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Volumn 112, Issue 12, 2012, Pages

Spectroscopic imaging ellipsometry and Fano resonance modeling of graphene

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ATOMIC FORCE MICROSCOPY; GRAPHENE; REFRACTIVE INDEX; RESONANCE; SILICON;

EID: 84879074605     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.4771875     Document Type: Article
Times cited : (61)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.