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Volumn 15, Issue 18, 2013, Pages 6875-6878

Thermal oxidation of Ni films for p-type thin-film transistors

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EID: 84876703556     PISSN: 14639076     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1039/c3cp50197c     Document Type: Article
Times cited : (59)

References (13)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.