High-quality AllnN for high index contrast Bragg mirrors lattice matched to GaN

Applied Physics Letters

Volumn 83, Issue 4, 2003, Pages 668-670

  Carlin, J F ^a   Ilegems, M ^a  

^a EPFL   (Switzerland)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

GALLIUM NITRIDE; METALLORGANIC VAPOR PHASE EPITAXY; MIRRORS; REFRACTIVE INDEX; SAPPHIRE;

BRAGG MIRRORS;

SEMICONDUCTING ALUMINUM COMPOUNDS;

EID: 0041511972     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1596733     Document Type: Article

References (15)

1. T. Asano, K. Yanashima, T. Asatsuma, T. Hino, T. Yamaguchi, S. Tomiya, K. Funato, T. Kobayashi, and M. Ikeda, Phys. Status Solidi A 176, 23 (1999).
2. T. Someya and Y. Arakawa, Appl. Phys. Lett. 73, 3653 (1998); R. Langer, A. Barski, J. Simon, N. T. Pelekanos, O. Konovalov, R. Andre, and L. S. Dang, ibid. 74, 3610 (1999); K. E. Waldrip, J. Han, J. J. Figiel, H. Zhou, E. Makarona, and A. V. Nurmikko, ibid. 78, 3205 (2001).
3. T. Someya and Y. Arakawa, Appl. Phys. Lett. 73, 3653 (1998); R. Langer, A. Barski, J. Simon, N. T. Pelekanos, O. Konovalov, R. Andre, and L. S. Dang, ibid. 74, 3610 (1999); K. E. Waldrip, J. Han, J. J. Figiel, H. Zhou, E. Makarona, and A. V. Nurmikko, ibid. 78, 3205 (2001).
4. T. Someya and Y. Arakawa, Appl. Phys. Lett. 73, 3653 (1998); R. Langer, A. Barski, J. Simon, N. T. Pelekanos, O. Konovalov, R. Andre, and L. S. Dang, ibid. 74, 3610 (1999); K. E. Waldrip, J. Han, J. J. Figiel, H. Zhou, E. Makarona, and A. V. Nurmikko, ibid. 78, 3205 (2001).
5. N. Nakada, H. Ishikawa, T. Egawa, T. Jimbo, and M. Umeno, J. Cryst. Growth 237, 961 (2002).
6. F. Natali, D. Byrne, A. Dussaigne, N. Grandjean, J. Massies, and B. Damilano, Appl. Phys. Lett. 82, 499 (2003).
7. N. Nakada, M. Nakaji, H. Ishikawa, T. Egawa, M. Umeno, and T. Jimbo, Appl. Phys. Lett. 76, 1804 (2000); M. Diagne, Y. He, H. Zhou, E. Makarona, A. V. Nurmikko, J. Han, K. E. Waldrip, J. J. Figiel, T. Takeuchi, and M. Krames, ibid. 79, 3720 (2001); S. Fernandez, F. B. Naranjo, F. Calle, M. A. Sanchez-Garcia, E. Calleja, and P. Vennegues, Phys. Status Solidi A 192, 389 (2002).
8. N. Nakada, M. Nakaji, H. Ishikawa, T. Egawa, M. Umeno, and T. Jimbo, Appl. Phys. Lett. 76, 1804 (2000); M. Diagne, Y. He, H. Zhou, E. Makarona, A. V. Nurmikko, J. Han, K. E. Waldrip, J. J. Figiel, T. Takeuchi, and M. Krames, ibid. 79, 3720 (2001); S. Fernandez, F. B. Naranjo, F. Calle, M. A. Sanchez-Garcia, E. Calleja, and P. Vennegues, Phys. Status Solidi A 192, 389 (2002).
9. N. Nakada, M. Nakaji, H. Ishikawa, T. Egawa, M. Umeno, and T. Jimbo, Appl. Phys. Lett. 76, 1804 (2000); M. Diagne, Y. He, H. Zhou, E. Makarona, A. V. Nurmikko, J. Han, K. E. Waldrip, J. J. Figiel, T. Takeuchi, and M. Krames, ibid. 79, 3720 (2001); S. Fernandez, F. B. Naranjo, F. Calle, M. A. Sanchez-Garcia, E. Calleja, and P. Vennegues, Phys. Status Solidi A 192, 389 (2002).
10. T. Matsuoka, Appl. Phys. Lett. 71, 105 (1997).
11. T. Peng, J. Piprek, G. Qiu, J. O. Olowolafe, K. M. Unruh, C. P. Swann, and E. F. Schubert, Appl. Phys. Lett. 71, 2439 (1997).
12. S. Yamaguchi, M. Kariya, S. Nitta, H. Kalo, T. Takeuchi, C. Wetzel, H. Amano, and I. Akasaki, J. Cryst. Growth 195, 309 (1998).
13. M. J. Lukitsch, Y. V. Danylyuk, V. M. Naik, C. Huang, G. W. Auner, L. Rimai, and R. Naik, Appl. Phys. Lett. 79, 632 (2001).
14. H. Angus Macleod, Thin-film Optical Filters (Hilger, Bristol, 1985), p. 165.
15. D. Brunner, H. Angerer, E. Bustarret, F. Freudenberg, R. Hopler, R. Dimitrov, O. Ambacher, and M. Stutzmann, J. Appl. Phys. 82, 5090 (1997).