X-Ray diffraction from epitaxial oxide layers grown from sol-gel

Thin Solid Films

Volumn 434, Issue 1-2, 2003, Pages 1-6

  Boulle, A ^a   Masson, O ^b   Guinebretiere R ^a   Dauger, A ^a  

^a Ecole Nationale Superieure de Ceramique Industrielle   (France)

^b UNIVERSITY OF LIMOGES   (France)

Author keywords

Epitaxy; Oxides; Sol gel; X Ray diffraction

Indexed keywords

CRYSTALLOGRAPHY; KINEMATICS; MICROSTRUCTURE; SOL-GELS; X RAY DIFFRACTION;

LINE SHAPE ANALYSIS;

EPITAXIAL GROWTH;

EID: 0038180705     PISSN: 00406090     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/S0040-6090(02)00721-6     Document Type: Article

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