A combined droplet train and ambient pressure photoemission spectrometer for the investigation of liquid/vapor interfaces

Physical Chemistry Chemical Physics

Volumn 10, Issue 21, 2008, Pages 3093-3098

  Starr, David E ^a,c   Wong, Ed K ^a   Worsnop, Douglas R ^b   Wilson, Kevin R ^a   Bluhm, Hendrik ^a  

^a LAWRENCE BERKELEY NATIONAL LABORATORY   (United States)

^b AERODYNE RESEARCH INC   (United States)

^c BROOKHAVEN NATIONAL LABORATORY   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

METHANOL; WATER;

ARTICLE; CHEMISTRY; GAS; INSTRUMENTATION; METHODOLOGY; PHOTOCHEMISTRY; PRESSURE; SPECTROPHOTOMETRY;

GASES; METHANOL; PHOTOCHEMISTRY; PRESSURE; SPECTROPHOTOMETRY; WATER;

EID: 46749110361     PISSN: 14639076     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1039/b800717a     Document Type: Article

References (51)

1. J. M. Van Doren L. R. Watson P. Davidovits D. R. Worsnop M. S. Zahniser C. E. Kolb J. Phys. Chem. 1990 94 3265
2. E. Knipping M. J. Lakin K. L. Foster P. Jungwirth D. J. Tobias R. B. Gerber D. Dabdub B. Finlayson-Pitts Science 2000 288 301
3. P. Jungwirth D. Tobias J. Phys. Chem. B 2002 106 6361
4. S. Ghosal J. C. Hemminger H. Bluhm B. S. Mun E. L. D. Hebenstreit G. Ketteler D. F. Ogletree F. G. Requejo M. Salmeron Science 2005 307 563
5. A. Döppenschmidt M. Kappl H.-J. Butt J. Phys. Chem. B 1998 102 7813
6. H. Bluhm M. Salmeron J. Chem. Phys. 1999 111 6947
7. Y. R. Shen V. Ostroverkhov Chem. Rev. 2006 106 1140
8. X. Wei P. B. Miranda Y. R. Shen Phys. Rev. Lett. 2001 86 1554
9. S. Huefner, Photoelectron Spectroscopy, Springer, Berlin, 1995
10. H. Siegbahn K. Siegbahn J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1973 2 319
11. H. Siegbahn J. Phys. Chem. 1985 89 897
12. H. Fellner-Feldegg H. Siegbahn L. Asplund P. Kefve K. Siegbahn J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1975 7 421
13. R. W. Joyner M. W. Roberts K. Yates Surf. Sci. 1979 87 501
14. K. von Burg P. Delehay Chem. Phys. Lett. 1981 78 287
15. R. E. Ballard R. E. Jones D. Read Chem. Phys. Lett. 1985 121 45
16. M. A. Kelly M. L. Shek P. Pianetta T. M. Gür M. R. Beasley J. Vac. Sci. Technol., A 2001 19 2127
17. H.-J. Ruppender M. Grunze C. W. Kong M. Wilmers Surf. Interface Anal. 1990 15 245
18. J. Pantförder S. Pöllmann J. F. Zhu D. Borgmann R. Denecke H.-P. Steinrück Rev. Sci. Instrum. 2005 76 014102
19. D. F. Ogletree H. Bluhm G. Lebedev C. S. Fadley Z. Hussain M. Salmeron Rev. Sci. Instrum. 2002 73 3872
20. H. Bluhm K. Andersson T. Araki K. Benzerara G. E. Brown J. J. Dynes S. Ghosal M. K. Gilles H.-Ch. Hansen J. C. Hemminger A. P. Hitchcock G. Ketteler A. L. D. Kilcoyne E. Kneedler J. R. Lawrence G. G. Leppard J. Majzlam B. S. Mun S. C. B. Myneni A. Nilsson H. Ogasawara D. F. Ogletree K. Pecher M. Salmeron D. K. Shuh B. Tonner T. Tyliszczak T. Warwick T. H. Yoon J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 2006 150 86
21. H. Bluhm, M. Hävecker, K. Ihmann, E. Kleimenov, D. Teschner, D. F. Ogletree, M. Salmeron, A. Knop-Gericke, R. Schlögl, in preparation
22. Y. Harada S. Masuda H. Ozaki Chem. Rev. 1997 97 1897
23. H. Morgner Adv. At., Mol., Opt. Phys. 2000 42 387
24. W. Keller H. Morgner W. A. Müller Mol. Phys. 1986 57 623
25. H. Siegbahn S. Svensson M. Lundholm J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1981 24 205
26. R. Moberg F. Bökman O. Bohman H. Siegbahn J. Am. Chem. Soc. 1991 113 3663
27. B. Winter R. Weber W. Widdra M. Dittmar M. Faubel I. V. Hertel J. Phys. Chem. A 2004 108 2625
28. B. Winter R. Weber I. V. Hertel M. Faubel P. Jungwirth E. C. Brown S. E. Bradforth J. Am. Chem. Soc. 2005 127 7203
29. J. A. Gardner L. R. Watson Y. G. Adewuyi P. Davidovits M. S. Zahniser D. R. Worsnop C. E. Kolb J. Geophys. Res., [Atmos.] 1987 92 10887
30. D. R. Worsnop M. S. Zahniser C. E. Kolb J. A. Gardner L. R. Watson J. M. Van Doren J. T. Jayne P. Davidovits J. Phys. Chem. 1989 93 1159
31. D. R. Worsnop, personal communication
32. Dynamax Solvent Delivery System SD-200, Rainin Instrument Company, Inc., Woburn, MA
33. Swagelok Co., Solon, OH
34. O'Keefe Controls Co., Trumbull, CT
35. Morgan Electro Ceramics Inc., Bedford, OH; PZT8 Ring, OD 38 mm, ID 15 mm, thickness 6.3 mm
36. J. J. Yeh I. Lindau At. Data Nucl. Data Tables 1985 32 1
37. See, e.g., K. Siegbahn, C. Nordling, G. Johansson, J. Hedman, P. F. Hedén, K. Hamrin, U. Gelius, T. Bergmark, L. O. Werme, R. Manne and Y. Baer, ESCA Applied to Free Molecules, North-Holland, Amsterdam, 1969, pp. 56-60
38. See, e.g., J. H. Thomas III, in Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis, ed., A. W. Czanderna,,, C. J. Powell, and, T. E. Madey,, Springer, Berlin, 1999, p. 1
39. T.-M. Chang L. X. Dang J. Phys. Chem. B 2005 109 5759
40. L. Pártay P. Jedlovszky Á. Vincze G. Horvai J. Phys. Chem. B 2005 109 20493
41. R. Superfine J. Y. Huang Y. R. Shen Phys. Rev. Lett. 1991 66 1066
42. C. D. Stanners Q. Du R. P. Chin P. Cremer G. A. Somorjai Y. R. Shen Chem. Phys. Lett. 1995 232 407
43. K. Wolfrum H. Graener A. Laubereau Chem. Phys. Lett. 1993 213 41
44. H. Chen W. Gan R. Lu Y. Guo H. Wang J. Phys. Chem. B 2005 109 8064
45. M. Wiklund A. Jaworowski F. Strisland A. Beutler A. Sandell R. Nyholm S. L. Sorensen J. N. Andersen Surf. Sci. 1998 408 210
46. M. L. McGlashan A. G. Williamson J. Chem. Eng. Data 1976 21 196
47. S. Tanuma C. J. Powell D. R. Penn Surf. Interface Anal. 1988 11 577
48. J. G. Eberhart J. Phys. Chem. 1966 70 1183
49. CRC Handbook of Chemistry and Physics, CRC Press, New York, 60th edn, 1979
50. A. Ozkan J. Colloid Interface Sci. 2004 277 437
51. Transport Properties and Related Thermodynamic Data of Binary Mixtures, Part 3, ed., Q. Dong,,, K. N. Marsh,,, B. E. Gammon, and, A. K. R. Dewan,, Design Institute for Physical Property Data, New York, 1996, p. 298