Defect production and annealing in ion-irradiated Si nanocrystals

Physical Review B - Condensed Matter and Materials Physics

Volumn 65, Issue 14, 2002, Pages 1-13

  Pacifici, D ^a   Moreira, E C ^a   Franzo G ^a   Martorino, V ^a   Priolo, F ^a   Iacona, F ^b  

^a Dipto di Fisica e Astronomia   (Italy)

^b CNR IMETEM   (Italy)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 85038309121     PISSN: 10980121     EISSN: 1550235X     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevB.65.144109     Document Type: Article

References (36)

1. L. T. Canham, Appl. Phys. Lett. 57, 1046 (1990).
2. M. V. Wolkin, J. Jorne, P. M. Fauchet, G. Allan, and C. Delerue, Phys. Rev. Lett. 82, 197 (1999).
3. A. G. Cullis, L. T. Canham, and P. D. J. Calcott, J. Appl. Phys. 82, 909 (1997), and references therein.
4. C. Delerue, G. Allan, and M. Lannoo, Phys. Rev. B 48, 11 024 (1993).
5. F. Priolo, G. Franzò, D. Pacifici, V. Vinciguerra, F. Iacona, and A. Irrera, J. Appl. Phys. 89, 264 (2001).
6. Y. Kanemitsu, T. Ogawa, K. Shiraishi, and K. Takeda, Phys. Rev. B 48, 4883 (1993).
7. T. Shimizu-Iwayama, K. Fujita, S. Nakao, K. Saitoh, T. Fujita, and N. Itoh, J. Appl. Phys. 75, 7779 (1994).
8. J. G. Zhu, C. W. White, J. D. Budai, S. P. Withrow, and Y. Chen, J. Appl. Phys. 78, 4386 (1995).
9. K. S. Min, K. V. Shcheglov, C. M. Yang, H. A. Atwater, M. L. Brongersma, and A. Polman, Appl. Phys. Lett. 69, 2033 (1996).
10. M. L. Brongersma, A. Polman, K. S. Min, E. Boer, T. Tambo, and H. A. Atwater, Appl. Phys. Lett. 72, 2577 (1998).
11. V. I. Klimov, Ch. Schwarz, D. McBranch, and C. W. White, Appl. Phys. Lett. 73, 2603 (1998).
12. T. Shimizu-Iwayama, N. Kunumado, D. E. Hole, and P. Townsend, J. Appl. Phys. 83, 6018 (1998).
13. J. Linnros, N. Lalic, A. Galeckas, and V. Grivickas, J. Appl. Phys. 86, 6128 (1999).
14. F. Iacona, G. Franzò, and C. Spinella, J. Appl. Phys. 87, 1295 (2000).
15. Z. H. Lu, D. J. Lockwood, and J.-M. Baribeau, Nature (London) 378, 258 (1995);
16. D. J. Lockwood, Z. H. Lu, and J. M. Baribeau, Phys. Rev. Lett. 96, 539 (1996).
17. V. Vinciguerra, G. Franzò, F. Priolo, F. Iacona, and C. Spinella, J. Appl. Phys. 87, 8165 (2000).
18. P. Photopoulos, A. G. Nassiopoulou, D. N. Kouvatsos, and A. Travlos, Appl. Phys. Lett. 76, 3588 (2000).
19. J. Dennis and E. B. Hale, J. Appl. Phys. 49, 1119 (1978).
20. F. F. Morehead and B. L. Crowder, Radiat. Eff. 6, 27 (1970).
21. O. W. Holland, S. J. Pennycook, and G. L. Albert, Appl. Phys. Lett. 55, 2503 (1988).
22. D. N. Seidman, R. S. Averback, P. R. Okamodo, and A. C. Baily, Phys. Rev. Lett. 58, 900 (1987).
23. S. U. Campisano, S. Coffa, V. Raineri, F. Priolo, and E. Rimini, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B 80/81, 514 (1993).
24. G. L. Olson and J. A. Roth, Mater. Sci. Rep. 3, 1 (1988).
25. F. Priolo, A. Battaglia, C. Spinella, and E. Rimini, in Surface Chemistry and Beam-Solid Interactions, edited by H. Atwater, F. A. Houle, and D. Lowndes, MRS Symposia Proceedings No. 201 (Materials Research Society, Pittsburgh, 1991), p. 345.
26. P. D. Pensans, A. Ruppert, and B. Abeles, J. Non-Cryst. Solids 102, 130 (1988).
27. M. Zacharias and P. Streitenberger, Phys. Rev. B 62, 8391 (2000).
28. M. Zacharias, J. Blasing, P. Veit, L. Tsybeskov, K. Hirshman, and P. M. Fauchet, Appl. Phys. Lett. 74, 2614 (1999).
29. G. A. Kachurin, M. O. Ruault, A. K. Gutakovsky, O. Kaitasov, S. G. Yanovskaya, and K. S. Zhuravlev, and H. Bernas, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B 147, 356 (1999).
30. S. Cheylan, N. Langford, and R. G. Elliman, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B 166-167, 851 (2000).
31. J. P. Biersack and L. G. Haggmark, Nucl. Instrum. Methods 174, 257 (1980).
32. J. F. Ziegler, J. P. Biersack, and U. Littmark, The Stopping and Range of Ions in Solids (Pergamon, New York, 1985).
33. L. Pavesi, J. Appl. Phys. 80, 216 (1996).
34. S. Roorda, W. C. Sinke, J. M. Poate, D. C. Jacobson, S. Dieker, B. S. Dennis, D. J. Eaglesham, F. Spaepen, and P. Fuoss, Phys. Rev. B 44, 3702 (1991).
35. S. Coffa, F. Priolo, and A. Battaglia, Phys. Rev. Lett. 70, 3756 (1993).
36. C. Spinella, S. Lombardo, and F. Priolo, J. Appl. Phys. 84, 5383 (1998).