Modification of alkanethiolate monolayers on Au-substrate by low energy electron irradiation: Alkyl chains and the S/Au interface

Physical Chemistry Chemical Physics

Volumn 1, Issue 13, 1999, Pages 3163-3171

  Zharnikov, M ^a   Geyer, W ^a   Golzhauser A ^a   Frey, S ^a   Grunze, M ^a  

^a UNIVERSITY OF HEIDELBERG   (Germany)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CARBON; DISULFIDE; GOLD; SULFUR;

ARTICLE; CHEMICAL BOND; CHEMICAL MODIFICATION; CHEMICAL STRUCTURE; CONFORMATIONAL TRANSITION; CROSS LINKING; DESORPTION; DISSOCIATION; FILM; IRRADIATION; STRUCTURE ANALYSIS;

EID: 0033165945     PISSN: 14639076     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1039/a902013f     Document Type: Article

References (86)

1. 1 A. Ulman, An Introduction to Ultra-thin Organic Films: Langmuir-Blodgett to Self-Assembly, Academic Press, New York, 1991; Chem. Rev., 1996, 96, 1553.
2. 1 A. Ulman, An Introduction to Ultra-thin Organic Films: Langmuir-Blodgett to Self-Assembly, Academic Press, New York, 1991; Chem. Rev., 1996, 96, 1553.
3. 2 Ch. Zubragel, C. Deuper, F. Schneider, M. Neumann, M. Grunze, A. Schertel and Ch. Wöll, Chem. Phys. Lett., 1995, 283, 308.
4. 3 R. C. Tiberio, H. G. Craighead, M. J. Lercel, T. Lau, C. W. Sheen and D. L. Allara, Appl. Phys. Lett., 1993, 62, 476.
5. 4 M. J. Lercel, R. C. Tiberio, P. F. Chapman, H. G. Craighead, C. W. Sheen, A. N. Parikh and D. L. Allara, J. Vac. Sci. Technol. B, 1993, 11, 2823.
6. 5 M. J. Lercel, G. F. Redinbo, F. D. Pardo, M. Rooks, R. C. Tiberio, P. Simpson, H. G. Craighead, C. W. Sheen, A. N. Parikh and D. L. Allara, J. Vac. Sci. Technol. B, 1994, 12, 3663.
7. 6 M. J. Lercel, G. F. Redinbo, M. Rooks, R. C. Tiberio, H. G. Craighead, C. W. Sheen and D. L. Allara, Microelectron. Eng., 1995, 27, 43.
8. 7 M. J. Lercel, M. Rooks, R. C. Tiberio, H. G. Craighead, C. W. Sheen, A. N. Parikh and D. L. Allara, J. Vac. Sci. Technol. B, 1995, 13, 1139.
9. 8 H. U. Müller, C. David, B. Völkel and M. Grunze, J. Vac. Sci. Technol. B, 1995, 13, 2846.
10. 9 C. David, H. U. Müller, B. Völkel and M. Grunze, Microelectron. Eng., 1996, 30, 57.
11. 10 M. J. Lercel, H. G. Craighead, A. N. Parikh, K. Seshadri and D. L. Allara, Appl. Phys. Lett., 1996, 68, 1504.
12. 11 R. Hild, C. David, H. U. Müller, B. Völkel, D. R. Kayser and M. Grunze, Langmuir, 1998, 14, 342.
13. 12 P. Fenter, P. Eisenberger and K. S. Liang, Phys. Rev. Lett., 1993, 70, 2447.
14. 13 N. Camillone III, C. E. D. Chidsey, G. Liu and G. Scoles, J. Chem. Phys., 1993, 98, 3503; J. Chem. Phys., 1993, 98, 4234.
15. 13 N. Camillone III, C. E. D. Chidsey, G. Liu and G. Scoles, J. Chem. Phys., 1993, 98, 3503; J. Chem. Phys., 1993, 98, 4234.
16. 14 P. Fenter, A. Eberhardt and P. Eisenberger, Science, 1994, 266, 1216.
17. 15 G. E. Poirier and M. J. Tarlov, Langmuir, 1994, 10, 2853.
18. 16 E. Delmarche, B. Michel, H. A. Biebuyck and C. Gerber, Adv. Mater., 1996, 8, 719.
19. 17 G. Hähner, M. Kinzler, C. Thümmler, Ch. Wöll and M. Grunze, J. Vac. Sci. Technol., 1992, 10, 2758.
20. 18 Thin films: self-assembled monolayers of thiols, ed. A. Ulman, Academic Press, San Diego, 1991.
21. 19 P. Rowntree, P-C. Dugal, D. Hunting and L. Sanche, J. Phys. Chem., 1996, 100, 4546.
22. 20 C. Olsen and P. A. Rowntree, J. Chem. Phys., 1998, 108, 3750.
23. 21 B. Jäger, H. Schürmann, H. U. Müller, H-J. Himmel, M. Neumann, M. Grunze and Ch. Wöll, Z. Phys. Chem., 1997, 202, 263.
24. 22 M. Wirde, U. Gelius, T. Dunbar and D. L. Allara, Nuc. Instrum. Meth. Phys. Res. B, 1997, 131, 245.
25. 23 P. E. Laibinis, R. L. Graham, H. A. Biebuyck and G. M. Whitesides, Science, 1991, 254, 981.
26. 24 R. L. Graham, C. D. Bain, H. A. Biebuyck, P. E. Laibinis and G. M. Whitesides, J. Phys. Chem., 1993, 97, 9456.
27. 25 B. Völkel, A. Gölzhäuser, H. U. Müller, C. David and M. Grunze, J. Vac. Sci. Technol. B, 1997, 15, 2877.
28. 26 H. U. Müller, M. Zharnikov, B. Völkel, A. Schertel, P. Harder and M. Grunze, J. Phys. Chem. B, 1998, 102, 7949.
29. 27 L. Strong and G. M. Whitesides, Langmuir, 1988, 4, 546.
30. 28 M. Schaible, H. Petersen, W. Braun and E. E. Koch, Rev. Sci. Instrum., 1989, 60, 2172.
31. 29 S. Bernstorff, W. Braun, M. Mast, W. Peatman and T. Schröder, Rev. Sci. Instrum., 1989, 60, 2097.
32. 30 S. Frey, K. Heister, K. Tamada, M. Zharnikov and M. Grunze, in preparation.
33. 31 J. Stöhr, NEXAFS Spectroscopy, Springer Series in Surface Science 25, Springer-Verlag, Berlin-Heidelberg, 1992.
34. 32 D. A. Shirley, Phys. Rev. B, 1972, 5, 4709.
35. 33 G. K. Wertheim, M. A. Butler, K. W. West and D. N. E. Buchanan, Rev. Sci. Instrum., 1974, 45, 1369.
36. 34 P. E. Batson, Phys. Rev. B, 1993, 48, 2608.
37. 35 G. Hähner, M. Kinzler, Ch. Wöll, M. Grunze, M. Scheller and L. S. Cederbaum, Phys. Rev. Lett., 1991, 67, 851; Phys. Rev. Lett., 1992, 69, 694 (erratum).
38. 36 P. S. Bagus, K. Weiss, A. Schertel, Ch. Wöll, W. Braum, H. Hellwig and C. Jung, Chem. Phys. Lett., 1996, 248, 129.
39. 37 P. Väterlein, R. Fink, E. Umbach and W. Wurth, J. Phys. Chem., 1998, 108, 3313.
40. 38 G. Hähner, Ch. Wöll, M. Buck and M. Grunze, Langmuir, 1993, 9, 1955.
41. 39 R. G. Nuzzo, L. H. Dubois and D. L. Allara, J. Am. Chem. Soc., 1990, 112, 558.
42. 40 P. E. Laibinis, G. M. Whitesides, D. L. Allara, Y-T. Tao, A. N. Parikh and R. G. Nuzzo, J. Am. Chem. Soc., 1991, 113, 7152.
43. 41 J. Thome, M. Himmelhaus, M. Zharnikov and M. Grunze, Langmuir, 1998, 14, 7435.
44. 42 S. Urquhard and H. Ade, personal communication.
45. 43 K. Bierbaum, M. Kinzler, Ch. Wöll, M. Grunze, G. Hähner, S. Heid and F. Effenberger, Langmuir, 1995, 11, 512.
46. 44 G. Witte, K. Weiss, P. Jakob, J. Braun, K. L. Kostov and Ch. Woell, Phys. Rev. Lett., 1998, 80, 121.
47. 45 M. Kinzler, A. Schertel, G. Hähner, Ch. Wöll, M. Grunze, H. Albrecht, G. Holzhüter and Th. Gerber, J. Chem. Phys., 1994, 100, 7722.
48. 46 A. Schertel, G. Hähner, M. Grunze and Ch. Wöll, J. Vac. Sci. Technol. A, 1996, 14, 1801.
49. 47 G. Hähner, A. Marti, N. Spencer, S. Brunner, W. R. Caseri, U. W. Suter and M. Rehahn, Langmuir, 1996, 12, 719.
50. 48. P. Bruwhiler, A. J. Maxwell, C. Puglia, A. Nillson, S. Andersson and N. Märtensson, Phys. Rev. Lett., 1995, 74, 614.
51. 49 O. Dannenberger, K. Weiss, H-J. Himmel, B. Jäger, M. Buck and Ch. Wöll, Thin Solid Films, 1997, 307, 183.
52. 50 C. D. Bain and G. M. Whitesides, J. Phys. Chem., 1989, 93, 1671.
53. 51 P. Harder, M. Grunze, R. Dahint, G. M. Whitesides and P. E. Laibinis, J. Phys. Chem., 1998, 102, 426.
54. 52 P. E. Laibinis, C. D. Bain and G. M. Whitesides, J. Phys. Chem., 1991, 95, 7017.
55. 53 S. Frey, K. Heister, M. Zharnikov and M. Grunze, in preparation.
56. 54 C-J. Zhong and M. D. Porter, J. Am. Chem. Soc., 1994, 116, 11616.
57. 55 H. Seilers, A. Ulman, Y. Shnidman and J. E. Eilers, J. Am. Chem. Soc., 1993, 115, 9389.
58. 56 J. W. Raymonda and W. T. Simpson, J. Chem. Phys., 1967, 47, 430.
59. 57 C. Sandorfy, Z. Phys. Chem. Neue Folge, 1976, 101, 307.
60. 58 P. Avouris and B. N. J. Persson, J. Phys. Chem., 1984, 88, 837.
61. 59 M. P. Seah and W. A. Dench, Surf. Interface Anal., 1979, 1, 2.
62. 60 H. Kondoh and H. Nozoye, J. Phys. Chem., 1998, 102, 2367.
63. 61 A. Gölzhäuser, S. Panov, A. Schertel, M. Mast, Ch. Wöll and M. Grunze, Surf. Sci., 1995, 334, 235.
64. 62 R. G. Nuzzo, B. R. Zegarski and L. H. Dubois, J. Am. Chem. Soc., 1987, 109, 733.
65. 63 N. Nishida, M. Hara, H. Sasabe and W. Knoll, Jpn. J. Appl. Phys., 1996, 35, L799.
66. 64 H. Kondoh, C. Kodama and H. Nozoye, J. Phys. Chem. B, 1998, 102, 2310.
67. 65 A. N. Buckley, I. C. Hamilton and R. Woods, J. Electroanal. Chem., 1987, 216, 213.
68. 66 D. E. Weisshaar, M. M. Walczak and M. Porter, Langmuir, 1993, 9, 323.
69. 67 B. J. Lindberg, K. Hamrin, G. Johansson, U. Gelius, A. Fahlman, C. Nordling and K. Siegbahn, Phys. Scr., 1970, 1, 286.
70. 68 D. A. Hutt and G. J. Leggett, J. Phys. Chem., 1996, 100, 6657.
71. 69 M-T. Lee, C-C. Hsueh, M. S. Freund and G. S. Ferguson, Langmuir, 1998, 14, 6419.
72. 70 HJ. Himmel, Ch. Wöll, R. Gerlach, G. Polanski and H-G. Rubahn, Langmuir, 1997, 13, 602.
73. 71 T. Ishida, M. Hara, I. Kojima, S. Tsuneda, N. Nishida, H. Sasabe and W. Knoll, Langmuir, 1998, 14, 2092.
74. 72 H. Rieley, G. K. Kendall, F. W. Zemicael, T. L. Smith and S. Yang, Langmuir, 1998, 14, 5147.
75. 73 K. Heister, S. Frey, A. Gölzhäuser, A. Ulman and M. Zharnikov, to be published.
76. 74 D. A. Hutt, E. Cooper and G. J. Leggett, J. Phys. Chem. B, 1998, 102, 174.
77. 75 L. H. Dubois and R. G. Nuzzo, Annu. Rev. Phys. Chem., 1992, 43, 437.
78. 76 C. Schonenberger, J. Jorittsma, J. A. M. Sondag-Huethorst and L. G. J. Fokking, J. Phys. Chem., 1995, 99, 3259.
79. 77 W. B. Caldwell, D. J. Campbell, K. Chen, B. R. Herr, C. A. Mirkin, A. Malik, M. K. Durbin, P. Dutta and K. G. Huang, J. Am. Chem. Soc., 1995, 117, 6071.
80. 78 A. Ulman, Chem. Rev., 1996, 96, 1533.
81. 79 F. Balzer, R. Gerlach, G. Polanski and H. G. Rubahn, Chem. Phys. Lett., 1997, 274, 145.
82. 80 K. M. Beardmore, J. D. Kress, A. R. Bishop and N. GronbechJensen, Synth. Met., 1997, 84, 317.
83. 81 M. S. Yeganeh, S. M. Douglas, R. S. Polizotti and P. Rabinowitz, Phys. Rev. Lett., 1995, 74, 1811.
84. 82 P. Fenter, F. Schreiber, L. Berman, G. Scoles, P. Eisenberger and M. J. Bedzyk, Surf. Sci., 1998, 412/413, 213.
85. 83 A. J. Pertsin and M. Grunze, Langmuir, 1994, 10, 3668.
86. 84 R. Bhatia and B. J. Garrison, Langmuir, 1997, 13, 4038.