Strain and its effect on optical properties of Al-N codoped ZnO films

Journal of Applied Physics

Volumn 99, Issue 2, 2006, Pages

  He, H P ^a   Zhuge, F ^a   Ye, Z Z ^a   Zhu, L P ^a   Wang, F Z ^a   Zhao, B H ^a   Huang, J Y ^a  

^a ZHEJIANG UNIVERSITY   (China)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CODOPED FILMS; CRYSTAL QUALITY; OPTICAL BAND GAP; ZNO FILMS;

COMPRESSIVE STRENGTH; DOPING (ADDITIVES); ENERGY GAP; METALLIC FILMS; ZINC OXIDE;

STRAIN;

EID: 31644432535     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2161419     Document Type: Article

References (32)

1. Z. K. Tang, G. K. L. Wong, P. Yu, M. Kawasaki, A. Ohtomo, H. Koinuma, and Y. Segawa, Appl. Phys. Lett. 72, 3270 (1998).
2. D. M. Bagnall, Y. F. Chen, Z. Zhu, T. Tao, S. Koyama, M. Y. Shen, and T. Goto, Appl. Phys. Lett. 70, 2230 (1997).
3. D. C. Look, C. Coskun, B. Claflin, and G. C. Farlow, Physica B 340, 32 (2003).
4. D. C. Look, D. C. Reynolds, C. W. Litton, R. L. Jones, D. B. Eason, and G. Cantwell, Appl. Phys. Lett. 81, 1830 (2002).
5. J. G. Lv, Z. Z. Ye, F. Zhuge, Y. J. Zeng, B. H. Zhao, and L. P. Zhu, Appl. Phys. Lett. 85, 3134 (2004).
6. A. Tsukazaki, A. Ohtomo, T. Onuma, M. Ohtani, T. Makino, M. Sumiya, K. Ohtani, S. F. Chichibu, S. Fuke, Y. Segawa, H. Ohno, H. Koinuma, and M. Kawasaki, Nat. Mater. 4, 42 (2005).
7. C. C. Lin, S. Y. Chen, S. Y. Cheng, and H. Y. Lee, Appl. Phys. Lett. 84, 5040 (2004).
8. T. Aoki, Y. Hatanaka, and D. C. Look, Appl. Phys. Lett. 76, 3257 (2000).
9. K. K. Kim, S. H. Kim, D. H. Hwang, J. H. Lim, and S. J. Park, Appl. Phys. Lett. 83, 63 (2003).
10. Y. R. Ryu, T. S. Lee, and H. W. White, Appl. Phys. Lett. 83, 87 (2003).
11. D. C. Look, G. M. Renlund, R. H. Burgener, and J. R. Sizelove, Appl. Phys. Lett. 85, 5269 (2004).
12. T. Yamamoto, Thin Solid Films 420, 100 (2002).
13. F. Zhuge, Z. Z. Ye, L. P. Zhu, J. G. Lv, B. H. Zhao, J. Y. Huang, Z. H. Zhang, L. Wang, and Z. G. Ji, J. Cryst. Growth 268, 163 (2004).
14. Z. Z. Ye, F. Zhuge, J. G. Lv, Z. H. Zhang, L. P. Zhu, B. H. Zhao, and J. Y. Huang, J. Cryst. Growth 265, 127 (2004).
15. G. D. Yuan, Z. Z. Ye, L. P. Zhu, Q. Qian, B. H. Zhao, R. X. Fan, C. L. Perkins, and S. B. Zhang, Appl. Phys. Lett. 86, 202106 (2005).
16. N. Ashkenov, B. N. Mbenkum, C. Bundesmann, V. Riede, M. Lorenz, D. Spemann, E. M. Kaidashev, A. Kasic, M. Schubert, M. Grundmann, G. Wagner, H. Neumann, V. Darakchieva, H. Arwin, and B. Monemar, J. Appl. Phys. 93, 126 (2003).
17. A. Fouchet, W. Prellier, B. Mercey, L. Ḿchin, V. N. Kulkarni, and T. Venkatesan, J. Appl. Phys. 96, 3229 (2004).
18. H. C. Ong, A. X. E. Zhu, and G. T. Du, Appl. Phys. Lett. 80, 941 (2002).
19. T. Tamura, G. H. Lu, R. Yamamoto, and M. Kohyama, Phys. Rev. B 69, 195204 (2004).
20. R. Ghosh, D. Basak, and S. Fujihara, J. Appl. Phys. 96, 2689 (2004).
21. J. Bak-Misiuk, A. Misiuk, K. S. Zhuravlev, J. Z. Domagala, J. Adamczewska, and V. V. Preobrazhenskii, Physica B 308, 820 (2001).
22. W. Li and M. Pessa, Phys. Rev. B 57, 57 (1998).
23. E. C. Lee, Y. S. Kim, Y. G. Jin, and K. J. Chang, Phys. Rev. B 64, 085120 (2001).
24. K. K. Kim, S. Niki, J. Y. Oh, J. O. Song, T. Y. Seong, S. J. Park, S. Fujita, and S. W. Kim, J. Appl. Phys. 97, 066103 (2005).
25. X. N. Li, B. Keyes, S. Asher, S. B. Zhang, S. H. Wei, T. J. Coutts, S. Limpijumnong, C. G. Van der Walle, Appl. Phys. Lett. 86, 122107 (2005).
26. J. Cho, J. Nah, M. S. Oh, J. H. Song, K. H. Yoon, H. J. Jung, and W. K. Choi, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 40, L1040 (2001).
27. D. G. Zhao, S. J. Xu, M. H. Xie, S. Y. Tong, and H. Yang, Appl. Phys. Lett. 83, 677 (2003).
28. N. Ueda, H. Maeda, H. Hosono, and H. Kawazoe, J. Appl. Phys. 84, 6174 (1998).
29. R. W. Martin, P. G. Middleton, K. P. O'Donnell, and W. Van der Stricht, Appl. Phys. Lett. 74, 263 (1999).
30. X. Li, Y. Yan, T. A. Gessert, C. L. Perkins, D. Young, C. DeHart, M. Young, and T. J. Coutts, J. Vac. Sci. Technol. A 21, 1342 (2003).
31. N. Y. Garces, N. C. Giles, L. E. Halliburton, G. Cantwell, D. B. Eason, D. C. Reynolds, and D. C. Look, Appl. Phys. Lett. 80, 1334 (2002).
32. M. Gabás, S. Gota, J. R. Ramos-Barrado, M. Sánchez, N. T. Barrett, J. Avila, and M. Sacchi, Appl. Phys. Lett. 86, 042104 (2005).