-
1
-
-
84885008762
-
-
Levy, D. H.; Ellinger, C. R.; Nelson, S. F. Appl. Phys. Lett. 2013, 103 (4) 043505
-
(2013)
Appl. Phys. Lett.
, vol.103
, Issue.4
, pp. 043505
-
-
Levy, D.H.1
Ellinger, C.R.2
Nelson, S.F.3
-
3
-
-
85008002412
-
-
Levy, D. H.; Nelson, S. F.; Freeman, D. J. Display Technol. 2009, 5, 484
-
(2009)
J. Display Technol.
, vol.5
, pp. 484
-
-
Levy, D.H.1
Nelson, S.F.2
Freeman, D.3
-
4
-
-
84875747069
-
-
Levy, D. H.; Nelson, S. F. J. Vac. Sci. Technol., A 2012, 30, 1
-
(2012)
J. Vac. Sci. Technol., A
, vol.30
, pp. 1
-
-
Levy, D.H.1
Nelson, S.F.2
-
5
-
-
47249137019
-
-
Sun, J.; Mourey, D.; Zhao, D.; Park, S. K.; Nelson, S. F.; Levy, D. H.; Freeman, D.; Cowdery-Corvan, P.; Tutt, L.; Jackson, T. N. IEEE EDL 2008, 29, 721
-
(2008)
IEEE EDL
, vol.29
, pp. 721
-
-
Sun, J.1
Mourey, D.2
Zhao, D.3
Park, S.K.4
Nelson, S.F.5
Levy, D.H.6
Freeman, D.7
Cowdery-Corvan, P.8
Tutt, L.9
Jackson, T.N.10
-
6
-
-
44049087683
-
-
Levy, D. H.; Nelson, S. F.; Freeman, D.; Cowdery-Corvan, P. J. Appl. Phys. Lett. 2008, 92, 192101
-
(2008)
Appl. Phys. Lett.
, vol.92
, pp. 192101
-
-
Levy, D.H.1
Nelson, S.F.2
Freeman, D.3
Cowdery-Corvan, P.J.4
-
7
-
-
77955720046
-
-
Poodt, P.; Lankhorst, A.; Roozeboom, F.; Spee, K.; Maas, D.; Vermeer, A. Adv. Mater. 2010, 22, 3564
-
(2010)
Adv. Mater.
, vol.22
, pp. 3564
-
-
Poodt, P.1
Lankhorst, A.2
Roozeboom, F.3
Spee, K.4
Maas, D.5
Vermeer, A.6
-
8
-
-
84855612491
-
-
Poodt, P.; Knaapen, R.; Illiberi, A.; Roozeboom, F.; van Asten, A. J. Vac. Sci. Technol., A. 2012, 30 (1) 01A142
-
(2012)
J. Vac. Sci. Technol., A.
, vol.30
, Issue.1
-
-
Poodt, P.1
Knaapen, R.2
Illiberi, A.3
Roozeboom, F.4
Van Asten, A.5
-
9
-
-
84856264398
-
-
Illiberi, A.; Roozeboom, F.; Poodt, P. Appl. Mater. Interfaces 2012, 4 (10) 268-272
-
(2012)
Appl. Mater. Interfaces
, vol.4
, Issue.10
, pp. 268-272
-
-
Illiberi, A.1
Roozeboom, F.2
Poodt, P.3
-
10
-
-
79957608920
-
-
Maydannik, P. S.; Kääriäinen, T. O.; Cameron, D. C. Chem. Eng. J. 2011, 171, 345
-
(2011)
Chem. Eng. J.
, vol.171
, pp. 345
-
-
Maydannik, P.S.1
Kääriäinen, T.O.2
Cameron, D.C.3
-
11
-
-
84855585776
-
-
Nelson, S. F.; Levy, D. H.; Tutt, L. W.; Burberry, M. J. Vac. Sci. Technol., A. 2012, 30 (1) 01A154-1-01A154-6
-
(2012)
J. Vac. Sci. Technol., A.
, vol.30
, Issue.1
-
-
Nelson, S.F.1
Levy, D.H.2
Tutt, L.W.3
Burberry, M.4
-
13
-
-
18644382518
-
-
Park, K. J.; Doub, J. M.; Gougousi, T.; Parsons, G. N. Appl. Phys. Lett. 2005, 86, 051903
-
(2005)
Appl. Phys. Lett.
, vol.86
, pp. 051903
-
-
Park, K.J.1
Doub, J.M.2
Gougousi, T.3
Parsons, G.N.4
-
15
-
-
0035839824
-
-
Yan, M.; Koide, Y.; Babcock, J. R.; Markworth, P. R.; Belot, J. A.; Marks, T. J.; Chang, R. P. H. Appl. Phys. Lett. 2001, 79, 1709
-
(2001)
Appl. Phys. Lett.
, vol.79
, pp. 1709
-
-
Yan, M.1
Koide, Y.2
Babcock, J.R.3
Markworth, P.R.4
Belot, J.A.5
Marks, T.J.6
Chang, R.P.H.7
-
16
-
-
72249105793
-
-
Färm, E.; Kemell, M.; Santala, E.; Ritala, M.; Leskelä, M. J. Electrochem. Soc. 2010, 157 (1) K10-K14
-
(2010)
J. Electrochem. Soc.
, vol.157
, Issue.1
-
-
Färm, E.1
Kemell, M.2
Santala, E.3
Ritala, M.4
Leskelä, M.5
-
17
-
-
54849404190
-
-
Färm, E.; Kemell, M.; Ritala, M.; Leskelä, M. J. Phys. Chem. C 2008, 112, 15791-15795
-
(2008)
J. Phys. Chem. C
, vol.112
, pp. 15791-15795
-
-
Färm, E.1
Kemell, M.2
Ritala, M.3
Leskelä, M.4
-
18
-
-
34648829841
-
-
Sinha, A.; Hess, D. W.; Henderson, C. L. J. Vac. Sci. Technol., B 2007, 25, 1721
-
(2007)
J. Vac. Sci. Technol., B
, vol.25
, pp. 1721
-
-
Sinha, A.1
Hess, D.W.2
Henderson, C.L.3
-
19
-
-
45749143585
-
-
Sinha, A.; Henderson, C.; Hess, D. W. ECS Transactions 2007, 3 (15) 233-241
-
(2007)
ECS Transactions
, vol.3
, Issue.15
, pp. 233-241
-
-
Sinha, A.1
Henderson, C.2
Hess, D.W.3
-
20
-
-
0041528510
-
-
Cho, W.; Sung, K.; An, K.-S.; Lee, S. S.; Chung, T.-M.; Kim, Y. J. Vac. Sci. Technol., A. 2003, 21 (4) 1366-1370
-
(2003)
J. Vac. Sci. Technol., A.
, vol.21
, Issue.4
, pp. 1366-1370
-
-
Cho, W.1
Sung, K.2
An, K.-S.3
Lee, S.S.4
Chung, T.-M.5
Kim, Y.6
-
21
-
-
84858023603
-
-
Potts, S. E.; Dingemans, G.; Lachaud, C.; Kessels, W. M. M. J. Vac. Sci. Technol., A. 2012, 30 (2) 021505
-
(2012)
J. Vac. Sci. Technol., A.
, vol.30
, Issue.2
, pp. 021505
-
-
Potts, S.E.1
Dingemans, G.2
Lachaud, C.3
Kessels, W.M.M.4
-
22
-
-
84864224075
-
-
Lee, S. S.; Lee, E.-S.; Kim, S. H.; Lee, B. K.; Jeong, S. J.; Hwang, J. H.; Kim, C. G.; Chung, T.-M.; An, K.-S. Bull. Korean Chem. Soc. 2012, 33 (7) 2207-2212
-
(2012)
Bull. Korean Chem. Soc.
, vol.33
, Issue.7
, pp. 2207-2212
-
-
Lee, S.S.1
Lee, E.-S.2
Kim, S.H.3
Lee, B.K.4
Jeong, S.J.5
Hwang, J.H.6
Kim, C.G.7
Chung, T.-M.8
An, K.-S.9
-
23
-
-
1242320224
-
-
Groner, M. D.; Fabreguette, F. H.; Elam, J. W.; George, S. M. Chem. Mater. 2004, 16, 639-645
-
(2004)
Chem. Mater.
, vol.16
, pp. 639-645
-
-
Groner, M.D.1
Fabreguette, F.H.2
Elam, J.W.3
George, S.M.4
-
24
-
-
77957074484
-
-
Min, Y.-S.; An, C. J.; Kim, S. K.; Song, J.; Hwang, C. S. Bull. Korean Chem. Soc. 2010, 31 (9) 2503-2508
-
(2010)
Bull. Korean Chem. Soc.
, vol.31
, Issue.9
, pp. 2503-2508
-
-
Min, Y.-S.1
An, C.J.2
Kim, S.K.3
Song, J.4
Hwang, C.S.5
-
25
-
-
28044471578
-
-
Wilson, C. A.; Grubbs, R. K.; George, S. M. Chem. Mater. 2005, 17, 5625-5634
-
(2005)
Chem. Mater.
, vol.17
, pp. 5625-5634
-
-
Wilson, C.A.1
Grubbs, R.K.2
George, S.M.3
-
27
-
-
84879589899
-
-
Bhattacharya, S.; Sharma, D. K.; Saurabh, S.; De, S.; Sain, A.; Nandi, A.; Chowdhury, A. J. Phys. Chem. B 2013, 117 (25) 7771-7782
-
(2013)
J. Phys. Chem. B
, vol.117
, Issue.25
, pp. 7771-7782
-
-
Bhattacharya, S.1
Sharma, D.K.2
Saurabh, S.3
De, S.4
Sain, A.5
Nandi, A.6
Chowdhury, A.7
-
28
-
-
0037057305
-
-
Fitzpatrick, S.; McCabe, J. F.; Petts, C. R.; Booth, S. W. Int. J. Pharm. 2002, 246, 143-151
-
(2002)
Int. J. Pharm.
, vol.246
, pp. 143-151
-
-
Fitzpatrick, S.1
McCabe, J.F.2
Petts, C.R.3
Booth, S.W.4
|