Low energy electron beam irradiation promoted selective cleavage of surface furoxan

Langmuir

Volumn 19, Issue 10, 2003, Pages 4504-4508

  Kim, Chang Ok ^a   Jung, Jie Won ^a   Kim, Minju ^a   Kang, Tai Hee ^a   Ihm, Kyuwook ^a   Kim, Ki Jeong ^a   Kim, Bongsoo ^a   Park, Joon Won ^a   Nam, Hyun Woo ^b   Hwang, Kwang Jin ^b  

^a Pohang University of Science and Technology (POSTECH)   (South Korea)

^b Hong Ik University   (South Korea)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ABSORPTION SPECTROSCOPY; CHEMICAL BONDS; ELECTRON BEAM LITHOGRAPHY; FOURIER TRANSFORM INFRARED SPECTROSCOPY; IRRADIATION; MONOLAYERS; SELF ASSEMBLY; SURFACE PROPERTIES; X RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY;

FUROXAN; LOW ENERGY ELECTRON BEAM IRRADIATION; SELECTIVE CLEAVAGE; SELF ASSEMBLED MONOLAYERS;

ORGANIC COMPOUNDS;

EID: 0038359738     PISSN: 07437463     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/la026816q     Document Type: Article

References (51)

1. Xia, Y.; Rogers, J. A.; Paul, K. E.; Whitesides, G. M. Chem. Rev. 1999, 99, 1823.
2. Moreau, W. M. Semiconductor Lithography: Principles and materials; Plenum: New York, 1988.
3. Huang, J. Y.; Dahlgren, D. A.; Hemminger, J. C. Langmuir 1994, 10, 626.
4. Woollman, E. W.; Kang, D.; Frisbie, C. D.; Lorkovic, I. M.; Wrighton, M. S. J. Am. Chem. Soc. 1994, 116, 4395.
5. Chan, K. C.; Kim, T.; Schoer, J. K.; Crooks, R. M. J. Am. Chem. Soc. 1995, 117, 5875.
6. (a) Xia, Y.; Whitesides, G. M. Angew. Chem., Int. Ed. Engl. 1998, 37, 550.
7. (b) Xia, Y.; Whitesides, G. M. Annu. Rev. Mater. Sci. 1998, 28, 153.
8. Harnett, C. K.; Satyalakshmi, K. M.; Craighead, H. G. Appl. Phys. Lett. 2000, 76, 2466.
9. Lercel, M. J.; Craighead, H. G.; Parikh, A. N.; Seshadri, K.; Allara, D. L. Appl. Phys. Lett. 1996, 68, 1504.
10. Harnett, C. K.; Satyalakshmi, K. M.; Criaghead, H. G. Langmuir 2001, 17, 178.
11. Geyer, W.; Stadler, V.; Eck, W.; Gölzhäuser, A.; Grunze, M.; Sauer, M.; Weimann, T.; Hinze, P. J. Vac. Sci. Technol., B 2001, 19, 2732.
12. Lercel, M. J.; Rooks, M.; Tiberio, R. C.; Craighead, H. G.; Shen, C. W.; Parikh, A. N.; Allara, D. L. J. Vac. Sci. Technol., B 1995, 13, 1139.
13. Lercel, M. J.; Redinbo, G. F.; Pardo, F. D.; Rooks, M.; Tiberio, R. C.; Simpson, P.; Craighead, H. G.; Sheen, C. W.; Parikh, A. N.; Allara, D. L. J. Vac. Sci. Technol., B 1994, 12, 3663.
14. Lercel, M. J.; Whelan, C. S.; Craighead, H. G.; Seshadri, K.; Allara, D. L. J. Vac. Sci. Technol., B 1996, 14, 4085.
15. Dressick, W. J.; Chen, M.-S.; Brandow, S. L.; Rhee, K. W.; Shirey, L. M.; Perkins, F. K. Appl. Phys. Lett. 2001, 78, 676.
16. Seshadri, K.; Froyd, K.; Parikh, A. H.; Allara, D. L.; Lercel, M. J.; Craighead, H. G. J. Phys. Chem. 1996, 100, 15900.
17. Olsen, C.; Rowntree, P. A. J. Chem. Phys. 1998, 108, 3750.
18. Zharnikov, M.; Geyer, W.; Gölzhäuser, A.; Frey, S.; Grunze, M. Phys. Chem. Chem. Phys. 1999, 1, 3163.
19. Gölzhäuser, A.; Geyer, W.; Stadler, V.; Eck, W.; Grunze, M.; Edinger, K.; Weimann, T.; Hinze, P. J. Vac. Sci. Technol., B 2000, 18, 3414.
20. Carr, D. W.; Lercel, M. J.; Whelan, C. S.; Craighead, H. G.; Seshadri, K.; Allara, D. L. J. Vac. Sci. Technol., A 1997, 15, 1446.
21. (a) Eck, W.; Stadler, V.; Geyer, W.; Zharnikov, M.; Gölzhäuser, A.; Grunze, M. Adv. Mater. 2000, 12, 805.
22. (b) Gölzhäuser, A.; Eck, W.; Geyer, W.; Stadler, V.; Weimann, T.; Hinze, P.; Grunze, M. Adv. Mater. 2001, 13, 806.
23. (c) Geyer, W.; Stadler, V.; Eck, W.; Gölzhäuser, A.; Grunze, M.; Sauer, M.; Weimann, T.; Hinze, P. J. Vac. Sci. Technol., B 2001, 19, 2732.
24. Hwang, K.-J.; Jo, I.; Shin, Y. A.; Yoo, S.; Lee, J. H. Tetrahedron Lett. 1995, 36, 3337.
25. (a) Pfeiffer, S.; Mayer, B.; Hemmens, B. Angew. Chem., Int. Ed. 1999, 38, 1714.
26. (b) Murad, F. Angew. Chem., Int. Ed. 1999, 38, 1856.
27. (c) Furchgott, R. F. Angew. Chem., Int. Ed. 1999, 38, 1870.
28. (d) Ignarro, L. J. Angew. Chem., Int. Ed. 1999, 38, 1882.
29. (a) Furniss, B. S.; Hannaford, A. J.; Rogers, V.; Smith, P. W. G.; Tatchell, A R. Textbook of Practical Organic Chemistry Including Qualitative Organic Analysis, 4th ed.; Longman: London, 1978; Chapter 6, p 873.
30. (b) Allen, C. F. H.; Pangler, F. W.; Webster, E. R. In Organic Synthesis; Rabjohn, N., Ed.; Wiley: New York, 1963; Vol. IV, p 433.
31. (a) Hwang, K.-J.; Park, Y. C.; Kim, H. J.; Lee J. H. Biosci. Biotechnol. Biochem. 1998, 62, 1693.
32. (b) Fruttero, R.; Ferrarotti, B.; Serafino, A.; Stilo, A. D.; Gasco, A. J. Heterocycl. Chem. 1989, 26, 1345.
33. Moulder, J. F.; Stickle, W. F.; Sobol, P. E.; Bomben, K. D. Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy; Chastain, J. Ed.; Perkin-Elmer Co.; Eden Praire, MN, 1992.
34. Kim, H. J.; Moon, J. H.; Park, J. W. J. Colloid Interface Sci. 2000, 227, 247.
35. Socrates, G. Infrared Characteristic Group Frequencies Tables and Charts; John Wiley & Sons Inc.: New York, 1994.
36. Stöhr, J. NEXAFS Spectroscopy; Ertl, G., Gomer, R., Mills, D. L., Lotsch, H. K. V., Eds.; Springer-Verlag: Berlin, 1992.
37. Dhez, O.; Ade, H.; Urquhart, S. G. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 2003, 128, 85.
38. Huang, S. X.; Fischer, D. A.; Gland, J. L. J. Phys. Chem. 1996, 100, 10223.
39. Horsley, J. A.; Stöhr, J.; Hitchcock, A. P.; Newbury, D. C.; Johnson, A. L.; Sette, F. J. Chem. Phys. 1985, 83, 6099.
40. Okajima, T.; Fujimoto, H.; Sumitomo, M.; Araki, T.; Ito, E.; Ishii, H.; Ouchi, Y.; Seki, K. Surf. Rev. Lett. 2002, 9, 441.
41. (a) Matsui, F.; Yeom, H. W.; Matsuda, I.; Ohta, T. Phys. Rev. B 2000, 62, 5036.
42. Matsui, F.; Yeom, H. W.; Imanishi, A.; Isawa, K.; Matsuda, I.; Ohta, T. Surf. Sci. 1998, 401, L413.
43. Rochet, F.; Dufour, G.; Stedille, F. C.; Sirotti, F.; Prieto, P.; De Crescenzi, M. J. Vac. Sci. Technol., B 1998, 16, 1692.
44. Polzonetti, G.; Iucci, G.; Altamura, P.; Ferri, A.; Paolucci, G.; Goldoni, A.; Parent, Ph.; Laffon, C.; Rosso, M. V. Surf. Interface Anal. 2002, 34, 588.
45. Polzonetti, G.; Carravetta, V.; Russo, M. V.; Contini, G.; Parent, P.; Laffon, C. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1999, 98-99, 175.
46. Carravetta, V.; Polzonetti, G.; Iucci, G.; Russo, M. V.; Paolucci, G.; Barnaba, M. Chem. Phys. Lett. 1998, 288, 37.
47. Stöhr, J.; Sette, F.; Jhonson, A. L. Phys. Rev. Lett. 1984, 53, 1684.
48. Arvanitis, D.; Baberschke, K.; Wenzel, L.; Döbler, U. Phys. Rev. Lett. 1986, 57, 3175.
49. Arvanitis, D.; Döbler, U.; Wenzel, L.; Baberschke, K.; Stöhr, J. Surf. Sci. 1986, 178, 686.
50. Rabus, H.; Arvanitis, D.; Domke, M.; Baberschke, K. J. Chem. Phys. 1992, 96, 1560.
51. Carr, R. G.; Sham, T. K.; Eberhardt, W. Chem. Phys. Lett. 1985, 113, 63.