Photoelectron spectroscopy of wet and gaseous samples through graphene membranes

Nanoscale

Volumn 6, Issue 23, 2014, Pages 14394-14403

  Kraus, Jürgen ^a   Reichelt, Robert ^a   Günther, Sebastian ^a   Gregoratti, Luca ^b   Amati, Matteo ^b   Kiskinova, Maya ^b   Yulaev, Alexander ^c,e   Vlassiouk, Ivan ^d   Kolmakov, Andrei ^e  

^a TECHNICAL UNIVERSITY OF MUNICH   (Germany)

^b SINCROTRONE TRIESTE   (Italy)

^c UNIVERSITY OF MARYLAND   (United States)

^d OAK RIDGE NATIONAL LABORATORY   (United States)

^e NATIONAL INSTITUTE OF STANDARDS AND TECHNOLOGY   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ELECTRON ENERGY LEVELS; FLOW OF GASES; GRAPHENE; LIQUEFIED GASES; PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY; PHOTOELECTRONS; PHOTONS; X RAYS;

ELECTRON MEAN FREE PATH; ENVIRONMENTAL CELLS; MECHANICALLY ROBUST; PROOF-OF-PRINCIPLE EXPERIMENTS; REALISTIC CONDITIONS; SAMPLE ENVIRONMENT; SOLID-GAS INTERFACE; WIDE ENERGY RANGE;

PHASE INTERFACES;

EID: 84908892379     PISSN: 20403364     EISSN: 20403372     Source Type: Journal    
DOI: 10.1039/c4nr03561e     Document Type: Article

References (66)

1. A. Knop-Gericke, E. Kleimenov, M. Hävecker, R. Blume, D. Teschner, S. Zafeiratos, R. Schlögl, V. I. Bukhtiyarov, V. V. Kaichev and I. P. Prosvirin, Adv. Catal., 2009, 52, 213-272.
2. G. A. Somorjai, R. L. York, D. Butcher and J. Y. Park, Phys. Chem. Chem. Phys., 2007, 9, 3500-3513.
3. C. Zhang, M. E. Grass, A. H. McDaniel, S. C. DeCaluwe, F. El Gabaly, Z. Liu, K. F. McCarty, R. L. Farrow, M. A. Linne and Z. Hussain, Nat. Mater., 2010, 9, 944-949.
4. Y.-C. Lu, E. J. Crumlin, G. M. Veith, J. R. Harding, E. Mutoro, L. Baggetto, N. J. Dudney, Z. Liu and Y. Shao-Horn, Sci. Rep., 2012, 2.
5. S. Ghosal, J. C. Hemminger, H. Bluhm, B. S. Mun, E. L. Hebenstreit, G. Ketteler, D. F. Ogletree, F. G. Requejo and M. Salmeron, Science, 2005, 307, 563-566.
6. G. Ketteler, P. Ashby, B. S. Mun, I. Ratera, H. Bluhm, B. Kasemo and M. Salmeron, J. Phys.: Condens. Matter, 2008, 20.
7. H. Siegbahn and K. Siegbahn, J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom., 1973, 2, 319-325.
8. H. Siegbarn, L. Asplund, P. Kelfve, K. Hamrin, L. Karlsson and K. Siegbahn, J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom., 1974, 5, 1059-1079.
9. B. Winter and M. Faubel, Chem. Rev., 2006, 106, 1176-1211.
10. M. A. Brown, I. Jordan, A. B. Redondo, A. Kleibert, H. J. Wörner and J. A. van Bokhoven, Surf. Sci., 2013, 610, 1-6.
11. D. E. Starr, E. K. Wong, D. R. Worsnop, K. R. Wilson and H. Bluhm, Phys. Chem. Chem. Phys., 2008, 10, 3093-3098.
12. H. Siegbahn, J. Phys. Chem., 1985, 89, 897-909.
13. M. Amati, M. K. Abyaneh and L. Gregoratti, J. Inst., 2013, 8, T05001.
14. R. W. Joyner, M. W. Roberts and K. Yates, Surf. Sci., 1979, 87, 501-509.
15. H. Ruppender, M. Grunze, C. Kong and M. Wilmers, Surf. Interface Anal., 1990, 15, 245-253.
16. D. F. Ogletree, H. Bluhm, G. Lebedev, C. S. Fadley, Z. Hussain and M. Salmeron, Rev. Sci. Instrum., 2002, 73, 3872-3877.
17. M. Salmeron and R. Schlogl, Surf. Sci. Rep., 2008, 63, 169-199.
18. D. E. Starr, Z. Liu, M. Hävecker, A. Knop-Gericke and H. Bluhm, Chem. Soc. Rev., 2013, 42, 5833-5857.
19. B. S. Mun, H. Kondoh, Z. Liu, P. N. Ross Jr. and Z. Hussain, in Current Trends of Surface Science and Catalysis, Springer, 2014, pp. 197-229.
20. F. Tao, Chemcatchem, 2012, 4, 583-590.
21. A. Jurgensen, N. Esser and R. Hergenroder, Surf. Interface Anal., 2012, 44, 1100-1103.
22. K. Roy, C. Vinod and C. S. Gopinath, J. Phys. Chem. C, 2013, 117, 4717-4726.
23. J. Schnadt, J. Knudsen, J. N. Andersen, H. Siegbahn, A. Pietzsch, F. Hennies, N. Johansson, N. Martensson, G. Ohrwall and S. Bahr, J. Synchrotron Radiat., 2012, 19, 701-704.
24. D. Frank Ogletree, H. Bluhm, E. D. Hebenstreit and M. Salmeron, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., Sect A, 2009, 601, 151-160.
25. A. Jablonski and C. J. Powell, J. Vac. Sci. Technol., A, 2009, 27, 253-261.
26. D. Briggs and M. P. Seah, Practical Surface Analysis by Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy, John Wiley & Sons Ltd, 1983.
27. V. Ballarotto, M. Breban, K. Siegrist, R. Phaneuf and E. Williams, J. Vac. Sci. Technol., B, 2002, 20, 2514-2518.
28. T. Wakita, T. Taniuchi, K. Ono, M. Suzuki, N. Kawamura, M. Takagaki, H. Miyagawa, F. Guo, T. Nakamura and T. Muro, Jpn. J. Appl. Phys., 2006, 45, 1886.
29. K. Kobayashi, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., Sec. A, 2009, 601, 32-47.
30. T. Masuda, H. Yoshikawa, H. Noguchi, T. Kawasaki, M. Kobata, K. Kobayashi and K. Uosaki, Appl. Phys. Lett., 2013, 103, 111605-111610.
31. C. E. Bryson, F. J. Grunthaner and P. J. Grunthane, US Patent, US 6803570 B1, 2004.
32. I. M. Abrams and J. W. McBain, J. Appl. Phys., 1944, 15, 607-609.
33. N. de Jonge and F. M. Ross, Nat. Nanotechnol., 2011, 6, 695-704.
34. K. Novoselov, D. Jiang, F. Schedin, T. Booth, V. Khotkevich, S. Morozov and A. Geim, Proc. Natl. Acad. Sci. U. S. A., 2005, 102, 10451-10453.
35. S. Park and R. S. Ruoff, Nat. Nanotechnol., 2009, 4, 217-224.
36. J. Mutus, L. Livadaru, J. Robinson, R. Urban, M. Salomons, M. Cloutier and R. Wolkow, New J. Phys., 2011, 13, 063011.
37. A. Kolmakov, D. A. Dikin, L. J. Cote, J. Huang, M. K. Abyaneh, M. Amati, L. Gregoratti, S. Günther and M. Kiskinova, Nat. Nanotechnol., 2011, 6, 651-657.
38. J. D. Stoll and A. Kolmakov, Nanotechnology, 2012, 23, 505704.
39. J. S. Bunch, S. S. Verbridge, J. S. Alden, A. M. van der Zande, J. M. Parpia, H. G. Craighead and P. L. McEuen, Nano Lett., 2008, 8, 2458-2462.
40. J. M. Yuk, J. Park, P. Ercius, K. Kim, D. J. Hellebusch, M. F. Crommie, J. Y. Lee, A. Zettl and A. P. Alivisatos, Science, 2012, 336, 61-64.
41. J. W. Suk, A. Kitt, C. W. Magnuson, Y. Hao, S. Ahmed, J. An, A. K. Swan, B. B. Goldberg and R. S. Ruoff, ACS Nano, 2011, 5, 6916-6924.
42. C. Powell and A. Jablonski, Surf. Interface Anal., 2002, 33, 211-229.
43. X. Li, W. Cai, J. An, S. Kim, J. Nah, D. Yang, R. Piner, A. Velamakanni, I. Jung, E. Tutuc, S. K. Banerjee, L. Colombo and R. S. Ruoff, Science, 2009, 324, 1312-1314.
44. A. Barinov, P. Dudin, L. Gregoratti, A. Locatelli, T. O. Mentes, M. A. Nino and M. Kiskinova, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., Sect. A, 2009, 601, 195-202.
45. H. I. Rasool, E. B. Song, M. Mecklenburg, B. Regan, K. L. Wang, B. H. Weiller and J. K. Gimzewski, J. Am. Chem. Soc., 2011, 133, 12536-12543.
46. J. Cho, L. Gao, J. Tian, H. Cao, W. Wu, Q. Yu, E. N. Yitamben, B. Fisher, J. R. Guest and Y. P. Chen, ACS Nano, 2011, 5, 3607-3613.
47. L. Gao, J. R. Guest and N. P. Guisinger, Nano Lett., 2010, 10, 3512-3516.
48. J. Kraus, S. Böcklein, R. Reichelt, S. Günther, B. Santos, T. O. Menteş and A. Locatelli, Carbon, 2013, 64, 377-390.
49. S. Tanuma, C. Powell and D. Penn, Surf. Interface Anal., 2011, 43, 689-713.
50. M. Xu, D. Fujita, J. Gao and N. Hanagata, ACS Nano, 2010, 4, 2937-2945.
51. H. Hövel and I. Barke, Prog. Surf. Sci., 2006, 81, 53-111.
52. M. Büttner and P. Oelhafen, Surf. Sci., 2006, 600, 1170-1177.
53. G. Ketteler, S. Yamamoto, H. Bluhm, K. Andersson, D. E. Starr, D. F. Ogletree, H. Ogasawara, A. Nilsson and M. Salmeron, J. Phys. Chem. C, 2007, 111, 8278-8282.
54. K. M. Lange, A. Kothe and E. F. Aziz, Phys. Chem. Chem. Phys., 2012, 14, 5331-5338.
55. E. Stolyarova, D. Stolyarov, K. Bolotin, S. Ryu, L. Liu, K. Rim, M. Klima, M. Hybertsen, I. Pogorelsky and I. Pavlishin, Nano Lett., 2008, 9, 332-337.
56. K. Xu, P. Cao and J. R. Heath, Science, 2010, 329, 1188-1191.
57. J. M. Grogan, N. M. Schneider, F. M. Ross and H. H. Bau, Nano Lett., 2014, 14, 359-364.
58. C. Royall, B. Thiel and A. Donald, J. Microsc., 2001, 204, 185-195.
59. S. Thiberge, O. Zik and E. Moses, Rev. Sci. Instrum., 2004, 75, 2280-2289.
60. R. D. Leapman and S. Sun, Ultramicroscopy, 1995, 59, 71-79.
61. L. Wang, J. J. Travis, A. S. Cavanagh, X. Liu, S. P. Koenig, P. Y. Huang, S. M. George and J. S. Bunch, Nano Lett., 2012, 12, 3706-3710.
62. A. Neto and K. Novoselov, Mater. Express, 2011, 1, 10-17.
63. F. Zaera, Chem. Rev., 2012, 112, 2920-2986.
64. X. Li, Y. Zhu, W. Cai, M. Borysiak, B. Han, D. Chen, R. D. Piner, L. Colombo and R. S. Ruoff, Nano Lett., 2009, 9, 4359-4363.
65. M. K. Abyaneh, L. Gregoratti, M. Amati, M. Dalmiglio and M. Kiskinova, J. Surf. Sci. Nanotechnol., 2011, 9, 158-162.
66. J. More, Numer. Anal., 1978, 105-116.