Mercury cadmium telluride/tellurium intergrowths in HgCdTe epilayers grown by molecular-beam epitaxy

Applied Physics Letters

Volumn 82, Issue 14, 2003, Pages 2275-2277

  Aoki, T ^a   Smith, David J ^a   Chang, Y ^b   Zhao, J ^b   Badano, G ^b   Grein, C ^b   Sivananthan, S ^b  

^a ARIZONA STATE UNIVERSITY   (United States)

^b UNIVERSITY OF ILLINOIS AT CHICAGO   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

FILM GROWTH; GRAIN BOUNDARIES; MERCURY COMPOUNDS; MOLECULAR BEAM EPITAXY; POLYCRYSTALLINE MATERIALS; SCANNING ELECTRON MICROSCOPY; SURFACE PROPERTIES;

INTERGROWTHS;

SEMICONDUCTING FILMS;

EID: 0037425277     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1566462     Document Type: Article

References (19)

1. A. Rogalski, Infrared Phys. Technol. 38, 295 (1997).
2. A. Rogalski, Infrared Detectors (Gordon and Breach, New York, 2000).
3. J. M. Arias, J. G. Pasko, M. Zandian, J. Bajaj, L. J. Kozlowski, R. E. Dewames, and W. E. Tennant, Proc. SPIE 2021, 114 (1993).
4. A. Million, N. K. Dhar, and J. H. Dinan, J. Cryst. Growth 159, 76 (1996).
5. T. J. de Lyon, J. E. Jensen, M. D. Gorwitz, C. A. Cockrum, S. A. Johnson, and G. M. Venzor, J. Electron. Mater. 28, 705 (1999).
6. R. Ashokan, N. K. Dhar, B. Yang, A. Arhiyat, T. S. Lee, S. Rujirawat, S. Yousuf, and S. Sivananthan, J. Electron. Mater. 29, 636 (2000).
7. P. Ferret, J. R. Zanatta, R. Hamelin, S. Cremer, A. Million, M. Wolny, and G. Destefanis, J. Electron. Mater. 29, 641 (2000).
8. S. Velican, G. Badano, Y. Selemat, C. H. Grein, J.-P. Faurie, S. Sivananthan, P. Boieriu, D. Rafal, and R. Ashokan, J. Electron. Mater. 30, 711 (2001).
9. K. D. Maranowski, J. M. Peterson, S. M. Johnson, J. B. Varesi, A. C. Childs, R. E. Bornfreund, A. A. Buell, W. A. Radford, T. J. de Lyon, and J. E. Jensen, J. Electron. Mater. 30, 619 (2001).
10. L. H. Zhang and C. J. Summers, J. Electron. Mater. 27, 634 (1998).
11. D. Chandra, H. D. Shih, F. Aqariden, R. Dat, S. Gutzler, M. J. Beven, and T. Orent, J. Electron. Mater. 27, 640 (1998).
12. L. He, Y. Wu, L. Chen, S. L. Wang, M. F. Yu, Y. M. Qiao, J. R. Yang, Y. J. Li, R. J. Ding, and Q. Y. Zhang, J. Cryst. Growth 227-228, 677 (2001).
13. L. Chen, Y. Wu, M. F. Yu, S. L. Wang, Y. M. Qiao, and L. He, J. Infrared. Milli. Waves 20, 406 (2001).
14. S. Sivananthan, X. Chu, J. Reno, and J. P. Faurie. J. Appl. Phys. 60, 1359 (1986).
15. N. G. Chew, A. G. Cullis, and G. M. Williams, Appl. Phys. Lett. 45, 1090 (1984).
16. M. Martinka, L. A. Alraeida, J. D. Benson, and J. H. Dinan, J. Electron. Mater. 30, 632 (2001).
17. J. M. Arias, in: Properties of Narrow Gap Cadmium-based Compounds, edited by P. Capper (INSPEC, London, 1994) p. 30.
18. T. H. Myers, K. A. Harris, R. W. Yanka, L. M. Mohnkem, R. J. Williams, and G. K. Dudoff, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 1438 (1992).
19. K. A. Harris, T. H. Myers, R. W. Yanka, L. M. Mohnkern, R. W. Green, and N. Otsuka, J. Vac. Sci. Technol. A 8, 1013 (1990).