High resolution imaging of few-layer graphene

Journal of Applied Physics

Volumn 111, Issue 6, 2012, Pages

  Albrektsen, O ^a   Eriksen, R L ^a   Novikov, S M ^a   Schall, D ^b   Karl, M ^b   Bozhevolnyi, S I ^a   Simonsen, A C ^a  

^a UNIVERSITY OF SOUTHERN DENMARK   (Denmark)

^b AMO GMBH   (Germany)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

AFM; ATOMIC FORCE MICROSCOPIES (AFM); BI-LAYER; COMPARATIVE STUDIES; CONFOCAL RAMAN MICROSCOPY; ELECTRONIC ORIGIN; ELLIPSOMETRIC SPECTRA; FEW-LAYER GRAPHENE; GRAPHENE LAYERS; HIGH RESOLUTION; HIGH-RESOLUTION IMAGING; IMAGING ELLIPSOMETRY; OPTICAL REFLECTION; RAMAN IMAGES; REFLECTION SPECTRA; SLAB MODEL; STACKING ORDER; THICKNESS MAP;

ELLIPSOMETRY; GRAPHENE; OPTICAL CONSTANTS; PIXELS;

ATOMIC FORCE MICROSCOPY;

EID: 84859555749     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.3694660     Document Type: Article

References (49)

1. K. S. Novoselov, A. K. Geim, S. V. Morozov, D. Jiang, Y. Zhang, S. V. Dubonos, I. V. Grigorieva, and A. A. Firsov, Science 306, 666 (2004). 10.1126/science.1102896
2. S. Das Sarma, A. K. Geim, P. Kim, and A. H. McDonald, Eds., special issue in Solid State Commun. 143, 1 (2007).
3. A. K. Geim, Science 324, 1530 (2009). 10.1126/science.1158877
4. A.H. Castro Neto, F. Guinea, N. M. R. Peres, K. S. Novoselov and A. K. Geim, Rev. Mod. Phys. 81, 109 (2009). 10.1103/RevModPhys.81.109
5. A. K. Geim and K. S. Novoselov, Nature Mater. 6, 183 (2007). 10.1038/nmat1849
6. M. Freitag, Nat. Nanotechnol. 3, 455 (2008). 10.1038/nnano.2008.219
7. F. Bonaccorso, Z. Sun, T. Hasan, and A. C. Ferrari, Nature Photon. 4, 611 (2010). 10.1038/nphoton.2010.186
8. N. Papasimakis, Z. Luo, Z. X. Shen, F. De Angelis, E. Di Fabrizio, A. E. Nikolaenko, and N. I. Zheludev, Optics Exp. 18, 8353 (2010). 10.1364/OE.18.008353
9. F. H. Koppens, D. E. Chang, and F. J. Garcia de Abajo, Nano Lett. 11, 3370 (2011). 10.1021/nl201771h
10. F. Schedin, E. Lidorokis, A. Lombardo, V. G. Kravets, A. K. Geim, A. N. Grigorenko, K. S. Novoselov, and A. C. Ferrari, ACS Nano 4, 5617 (2010). 10.1021/nn1010842
11. T. J. Echtermeyer, L. Britnell, P. K. Jasnos, A. Lombardo, R. V. Gorbachev, A. N. Grigorenko, A. K. Geim, A. C. Ferrari, and K. S. Novoselov, Nat. Commun. 2, 468 (2011). 10.1038/ncomms1464
12. J. Kim, F. Kim, and J. Huang, Mater. Today 13, 28 (2010). 10.1016/S1369-7021(10)70031-6
13. A. Gupta, G. Chen, P. Joshi, S. Tadigadapa, and P. C. Eklund, Nano Lett. 6, 2667 (2006). 10.1021/nl061420a
14. F. Giannazzo, S. Sonde, V. Raineri, G. Patan, G. Compagnini, F. Aliotta, R. Ponterio, and E. Rimini, Phys. Stat. Solidi C 7, 1251 (2010). 10.1002/pssc.200982967
15. U. Stöberl, U. Wurstbauer, W. Wegscheider, D. Weiss, and J. Eroms, Appl. Phys. Lett. 93, 051905 (2008). 10.1063/1.2965489
16. P. Nemes-Incze, Z. Osvth, K. Kamars, and L. P. Bir, Carbon 46, 1435 (2008). 10.1016/j.carbon.2008.06.022
17. M. Ishigami, J. H. Chen, W. G. Cullen, M. S. Fuhrer, and E. D. Williams, Nano Lett. 7, 1643 (2007). 10.1021/nl070613a
18. Y. Hernandez, V. Nicolosi, M. Lotya, F. M. Blighe, Z. Sun, S. De, I. T. McGovern, B. Holland, M. Byrne, Y. K. Gun'ko, J. J. Boland, P. Niraj, G. Duesberg, S. Krishnamurthy, R. Goodhue, J. Hutchison, V. Scardaci, A. C. Ferrari, and J. N. Coleman, Nature Nanotechnol. 3, 563 (2008). 10.1038/nnano.2008.215
19. V. Kochat, A. N. Pal, E. S. Sneha, A. Sampathkumar, A. Gairola, S. A. Shivashankar, S. Raghavan, and A. Ghosh, J. Appl. Phys. 110, 014315 (2011). 10.1063/1.3608062
20. C. Riedl, A. A. Zakharov, and U. Starke, Appl. Phys. Lett. 93, 033106 (2008). 10.1063/1.2960341
21. M. Xu, D. Fujita, J. Gao, and N. Hanagata, ACS Nano 4, 2937 (2010). 10.1021/nn100276w
22. A. C. Ferrari, J. C. Meyer, V. Scardaci, C. Casiraghi, M. Lazzeri, F. Mauri, S. Piscanec, D. Jiang, K. S. Novoselov, S. Roth, and A. K. Geim, Phys. Rev. Lett. 97, 187401 (2006). 10.1103/PhysRevLett.97.187401
23. D. Graf, F. Molitor, K. Ensslin, C. Stampfer, A. Jungen, C. Hierold, and L. Wirtz, Nano Lett. 7, 238 (2007). 10.1021/nl061702a
24. A. C. Ferrari, Solid State Commun. 143, 47 (2007). 10.1016/j.ssc.2007.03. 052
25. Y. Y. Wang, Z. H. Ni, T. Yu, Z. X. Shen, H. M. Wang, Y. H. Wu, W. Chen, and A. T. S. Wee, J. Phys. Chem. C 112, 10637 (2008). 10.1021/jp8008404
26. J. S. Park, A. Reina, R. Saito, J. Kong, G. Dresselhaus, and M. S. Dresselhaus, Carbon 47, 1303 (2009). 10.1016/j.carbon.2009.01.009
27. P. Blake, E. W. Hill, A.H. Castro Neto, K. S. Novoselov, D. Jiang, R. Yang, T. J. Booth, and A. K. Geim, Appl. Phys. Lett. 91, 063124 (2007). 10.1063/1.2768624
28. D. S. L. Abergel, A. Russell, and V. I. Fal'ko, Appl. Phys. Lett. 91, 063125 (2007). 10.1063/1.2768625
29. C. Casiraghi, A. Hartschuh, E. Lidorikis, H. Qian, H. Harutyunyan, T. Gokus, K. S. Novoselov, and A. C. Ferrari, Nano Lett. 7, 2711 (2007). 10.1021/nl071168m
30. Z. H. Ni, H. M. Wang, J. Kasim, H. M. Fan, T. Yu, Y. H. Wu, Y. P. Feng, and Z. X. Shen, Nano Lett. 7, 2758 (2007). 10.1021/nl071254m
31. A. Gray, M. Balooch, S. Allegret, S. De Gendt, and W.-E Wang, J. Appl. Phys. 104, 053109 (2008). 10.1063/1.2974096
32. M. Bruna and S. Borini, Appl. Phys. Lett. 94, 031901 (2009). 10.1063/1.3073717
33. M. Dorn, P. Lange, A. Chekushin, N. Severin, and J. P. Rabe, J. Appl. Phys. 108, 106101 (2010). 10.1063/1.3496619
34. V. G. Kravets, A. N. Grigorenko, R. R. Nair, P. Blake, S. Anissimova, K. S. Novoselov, and A. K. Geim, Phys. Rev. B 81, 155413 (2010). 10.1103/PhysRevB.81.155413
35. J. W. Weber, V. E. Calado, and M. C. M. van de Sanden, Appl. Phys. Lett. 97, 091904 (2010). 10.1063/1.3475393
36. U. Wurstbauer, C. Röling, U. Wurstbauer, W. Wegscheider, M. Vaupel, P. H. Thiesen, and D. Weiss, Appl. Phys. Lett. 97, 231901 (2010). 10.1063/1.3524226
37. F. J. Nelson, V. K. Kamineni, T. Zhang, E. S. Comfort, J. U. Lee, and A. C. Diebold, Appl. Phys. Lett. 97, 253110 (2010). 10.1063/1.3525940
38. I. Jung, M. Vaupel, M. Pelton, R. Piner, D. A. Dikin, S. Stankowich, J. An, and R. S. Rodney, J. Phys. Chem. C 112, 8499 (2010). 10.1021/jp802173m
39. H. Fujiwara, Spectroscopic Ellipsometry: Principles and Applications (Wiley, New York, 2007).
40. The optical functions implemented in ellipsometry EP4Model, version 1.0.1, (Accurion GmbH, Göttingen, Germany) are based on the open SOPRA nk database (http://www.sopra-sa.com).
41. A. Borghesi and G. Guizzetti, in Graphite (C), Handbook of Optical Constants of Solids II, edited by, E. D. Palik, (Academic, San Diego, 1991).
42. G. E. Jellison, Jr., J. D. Hunn, and H. N. Lee, Phys. Rev. B 76, 085125 (2007). 10.1103/PhysRevB.76.085125
43. H. S. Skulason, P. E. Gaskell, and T. Szkopek, Nanotechnology 21, 295709 (2010). 10.1088/0957-4484/21/29/295709
44. V. Meera and G. S. Setlur, J. Appl. Phys. 107, 033525 (2010). 10.1063/1.3295913
45. A. Fasolino, J. H. Los, and M. I. Katsnelson, Nat. Mater. 6, 858 (2007). 10.1038/nmat2011
46. T. Georgiou, L. Britnell, P. Blake, R. V. Gorbachev, A. Gholinia, A. K. Geim, C. Casiraghi, and K. S. Novoselov, App. Phys. Lett. 99, 093103 (2011). 10.1063/1.3631632
47. K. Kim, Z. Lee, B. D. Malone, K. T. Chan, B. Alemn, W. Regan, W. Gannett, M. F. Crommie, M. L. Cohen, and A. Zettl, Phys. Rev. B 83, 245433 (2011). 10.1103/PhysRevB.83.245433
48. J. M. Caridad, F. Rossella, V. Bellani, M. Maicas, M. Patrini, and E. Diez, J. Appl. Phys. 108, 084321 (2010). 10.1063/1.3500295
49. C. Casiraghi, S. Pisana, K. S. Novoselov, A. K. Geim, and A. C. Ferrari, Appl. Phys. Lett. 91, 233108 (2007). 10.1063/1.2818692