Role of near-surface states in ohmic-Schottky conversion of Au contacts to ZnO

Applied Physics Letters

Volumn 87, Issue 1, 2005, Pages

  Mosbacker, H L ^a,b   Strzhemechny, Y M ^a   White, B D ^a   Smith, P E ^b   Look, D C ^c,d   Reynolds, D C ^c   Litton, C W ^c   Brillson, L J ^a,b  

^a Ohio State University   (United States)

^b OHIO STATE UNIVERSITY   (United States)

^c AIR FORCE RESEARCH LABORATORY   (United States)

^d WRIGHT STATE UNIVERSITY   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

HOPPING TRANSPORT; NEAR-SURFACE DONOR DENSITY; OHMIC-SCHOTTKY CONVERSIONS; OXYGEN PLASMA TREATMENTS;

CATHODOLUMINESCENCE; DEFECTS; GOLD; HYDROGEN; OHMIC CONTACTS; OXYGEN; PHOTOEMISSION; X RAY ANALYSIS;

ZINC OXIDE;

EID: 24144453586     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1984089     Document Type: Article

References (25)

1. S. J. Pearton, D. P. Norton, K. Ip, Y. W. Heo, and T. Steiner, Prog. Mater. Sci. 50, 293 (2005), and references therein.
2. S. Liang, H. Sheng, Y. Liu, Z. Huo, Y. Lu, and H. Shen, J. Cryst. Growth 225, 110 (2000).
3. A. Salomon, D. Berkovich, and D. Cahen, Appl. Phys. Lett. 82, 1051 (2003).
4. W. I. Park, G.-C. Yi, J.-W. Kim, and S. M. Park, Appl. Phys. Lett. 82, 4358 (2003).
5. H. von Wenckstern, E. M. Kaidashev, M. Lorenz, H. Hochmuth, G. Biehne, J. Lenzner, V. Gottschalch, R. Pickenhain, and M. Grundmann, Appl. Phys. Lett. 84, 79 (2004).
6. K. Keem, H. Kim, G.-T. Kim, J. S. Lee, B. Min, K. Cho, M.-Y. Sung, and S. Kim, Appl. Phys. Lett. 84, 4376 (2004).
7. S. Kim, B. S. Kang, F. Ren, K. Ip, Y. W. Heo, D. P. Norton, and S. J. Pearton, Appl. Phys. Lett. 84, 1698 (2004).
8. K. Ip, Y. W. Heo, K. H. Baik, D. P. Norton, S. J. Pearton, S. Kim, J. R. LaRoche, and F. Ren, Appl. Phys. Lett. 84, 2835 (2004).
9. K. Ip, B. P. Gila, A. H. Onstine, E. S. Lambers, Y. W. Heo, K. H. Baik, D. P. Norton, and S. J. Pearton, Appl. Phys. Lett. 84, 5133 (2004).
10. H. Sheng, S. Muthukumar, N. W. Emanetoglu, and Y. Lu, Appl. Phys. Lett. 80, 2132 (2002).
11. B. J. Coppa, R. F. Davis, and R. J. Nemanich, Appl. Phys. Lett. 0003-6951 10.1063/1.1536264 82, 400 (2003); B. J. Coppa, C. C. Fulton, P. J. Hartlieb, R. F. Davis, B. J. Rodriguez, B. J. Shields, and R. J. Nemanich, J. Appl. Phys. 95, 5856 (2004).
12. B. J. Coppa, R. F. Davis, and R. J. Nemanich, Appl. Phys. Lett. 0003-6951 10.1063/1.1536264 82, 400 (2003); B. J. Coppa, C. C. Fulton, P. J. Hartlieb, R. F. Davis, B. J. Rodriguez, B. J. Shields, and R. J. Nemanich, J. Appl. Phys. 95, 5856 (2004).
13. S.-H. Kim, H.-K. Kim, and T.-Y. Seong, Appl. Phys. Lett. 86, 112101 (2005).
14. H.-K. Kim, K.-K. Kim, A.-J. Park, T.-Y. Seong, and I. Adesida, J. Appl. Phys. 94, 4225 (2003).
15. Y. Shapira, C. F. Brucker, and L. J. Brillson, Thin Solid Films 0040-6090 10.1016/0040-6090(86)90127-6 135, 203 (1986); L. J. Brillson, T. M. Levin, G. H. Jessen, and F. A. Ponce, Appl. Phys. Lett. 0003-6951 10.1063/1.125472 75, 3835 (1999); S. Tumakha, S. H. Goss, L. J. Brillson, and R. S. Okojie, J. Vac. Sci. Technol. B 23, 594 (2005).
16. Y. Shapira, C. F. Brucker, and L. J. Brillson, Thin Solid Films 0040-6090 10.1016/0040-6090(86)90127-6 135, 203 (1986); L. J. Brillson, T. M. Levin, G. H. Jessen, and F. A. Ponce, Appl. Phys. Lett. 0003-6951 10.1063/1.125472 75, 3835 (1999); S. Tumakha, S. H. Goss, L. J. Brillson, and R. S. Okojie, J. Vac. Sci. Technol. B 23, 594 (2005).
17. Y. Shapira, C. F. Brucker, and L. J. Brillson, Thin Solid Films 0040-6090 10.1016/0040-6090(86)90127-6 135, 203 (1986); L. J. Brillson, T. M. Levin, G. H. Jessen, and F. A. Ponce, Appl. Phys. Lett. 0003-6951 10.1063/1.125472 75, 3835 (1999); S. Tumakha, S. H. Goss, L. J. Brillson, and R. S. Okojie, J. Vac. Sci. Technol. B 23, 594 (2005).
18. F. H. Leiter, H. R. Alves, A. Hofstaetter, D. M. Hofmann, and B. K. Meyer, Phys. Status Solidi B 0370-1972 10.1002/1521-3951(200107)226:1
19. F. H. Leiter, H. R. Alves, A. Hofstaetter, D. M. Hofmann, and B. K. Meyer, Phys. Status Solidi B 0370-1972 10.1002/1521-3951(200107)226:1
20. F. H. Leiter, H. R. Alves, A. Hofstaetter, D. M. Hofmann, and B. K. Meyer, Phys. Status Solidi B 0370-1972 10.1002/1521-3951(200107)226:1
21. A. V. Rodina, M. Strassburg, M. Dworzak, U. Haboeck, A. Hoffmann, A. Zeuner, H. R. Alves, D. M. Hofmann, and B. K. Meyer, Phys. Rev. B 69, 125206 (2004).
22. Y. M. Strzhemechny, H. L. Mosbacker, D. C. Look, D. C. Reynolds, C. W. Litton, N. Y. Garces, N. C. Giles, L. E. Halliburton, S. Niki, and L. J. Brillson, Appl. Phys. Lett. 84, 2545 (2004).
23. C. G. Van de Walle, Phys. Rev. Lett. 85 1012 (2000);
24. C. G. Van de Walle, Physica B 308, 899 (2001);
25. C. G. Van de Walle, Phys. Status Solidi B 229, 221 (2002).