Gain spectra of (Galn)(NAs) laser diodes for the 1.3-μm-wavelength regime

Applied Physics Letters

Volumn 78, Issue 20, 2001, Pages 3009-3011

  Hofmann, M ^a   Wagner, A ^a   Ellmers, C ^a   Schlichenmeier, C ^a   Schafer S ^a   Hohnsdorf F ^a   Koch, J ^a   Stolz, W ^a   Koch, S W ^a   Ruhle W W ^a   Hader, J ^b   Moloney, J V ^b   O'Reilly, E P ^c   Borchert, B ^d   Egorov, A Yu ^d   Riechert, H ^d  

^a PHILIPPS UNIVERSITY MARBURG   (Germany)

^b UNIVERSITY OF ARIZONA   (United States)

^c UNIVERSITY OF SURREY   (United Kingdom)

^d INFINEON TECHNOLOGIES AG   (Germany)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0035858305     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1371963     Document Type: Article

References (31)

1. F. S. Choa, K. Tai, W. T. Tsang, and S. N. Chu, Appl. Phys. Lett. 59, 2820 (1991).
2. N. Bouche, C. Dupuy, C. Meriadec, K. Streubel, J. Landreau, L. Manin, and R. Raj, Appl. Phys. Lett. 73, 2718 (1998).
3. J. J. Dudley, D. I. Babic, R. Mirin, L. Yang, B. I. Miller, R. J. Ram, T. Reynolds, E. L. Hu, and J. E. Bowers, Appl. Phys. Lett. 64, 1463 (1994).
4. J. Piprek, Y. A. Akulova, D. I. Babic, L. A. Coldren, and J. E. Bowers, Appl. Phys. Lett. 72, 1814 (1998).
5. M. Ortsiefer, R. Shau, G. Böhm, F. Köhler, and M.-C. Amann, Appl. Phys. Lett. 76, 2179 (2000).
6. J. Koeth, R. Dietrich, and A. Forchel, Appl. Phys. Lett. 72, 1638 (1998).
7. V. M. Ustinov, N. A. Maleev, A. E. Zhukov, A. R. Kovsh, A. Yu. Egorov, A. V. Lunev, B. V. Volovik, I. L. Krestnikow, Yu. G. Mushikin, N. A. Bert, P. S. Kop'ev, Zh. I. Alferov, N. N. Ledentsov, and D. Bimberg, Appl. Phys. Lett. 74, 2815 (1999).
8. M. Kondow, K. Uomi, A. Niwa, T. Kitatani, S. Watahiki, and Y. Yazawa, Jpn. J. Appl. Phys., Part I 35, 1273 (1996).
9. F. Höhnsdorf, J. Koch, C. Agert, and W. Stolz, J. Cryst. Growth 195, 391 (1998).
10. F. Höhnsdorf, J. Koch, S. Leu, W. Stolz, B. Borchert, and M. Druminski, Electron. Lett. 35, 571 (1999).
11. M. Fischer, M. Reinhardt, and A. Forchel, Electron. Lett. 36, 1208 (2000).
12. M. C. Larson, M. Kondow, T. Kitatani, K. Nakahara, K. Tamura, H. Inoue, and K. Uomi, IEEE Photonics Technol. Lett. 10, 188 (1998).
13. K. D. Choquette, J. F. Klem, A. J. Fischer, O. Blum, A. A. Allerman, I. J. Fritz, S. R. Kurtz, W. G. Breiland, R. Sieg, K. M. Geib, J. W. Scott, and R. L. Naone, Electron. Lett. 36, 1388 (2000).
14. C. Ellmers, F. Höhnsdorf, J. Koch, C. Agert, S. Leu, D. Karaiskaj, M. Hofmann, W. Stolz, and W. W. Rühle, Appl. Phys. Lett. 74, 2271 (1999).
15. A. Wagner, C. Ellmers, F. Hohnsdorf, J. Koch, C. Agert, S. Leu, M. Hofmann, W. Stolz, and W. W. Rühle, Appl. Phys. Lett. 76, 271 (2000).
16. The real material composition might be different from the nominal material composition given here. For example, the absolute uncertainly of the N content is estimated to be ± 0.5%.
17. B. W. Hakki and T. L. Paoli, J. Appl. Phys. 46, 1299 (1975).
18. H. P. Xin, K. L. Kavanagh, Z. Q. Zhu, and C. W. Tu, Appl. Phys. Lett. 74, 2337 (1999).
19. M. Lindberg and S. W. Koch, Phys. Rev. B 38, 3342 (1988).
20. A. Girndt, F. Jahnke, A. Knorr, S. W. Koch, and W. W. Chow, Phys. Status Solidi B 202, 725 (1997); W. W. Chow, A. Girndt, and S. W. Koch, Opt. Express 2, 119 (1998).
21. A. Girndt, F. Jahnke, A. Knorr, S. W. Koch, and W. W. Chow, Phys. Status Solidi B 202, 725 (1997); W. W. Chow, A. Girndt, and S. W. Koch, Opt. Express 2, 119 (1998).
22. J. Hader, J. V. Moloney, and S. W. Koch, IEEE J. Quantum Electron. 35, 1878 (1999).
23. C. Ellmers, M. Hofmann, W. W. Rühle, A. Girndt, F. Jahnke, W. W. Chow, A. Knorr, S. W. Koch, C. Hanke, L. Korte, and C. Hoyler, Appl. Phys. Lett. 72, 1647 (1998); J. Hader, D. Bossert, J. Stohs, W. W. Chow, S. W. Koch, and J. V. Moloney, ibid. 74, 2277 (1999); W. W. Chow, P. M. Smowton, P. Blood, A. Girndt, F. Jahnke, and S. W. Koch, ibid. 71, 157 (1997).
24. C. Ellmers, M. Hofmann, W. W. Rühle, A. Girndt, F. Jahnke, W. W. Chow, A. Knorr, S. W. Koch, C. Hanke, L. Korte, and C. Hoyler, Appl. Phys. Lett. 72, 1647 (1998); J. Hader, D. Bossert, J. Stohs, W. W. Chow, S. W. Koch, and J. V. Moloney, ibid. 74, 2277 (1999); W. W. Chow, P. M. Smowton, P. Blood, A. Girndt, F. Jahnke, and S. W. Koch, ibid. 71, 157 (1997).
25. C. Ellmers, M. Hofmann, W. W. Rühle, A. Girndt, F. Jahnke, W. W. Chow, A. Knorr, S. W. Koch, C. Hanke, L. Korte, and C. Hoyler, Appl. Phys. Lett. 72, 1647 (1998); J. Hader, D. Bossert, J. Stohs, W. W. Chow, S. W. Koch, and J. V. Moloney, ibid. 74, 2277 (1999); W. W. Chow, P. M. Smowton, P. Blood, A. Girndt, F. Jahnke, and S. W. Koch, ibid. 71, 157 (1997).
26. W. W. Chow and S. W. Koch, Semiconductor-Laser Fundamentals (Springer, Berlin, 1999). and references therein.
27. W. Shan, W. Walukiewicz, J. W. Ager, II, E. E. Haller, J. F. Geisz, D. J. Friedman, J. M. Olson, and S. R. Kurtz, Phys. Rev. Lett. 82, 1221 (1999).
28. E. P. O'Reilly and A. Lindsay, Phys. Status Solidi B 216, 131 (1999).
29. J. Hader, S. W. Koch, J. V. Moloney, and E. P. O'Reilly, Appl. Phys. Lett. 77, 630 (2000).
30. NM=2.1 √x eV instead of 2.4 √x eV in Ref. 24 to obtain optimum agreement of the theoretical with the experimental gain peak.
31. W. W. Chow, E. D. Jones, N. A. Modine, A. A. Allerman, and S. R. Kurtz, Appl. Phys. Lett. 75, 2891 (1999).