High spatial resolution ellipsometer for characterization of epitaxial graphene

Optics Letters

Volumn 35, Issue 20, 2010, Pages 3336-3338

  Gaskell, Peter E ^a   Skulason, Helgi S ^a   Strupinski, Wlodek ^b   Szkopek, Thomas ^a  

^a MCGILL UNIVERSITY   (Canada)

^b Department of Micro and Nanotechnology of Wide Bandgap Semiconductors   (Poland)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ELLIPSOMETERS; EPITAXIAL GRAPHENE; EPITAXIALLY GROWN; GRAPHENE LAYERS; HIGH SPATIAL RESOLUTION; IMAGING ELEMENTS; LAYER NUMBER; SPOT SIZES;

ELLIPSOMETRY; IMAGE RESOLUTION; REFRACTIVE INDEX; SILICON CARBIDE;

GRAPHENE;

EID: 78549290690     PISSN: 01469592     EISSN: 15394794     Source Type: Journal    
DOI: 10.1364/OL.35.003336     Document Type: Article

References (21)

1. J. T. Grant and T. W. Haas, Surf. Sci. 21, 76 (1970).
2. W. A. de Heer, C. Berger, X. Wu, P. N. First, E. H. Conrad, X. Li, T. Li, M. Sprinkle, J. Hass, M. L. Sadowski, M. Potemski, and G. Martinez, Solid State Commun. 143, 92 (2007).
3. A. Reina, X. Jia, J. Ho, D. Nezich, H. Son, V. Bulovic, M. S. Dresselhaus, and J. Kong, Nano Lett. 9, 30 (2009).
4. K. S. Kim, Y. Zhao, H. Jang, S. Y. Lee, J. M. Kim, K. S. Kim, J.-H. Ahn, P. Kim, J.-Y. Choi, and B. H. Hong, Nature 457, 706 (2009).
5. X. Li, W. Cai, J. An, S. Kim, J. Nah, D. Yang, R. Piner, A. Velamakanni, I. Jung, E. Tutuc, S. Banerjee, L. Colombo, and R. Ruoff, Science 324, 1312 (2009).
6. L. M. Malard, M. A. Pimenta, G. Dresselhaus, and M. S. Dresselhaus, Phys. Rep. 473, 51 (2009).
7. A. Das, S. Pisana, B. Chakraborty, S. Piscanec, S. K. Saha, U. V. Waghmare, K. S. Novoselov, H. R. Krishnamurthy, A. K. Geim, A. C. Ferrari, and A. K. Sood, Nat. Nanotechnol. 3, 210 (2008).
8. T. Mohiuddin, A. Lombardo, R. Nair, A. Bonetti, G. Savini, R. Jalil, N. Bonini, D. Basko, C. Galiotis, N. Marzari, K. Novoselov, A. Geim, and A. Ferrari, Phys. Rev. B 79, 205433 (2009).
9. P. Blake, E. Hill, A. Neto, K. Novoselov, and D. Jiang, Appl. Phys. Lett. 91, 063124 (2007).
10. P. E. Gaskell, H. S. Skulason, C. Rodenchuk, and T. Szkopek, Appl. Phys. Lett. 94, 143101 (2009).
11. V. Meera and G. S. Setlur, J. Appl. Phys. 107, 033525 (2010).
12. V. G. Kravets, A. N. Grigorenko, R. R. Nair, P. Blake, S. Anissimova, K. S. Novoselov, and A. K. Geim, Phys. Rev. B 81, 155413 (2010).
13. D. S. L. Abergel, A. Russell, and V. I. Fal'ko, Appl. Phys. Lett. 91, 063125 (2007).
14. L. Falkovsky and A. Varlamov, Eur. Phys. J. B 56, 281 (2007).
15. T. Stauber, N. M. R. Peres, and A. K. Geim, Phys. Rev. B 78, 085432 (2008).
16. R. R. Nair, P. Blake, A. N. Grigorenko, K. S. Novoselov, T. J. Booth, T. Stauber, N. M. R. Peres, and A. K. Geim, Science 320, 1308 (2008).
17. K. F. Mak, M. Y. Sfeir, Y. Wu, C. H. Lui, J. A. Misewich, and T. F. Heinz, Phys. Rev. Lett. 101, 196405 (2008).
18. U. Neuschaefer-Rube, W. Holzapfel, and F. Wirth, Measurement 33, 163 (2003).
19. J. Krupka and W. Strupinski, Appl. Phys. Lett. 96, 082101 (2010).
20. K. Novoselov, D. Jiang, F. Schedin, T. Booth, V. Khotkevich, S. Morozov, and A. Geim, Proc. Natl. Acad. Sci. USA 102, 10451 (2005).
21. D. Teweldebrhan, V. Goyal, M. Rahman, and A. A. Balandin, Appl. Phys. Lett. 96, 053107 (2010).