A capillary discharge plasma source of intense VUV radiation

Quantum Electronics

Volumn 33, Issue 1, 2003, Pages 3-6

  Sobelman, I I ^a   Shevelko, A P ^a   Yakushev, O F ^a   Knight, L V ^b   Turley, R S ^b  

^a LEBEDEV PHYSICAL INSTITUTE   (Russian Federation)

^b BRIGHAM YOUNG UNIVERSITY   (United States)

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Capillary discharge plasma; Reflectometry; VUV radiation; VUV spectroscopy

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EID: 0037651973     PISSN: 10637818     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1070/QE2003v033n01ABEH002357     Document Type: Article

References (32)

1. Vinogradov A.V., Rocca J.J. Kvantovaya Electron., 33, 7 (2003) [Quantum Electron., 33, 7 (2003)].
2. Ceglio N.M. J. X-Ray Sci. Technol., 1, 7 (1989).
3. Kubiak G., Bemardez L.J., Krenz K., Replogle W.C., Sweatt W.C., Sweeney D.W., Hudyma R.M., Shields H. Proc. SPIE Int. Soc. Opt. Eng., 3767, 136 (1999).
4. Schriever G., Rahe M., Neff W., Bergmann K., Lebert R., Lauth H., Basting D. Proc. SPIE Int. Soc. Opt. Eng., 3997, 162 (2000).
5. Partlo W., Fomenkov I., Oliver R., Birx D. Proc. SPIE Int. Soc Opt. Eng., 3997, 136 (2000).
6. Nikulin V.Ya., Romanova V.M., Scholz M. Proc. SPIE Int. Soc. Opt. Eng., 4460, 55 (2002).
7. McGeoch M. Appl. Opt., 37, 1651 (1998).
8. Bergmann K., Schriever G., Rosier O., Müller M., Neff W., Lebert R. Appl. Opt., 38, 5413 (1999).
9. Bergmann K., Rosier O., Müller M., Neff W., Lebert R. Appl. Opt., 39, 3833 (2000)
10. Semyonov O.G., Gurey A.E., Tikhomirov A.A. J. Vac. Sci. Technol. B, 19, 482 (2001).
11. Bogen P., Conrads H., Gatti G., Kohlhaas W. J. Opt. Soc. Am., 58, 203 (1968).
12. McCorkle R.A. Appl. Phys. A, 26, 261 (1981).
13. Zakharov S.M., Kolomenskii A.A., Pikuz S.A., Samokhin A.I. Pis'ma Zh. Eksp. Teor. Fiz., 6, 135 (1980).
14. Steden C., Kunze H.-J. Phys. Lett. A. 151, 534 (1990).
15. Shin H.J., Kim D.E., Lee T.N. Phys. Rev., 50, 1376 (1994).
16. Rocca J.J. Rev. Sci. Instrum., 70, 3799 (1999).
17. Rocca J.J., Shiyaptsev V., Tomasel F.G., Cortaszar O.D., Hartshorn D., Chilla J.L.A. Phys. Rev. Lett., 73, 2192 (1994).
18. Krosner M.A., Bender H.A., Silfvast W.T., Rocca J.J. Opt. Lett., 22, 34 (1997).
19. Klosner M.A., Silfvast W.T. Opt. Lett., 23, 1609 (1998).
20. Antsifirov P.S., Dorokhin L.A., Khautiev E.Yu., Sidelnikov Yu.V., Glushkov D.A., Lugovenko I.V., Koshelev K.N. J. Phys. D, 31, 2013 (1998).
21. Macchietto C.D., Benware B.R., Rocca J.J. Opt. Lett., 24, 1115 (1999).
22. Silfvast W.T., Klosner M., Shimkaveg G., Bender H., Kubiak G., Fomaciari N.R. Proc. SPIE Int. Soc. Opt. Eng., 3676, 272 (1999).
23. Knight L., Turley S., Crawford C., Hullinger D., et al. Proc. SPIE Int. Soc. Opt. Eng., 3767, 45 (1999).
24. Shevelko A.P., Knight L.V., Yakushev O.F. Proc. SPIE Int. Soc. Opt. Eng., 4144, 68 (2000).
25. Shevelko A.P., Knight L.V., Turley R.S., Yakushev O.F. Proc. SPIE Int. Soc. Opt. Eng., 4504, 143 (2001).
26. Ellwi S.S., Juschkin L., Ferri S., Kunze H.-J., Koshelev K.N., Louis E. J. Phys. D, 34, 336 (2001).
27. Shevel'ko A.P., Yakushev O.F. Poverkhnost', 4, 49 (1989).
28. Vinogradov A.V., Sobel'man I.I. Zh. Eksp. Teor. Fis., 63, 2113 (1972).
29. Shevel'ko A.P. Kvantovaya Electron., 23, 748 (1996) [Quantum Electron., 26, 729 (1996)].
30. Kelly R.L. J. Phys. Chem. Ref. Data, 16, Suppl.1, 105 (1987).
31. Amaud M., Rothenflug R. Astron. Astrophys. Suppl. Ser., 60, 425 (1985).
32. Blackburn J., Carroll P.K., Costello J., O'Sullivan G. J. Opt. Soc Am., 73, 1325 (1983).