Polarization-dependent measurement of the near-field distribution of a waveguide with subwavelength aperture

Journal of Applied Physics

Volumn 99, Issue 1, 2006, Pages

  Ctistis, G ^a   Schimek, O ^a   Fumagalli, P ^a   Paggel, J J ^a,b  

^a FREIE UNIVERSITÄT BERLIN   (Germany)

^b SIEMENS AG   (Germany)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

NEAR-FIELD DISTRIBUTION; SUBWAVELENGTH APERTURE;

DIODES; MAPPING; MICROWAVES; NEAR FIELD SCANNING OPTICAL MICROSCOPY; OPTICAL WAVEGUIDES;

LIGHT POLARIZATION;

EID: 30844452917     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2160717     Document Type: Article

References (49)

1. D. W. Pohl, W. Denk, and M. Lanz, Appl. Phys. Lett. 44, 651 (1984).
2. E. A. Ash and G. Nichols, Nature (London) 237, 510 (1972).
3. F. Albiol, S. Navas, and M. V. Andres, Am. J. Phys. 61, 165 (1993).
4. T. Wei, X.-D. Xiang, W. G. Wallace-Freedman, and P. G. Schultz, Appl. Phys. Lett. 68, 3506 (1996).
5. C. P. Vlahacos, R. C. Black, S. M. Anlage, A. Amar, and F. C. Wellstood, Appl. Phys. Lett. 69, 3272 (1996).
6. A. Imtiaz, M. Pollak, S. M. Anlage, J. D. Barry, and J. Melngailis, J. Appl. Phys. 97, 044302 (2005).
7. H. Muramatsu, K. Homma, N. Yamamoto, J. Wang, K. Sakata-Sogawa, and N. Shimamoto, Mater. Sci. Eng., C 12, 29 (2000).
8. W. H. J. Rensen, N. F. van Hulst, and S. B. Kämmer, Appl. Phys. Lett. 77, 1557 (2000).
9. T. Yoshino, Ultramicroscopy 97, 81 (2003).
10. M. Antagnozzi, M. D. Szczelkun, A. D. L. Humphris, and M. J. Miles, Appl. Phys. Lett. 82, 2761 (2003).
11. V. Emiliani, F. Intoni, Ch. Lienau, and T. Elsaesser, Phys. Rev. B 64, 155316 (2001).
12. Y. Kanemitsu, T. J. Inagaki, M. Ando, K. Matsuda, T. Saiki, and C. W. White, Appl. Phys. Lett. 81, 141 (2002).
13. J. M. Kim, T. Ohtani, and H. Muramatsu, Surf. Sci. 549, 273 (2004).
14. J. M. Gerton, L. A. Wade, G. A. Lessard, Z. Ma, and S. R. Quake, Phys. Rev. Lett. 93, 180801 (2004).
15. T. J. Silva, S. Schultz, and D. Weller, Appl. Phys. Lett. 65, 658 (1994).
16. G. Eggers, A. Rosenberger, N. Held, and P. Fumagalli, Surf. Interface Anal. 25, 438 (1997).
17. G. Eggers, A. Rosenberger, N. Held, A. Münnemann, G. Güntherodt, and P. Fumagalli, Ultramicroscopy 71, 249 (1998).
18. G. Meyer, T. Crecelius, A. Bauer, I. Mauch, and G. Kaindl, Appl. Phys. Lett. 83, 1394 (2003).
19. I. I. Smolyaninov, A. V. Zayats, and Ch. C. Davis, Phys. Rev. B 56, 9290 (1997).
20. B. A. Nechay, U. Siegner, M. Achermann, H. Bielefeldt, and U. Keller, Rev. Sci. Instrum. 70, 2758 (1999).
21. A. V. Zayats and V. Sandoghdar, Opt. Commun. 178, 245 (2000).
22. D. Wegener, U. Conrad, J. Güdde, G. Meyer, T. Crecelius, and A. Bauer, J. Appl. Phys. 88, 2166 (2000).
23. I. I. Smolyaninov, H. Y. Liang, C. H. Lee, and C. C. Davis, J. Appl. Phys. 89, 206 (2001).
24. V. Emiliani, T. Guenther, C. Lienau, R. Nötzel, and K. H. Ploog, J. Microsc. 202, 229 (2001).
25. W. Dickinson, S. Takahashi, D. McHugh, R. Atkinson, R. Pollard, and A. V. Zayats, J. Appl. Phys. 97, 033505 (2005).
26. B. Hecht, B. Sick, U. P. Wild, V. Deckert, R. Zenobi, O. J. F. Martin, and D. Pohl, J. Chem. Phys. 112, 7761 (2000).
27. Y. Inouye, Top. Appl. Phys. 81, 29 (2001).
28. C. L. Andrews, Phys. Rev. 71, 777 (1947).
29. C. L. Andrews, J. Appl. Phys. 21, 761 (1950).
30. M. J. Ehrlich, S. Silver, and G. Held, J. Appl. Phys. 26, 336 (1955).
31. E. Betzig and R. J. Chichester, Science 262, 1422 (1993).
32. G. Kolb, K. Karrai, and G. Abstreiter, Appl. Phys. Lett. 65, 3090 (1994).
33. C. Obermüller, K. Karrai, G. Kolb, and G. Abstreiter, Ultramicroscopy 61, 171 (1995).
34. C. Obermüller and K. Karrai, Appl. Phys. Lett. 67, 3408 (1995).
35. A. Sommerfeld, Ann. Phys. (Paris) 44, 12 (1914).
36. J. A. Stratton and L. J. Chu, Phys. Rev. 56, 99 (1939).
37. H. A. Bethe, Phys. Rev. 66, 163 (1944).
38. H. Levine and J. Schwinger, Phys. Rev. 74, 958 (1948).
39. C. J. Bouwkamp, Philips Res. Rep. 5, 321 (1950).
40. C. J. Bouwkamp, Rep. Prog. Phys. 17, 35 (1954).
41. U. Dürig, D. W. Pohl, and F. Rohner, J. Appl. Phys. 59, 3318 (1986).
42. C. Girard and A. Dereux, Rep. Prog. Phys. 59, 657 (1996).
43. O. J. F. Martin, J. Microsc. 194, 235 (1999).
44. C. Girard, C. Joachim, and S. Gauthier, Rep. Prog. Phys. 63, 893 (2000).
45. G. Ĺv̂que, G. Colas des Francs, C. Girard, J. C. Weeber, C. Meier, C. Robilliard, R. Mathevet, and J. Weiner, Phys. Rev. E 65, 036701 (2002).
46. O. J. F. Martin and M. Paulus, J. Microsc. 205, 147 (2002).
47. A. Bouhelier, J. Renger, M. R. Beversluis, and L. Novotny, J. Microsc. 210, 220 (2003).
48. L. Vaccaro, L. Aeschimann, U. Staufer, H. P. Herzig, and R. Dändliker, Appl. Phys. Lett. 83, 584 (2003).
49. A. Castiaux, A. Dereux, J.-P. Vigneron, C. Girard, and O. J. F. Martin, Ultramicroscopy 60, 1 (1995).