Effect of thermal annealing of Ni/Au ohmic contact on the leakage current of GaN based light emitting diodes

Applied Physics Letters

Volumn 83, Issue 12, 2003, Pages 2447-2449

  Hsu, Chin Yuan ^a   Lan, Wen How ^b   Wu, YewChung Sermon ^a  

^a NATIONAL CHIAO TUNG UNIVERSITY   (Taiwan)

^b NATIONAL UNIVERSITY OF KAOHSIUNG   (Taiwan)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ANNEALING; GALLIUM NITRIDE; LEAKAGE CURRENTS; OHMIC CONTACTS; TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY; X RAY SPECTROMETERS;

THREADING DISLOCATION;

LIGHT EMITTING DIODES;

EID: 0142090035     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1601306     Document Type: Article

References (18)

1. J. S. Foresi and T. D. Moustakas, Appl. Phys. Lett. 62, 2859 (1993).
2. M. E. Lin, Z. Ma, F. Y. Huang, Z. F. Fan, L. H. Allen, and H. Morkoc, Appl. Phys. Lett. 64, 1003 (1994).
3. Z. Fan, S. Mohammad, and W. Kim, Appl. Phys. Lett. 68, 1672 (1996).
4. J. K. Ho, C. S. long, C. C. Chiu, C. N. Huang, and K. K. Shih, Appl. Phys. Lett. 74, 1275 (1999).
5. J. K. Kim, J. L. Lee, J. W. Lee, H. E. Shin, Y. J. Park, and T. Kim, Appl. Phys. Lett. 73, 2953 (1998).
6. J. S. Jang, K. H. Park, H. K. Jang, H. G. Kim, and S. J. Park, J. Vac. Sci. Technol. B 16, 3105 (1998).
7. C. F. Chu, C. C. Yu, Y. K. Wang, J. Y. Tsai, F. I. Lai, and S. C. Wang, Appl. Phys. Lett. 77, 3423 (2000).
8. S. Nakamura, M. Senoh, and T Mukai, Appl. Phys. Lett. 62, 2390 (1993).
9. Q. Z. Liu and S. S. Lau, Solid-State Electron. 42, 677 (1998).
10. M. E. Lin, Z. Ma, F. Y. Huang, Z. F. Fan, L. H. Allen, and H. Morkoc, Appl. Phys. Lett. 64, 1003 (1994).
11. S. J. Rosner, E. C. Carr, M. J. Ludowise, G. Girolami, and H. I. Erikson, Appl. Phys. Lett. 70, 420 (1997).
12. T. Sugahara, H. Sato, M. Hao, Y. Naoi, S. Kurai, S. Tottori, K. Yamashita, K. Nishino, L. T. Romano, and S. Sakai, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 37, L398 (1998).
13. C. Sasaoka, H. Sunakawa, A. Kimura, M. Nido, and A. Usui, J. Cryst. Growth 189/190, 61 (1998).
14. A. Osinsky, S. Gangopadhyay, R. Gaska, B. Williams, M. A. Khan, D. Kuksenkov, and H. Temkin, Appl. Phys. Lett. 71, 2334 (1997).
15. S. NaKamura, J. Cryst. Growth 201/202, 290 (1999).
16. P. Kozodoy, J. P. Ibbetson, H. Marchand, P. T. Fini, S. Keller, J. S. Speck, S. P. DenBaars, and U. K. Mishra, Appl. Phys. Lett. 73, 975 (1998).
17. J. K. Sheu, Y. K. Su, G. C. Chi, W. C. Chen, C. Y. Chen, C. N. Huang, J. M. Hong, Y. C. Yu, C. W. Wang, and E. K. Lin, J. Appl. Phys. 83, 3172 (1998).
18. J. W. P. Hsu, M. J. Manfra, D. V. Lang, S. Richter, S. N. G. Chu, A. M. Sergent, R. N. Kleiman, L. N. Pfeiffer, and R. J. Molnar, Appl. Phys. Lett. 78, 1685 (2001).