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Volumn 88, Issue 4, 2000, Pages 1971-1977

Activation of aluminum implanted at high doses in 4H-SiC

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EID: 0000938713     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1305904     Document Type: Article
Times cited : (67)

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    • CREE Research Inc., 4600 Silicon Drive, Durham, North Carolina 27703
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.