gopalan, S. Krishnan, J. H. Han, and J. C. Lee, Appl. Phys. Lett., 81, 2593 (2002).
    • (2002) Appl. Phys. Lett. , vol.81 , pp. 2593
    • Kang, C.S.1
  • 10
    • 0036537255 scopus 로고    scopus 로고
    • P. D. Kirsch, C. S. Kang, J. Lozano, J. C. Lee, and J. G. Ekerdt, J. Appl. Phys., 91, 4353 (2002).
    • (2002) J. Appl. Phys. , vol.91 , pp. 4353
    • Kirsch, P.D.1
  • 11
    • 0037011493 scopus 로고    scopus 로고
    • C. Y. Liu, H. T. Lue, and T. Y. Tseng, Appl. Phys. Lett., 81, 4416 (2002).
    • (2002) Appl. Phys. Lett. , vol.81 , pp. 4416
    • Liu, C.Y.1
  • 17
    • 0141886926 scopus 로고    scopus 로고
    • C. McGuinness, D. Fu, J. E. Downes, and K. E. Smith. J. Appl. Phys., 94, 3919 (2003).
    • (2003) J. Appl. Phys. , vol.94 , pp. 3919
    • McGuinness, C.1


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.