Optical absorption properties of Mg-doped GaN nanocolumns

Journal of Applied Physics

Volumn 98, Issue 10, 2005, Pages

  Iwanaga, Takeshi ^a,b   Suzuki, Toshihiko ^b   Yagi, Shigeru ^b   Motooka, Teruaki ^a  

^a KYUSHU UNIVERSITY   (Japan)

^b FUJI XEROX CO LTD   (Japan)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

DIELECTRIC FUNCTIONS; NANOCOLUMNS;

CATHODOLUMINESCENCE; DOPING (ADDITIVES); GALLIUM NITRIDE; NANOSTRUCTURED MATERIALS; OPTICAL PROPERTIES; PERMITTIVITY; POLARIZATION; THIN FILMS;

MAGNESIUM PRINTING PLATES;

EID: 28744444742     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2133900     Document Type: Article

References (22)

1. G. Y. Xu, A. Salvador, W. Kim, Z. Fan, C. Lu, H. Tang, H. Moco̧, G. Smith, M. Estes, B. Goldenberg, W. Yang, and S. Krishnankutty, Appl. Phys. Lett. 71, 2154 (1997).
2. E. Monroy, F. Calle, E. Muñoz F. Omǹs, P. Gibart, and J. A. Muñoz, Appl. Phys. Lett. 73, 2146 (1998).
3. A. Osinsky, S. Gangopadhyay, R. Gaska, B. Williams, M. A. Khan, D. Kuksenkov, and H. Temkin, Appl. Phys. Lett. 71, 2334 (1997).
4. A. Osinsky, S. Gangopadhyay, J. W. Yang, R. Gaska, D. Kuksenkov, H. Temkin, I. K. Shmagin, Y. C. Chang, J. F. Muth, and R. M. Kolbas, Appl. Phys. Lett. 72, 551 (1998).
5. S. Yagi, Appl. Phys. Lett. 76, 345 (2000).
6. S. Yagi and S. Suzuki, Appl. Phys. Lett. 78, 2166 (2001).
7. S. Yagi, T. Iwanaga, H. Kojima, Y. Shoji, S. Suzuki, K. Seno, H. Mori, Y. Tokura, M. Takigawa, and S. Moriwaki, Photochem. Photobiol. 76, 669 (2002).
8. T. Iwanaga, T. Suzuki, S. Yagi, and T. Motooka, Appl. Phys. Lett. 86, 263102 (2005).
9. See, e.g., R. M. A. Azzam and N. M. Bashara, Ellipsometry and Polarized Light (North Holland, Amsterdam, 1984), p. 317.
10. S. Shokhovets, R. Goldhahn, G. Gobsch, S. Piekh, R. Lantier, A. Rizzi, V. Lebedev, and W. Richter, J. Appl. Phys. 94, 307 (2003).
11. M. J. Bergmann, Ü. Özgür, H. C. Casey, Jr., H. O. Everitt, and J. F. Muth, Appl. Phys. Lett. 75, 67 (1999).
12. T. Kawashima, H. Yoshikawa, S. Adachi, S. Fuke, and K. Ohtsuka, J. Appl. Phys. 82, 3528 (1997).
13. G. Yu, G. Wang, H. Ishikawa, M. Umeno, T. Soga, T. Egawa, J. Watanabe, and T. Jimbo, Appl. Phys. Lett. 70, 3209 (1997).
14. T. Motooka, J. Opt. Soc. Am. 71, 884 (1981).
15. E. F. Schubert, I. D. Goepfert, and J. M. Redwing, Appl. Phys. Lett. 71, 3224 (1997).
16. J. Neugebauer and C. G. Van de Walle, Appl. Phys. Lett. 69, 503 (1996).
17. U. Kaufmann, M. Kunzer, M. Maier, H. Obloh, A. Ramakrishnan, B. Santic, and P. Schlotter, Appl. Phys. Lett. 72, 1326 (1998).
18. H. Alves, M. Böhm, A. Hofstaetter, H. Amano, S. Einfeldt, D. Hommel, D. M. Hofmann, and B. K. Meyer, Physica B 308-310, 38 (2001).
19. D. M. Hofmann, W. Burkhardt, F. Leiter, W. von Förster, H. Alves, A. Hofstaetter, B. K. Meyer, N. G. Romanov, H. Amano, and I. Akasaki, Physica B 273-274, 43 (1999).
20. B. K. Meyer, D. M. Hofmann, F. H. Leiter, D. Meister, M. Topf, H. Alves, and N. Romanov, Mater. Sci. Eng., B 82, 77 (2001).
21. J. A. Osborn, Phys. Rev. 67, 351 (1945).
22. T. Yamaguchi, S. Yoshida, and A. Kinbara, Thin Solid Films 18, 63 (1973).