Electron spectroscopic study of C-N bond formation by low-energy nitrogen ion implantation of graphite and diamond surfaces

Journal of Vacuum Science and Technology A: Vacuum, Surfaces and Films

Volumn 17, Issue 2, 1999, Pages 411-420

  Gouzman, I ^a   Brener, R ^a   Hoffman, A ^a  

^a TECHNION ISRAEL INSTITUTE OF TECHNOLOGY   (Israel)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0033410858     PISSN: 07342101     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1116/1.581601     Document Type: Article

References (57)

1. A. Y. Liu and M. L. Cohen, Science 245, 841 (1989); Phys. Rev. B 41, 10727 (1990).
2. A. Y. Liu and M. L. Cohen, Science 245, 841 (1989); Phys. Rev. B 41, 10727 (1990).
3. J. J. Cuomo, P. A. Leary, D. Yu, W. Reuter, and M. Frisch, J. Vac. Sci. Technol. 16, 299 (1979).
4. J. H. Kaufman, S. Merin, and D. D. Saperstein, Phys. Rev. B 39, 13053 (1989).
5. H.-X. Han and J. Feldman, Solid State Commun. 65, 921 (1988).
6. D. Li, Y.-W. Chung, M.-S. Wong, and D. Sproul, J. Appl. Phys. 74, 219 (1993).
7. H. Sjöström, I. Ivanov, M. Johansson, L. Hulman, J.-E. Sundgren, S. V. Hainsworth, T. F. Page, and L. R. Wallenberg, Thin Solid Films 246, 103 (1994).
8. S. Kumar and T. L. Tansley, Solid State Commun. 88, 803 (1993); J. Appl. Phys. 76, 4390 (1994).
9. S. Kumar and T. L. Tansley, Solid State Commun. 88, 803 (1993); J. Appl. Phys. 76, 4390 (1994).
10. K. M. Yu, M. L. Cohen, E. E. Haller, W. L. Hansen, A. Y. Liu, and I. C. Wu, Phys. Rev. B 49, 5034 (1994).
11. L. Wan and R. F. Egeton, Thin Solid Films 279, 34 (1996).
12. M. M. Lacerda, D. F. Franceshini, F. L. Freire, C. A. Achete, and G. Mariotto, S. Vac. Sci. Technol. A 15, 1970 (1997).
13. J. F. D. Chubaci, T. Sakai, T. Yamamoto, K. Ogata, A. Ebe, and F. Fujimoto, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B 80/81, 463 (1993).
14. F. Fujimoto and K. Ogata, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 32, L420 (1993).
15. H. W. Song, F. Z. Cui, X. M. He, W. Z. Li, and H. D. Li, J. Phys.: Condens. Matter 6, 6125 (1994).
16. F. Rossi, B. Andre, A. van Veen, P. E. Mijnarends, H. Schut, F. Labohm, H. Dunlop, M. P. Delplancke, and K. Hubbard, J. Mater. Res. 9, 2440 (1994).
17. D. Marton, A. H. Al-Bayati, S. S. Todorov, K. J. Boyd, and J. W. Rabalais, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B 90, 277 (1994).
18. O. Matsumoto, T. Kotaki, H. Shikano, K. Takemura, and S. Tanaka, J. Electrochem. Soc. 141, L16 (1994).
19. M. Diani, A. Mansour, L. Kubler, J. L. Bischoff, and D. Bolmont, Diamond Relat. Mater. 3, 264 (1994).
20. Y. Zhang, Z. Zhou, and H. Li, Appl. Phys. Lett. 68, 634 (1996).
21. L. Maya, D. R. Cole, and E. W. Hagaman, J. Am. Ceram. Soc. 74, 1686 (1991).
22. C. M. Niu, Y. Z. Lu, and C. M. Lieber, Science 261, 334 (1993).
23. M. Y. Cheng and P. T. Murray, J. Vac. Sci. Technol. A 16, 2093 (1998).
24. N. Axen, G. A. Botton, H. Q. Lou, R. E. Somekh, and I. M. Hutchings, Surf. Coat. Technol. 81, 262 (1996).
25. N. Lieske and R. Hezel, Thin Solid Films 85, 7 (1981); J. Electrochem. Soc. 129, 379 (1982).
26. N. Lieske and R. Hezel, Thin Solid Films 85, 7 (1981); J. Electrochem. Soc. 129, 379 (1982).
27. P. H. Oosting, J. Petruzzello, and T. F. McGee, J. Appl. Phys. 62, 4118 (1987).
28. J. A. Taylor, G. M. Lancaster, and J. W. Rabalais, J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 13, 435 (1978); J. Am. Chem. Soc. 100, 4441 (1978).
29. J. A. Taylor, G. M. Lancaster, and J. W. Rabalais, J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 13, 435 (1978); J. Am. Chem. Soc. 100, 4441 (1978).
30. S. Evans, Proc. R. Soc. London, Ser. A 353, 103 (1977); 370, 107 (1980).
31. S. Evans, Proc. R. Soc. London, Ser. A 353, 103 (1977); 370, 107 (1980).
32. A. Hoffman, I. Gouzman, and R. Brener, Appl. Phys. Lett. 64, 845 (1994).
33. I. Gouzman, R. Brener, and A. Hoffman, Thin Solid Films 253, 90 (1994); Surf. Sci. 331-333, 283 (1995).
34. I. Gouzman, R. Brener, and A. Hoffman, Thin Solid Films 253, 90 (1994); Surf. Sci. 331-333, 283 (1995).
35. I. Gouzman, R. Brener, C. Cytermann, and A. Hoffman, Surf. Interface Anal. 22, 524 (1994).
36. K. J. Boyd, D. Marton, S. S. Todorov, A. H. Al-Bayati, J. Kulik, R. A. Zuhr, and J. W. Rabalais, J. Vac. Sci. Technol. A 13, 2110 (1995).
37. L. Galan, I. Montero, and F. Rueda, Surf. Coat. Technol. 83, 103 (1996).
38. C. Palacio, C. Gomez-Aleixandre, D. Diaz, and M. M. Garcia, Vacuum 48, 709 (1997).
39. Z. M. Ren, Y. C. Du, Z. F. Ying, F. M. Li, J. Lin, Y. Z. Ren, and X. F. Zong, Appl. Phys. A; Mater. Sci. Process. 64, 327 (1997).
40. A. Hoffman, H. Geller, I. Gouzman, C. Cytermann, R. Brener, and M. Kenny, Surf. Coat. Technol. 68/69, 616 (1994).
41. A. Hoffman, R. Brener, I. Gouzman, C. Cytermann, H. Geller, L. Levin, and M. Kenny, Diamond Relat. Mater. 4, 292 (1995).
42. F. L. Freire, Jr., C. A. Achete, and G. Mariotto, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B 99, 606 (1995).
43. H. D. Xin, C. L. Lin, W. P. Xu, L. W. Wang, S. C. Zou, X. L. Wu, X. H. Shi, and H. Zhu, J. Appl. Phys. 79, 2364 (1996).
44. N. Laidani, A. Miotello, A. Glisenti, C. Bottani, and J. Perriere, J. Phys.: Condens. Matter 9, 1743 (1997).
45. Y. S. Gu, L. Q. Pan, M. X. Zhao, Z. J. Wang, Z. Z. Tian, J. M. Xiao, R. Y. Hu, L. Juan, S. J. Pang, and Y. H. Zhang, Prog. Nat. Sci. 6, 248 (1996).
46. M. T. Anthony, in Practical Surface Analysis, edited by D. Briggs and M. P. Seah (Wiley, Chichester, 1983), p. 429.
47. Z. L. Liau and J. W. Mayer, in Treatise on Material Science and Technology, edited by T. K. Hirvonen (Academic, New York, 1980), Vol. 18, p. 17.
48. Handbook of Auger Electron Spectroscopy, edited by L. E. Davis, N. C. MacDonald, D. W. Palmberg, G. E. Riach, and R. E. Weber (Perkin-Elmer, MN, 1978).
49. P. M. A. Sherwood, in Practical Surface Analysis, edited by D. Briggs and M. P. Seah (Wiley, Chichester, 1983), p. 445.
50. D. E. Ramaker, J. Vac. Sci. Technol. A 7, 1614 (1989).
51. P. G. Lurie and J. M. Wilson, Surf. Sci. 65, 446 (1977).
52. H. F. Steffen, C. D. Roux, D. Marton, and J. W. Rabalais, Phys. Rev. B 44, 3981 (1991).
53. A. Hoffman, Diamond Relat. Mater. 3, 691 (1994).
54. R. Siegele, J. Roth, B. M. U. Schrezer, and S. J. Pennycook, J. Appl. Phys. 73, 2225 (1993).
55. NIST X-ray Photoelectron Spectroscopy Database (National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, Maryland 1989).
56. M. A. Baker and P. Hammer, Surf. Interface Anal. 25, 301 (1997).
57. A. Nilson, O. Bjorneholm, H. Tillborg, B. Hernnas, R. J. Guest, A. Sandell, R. E. Palmer, and N. Martensson, Surf. Sci. 287/288, 758 (1993).