Probing the performance and reliability of silicon-based molecular electronic devices with ultra-high vacuum scanning tunneling microscopy

3rd Conference on Foundations of Nanoscience: Self-Assembled Architectures and Devices, FNANO 2006

Volumn , Issue , 2006, Pages 80-82

  Yoder, Nathan L ^a   Hersam, Mark C ^a  

^a Northwestern University   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 84874738292     PISSN: None     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: None     Document Type: Conference Paper

References (26)

1. N. P. Guisinger, N. L. Yoder, and M. C. Hersam, Proc. Nat. Acad. Sci., 102, 8838 (2005).
2. T. Rakshit, G.-C. Liang, A.W. Ghosh, M. C. Hersam, and S. Datta, Phys. Rev. B, 72, 125305 (2005).
3. R. Basu, N. P. Guisinger, M. E. Greene, and M. C. Hersam, Appl. Phys. Lett., 85, 2619 (2004).
4. M. C. Hersam and R. Reifenberger, MRS Bull., 29, 385 (2004).
5. N. P. Guisinger, R. Basu, M. E. Greene, A. S. Baluch, and M. C. Hersam, Nanotechnology, 15, S452 (2004).
6. N. P. Guisinger, M. E. Greene, R. Basu, A. S. Baluch, and M. C. Hersam, Nano Lett., 4, 55 (2004).
7. M. E. Greene, N. P. Guisinger, R. Basu, A. S. Baluch, and M. C. Hersam, Surf. Sci., 559, 16 (2004).
8. N. P. Guisinger, R. Basu, A. S. Baluch, and M. C. Hersam, Ann. N. Y. Acad. Sci., 1006, 227 (2003).
9. L. S. C. Pingree, B. J. Scott, M. T. Russell, T. J. Marks, and M. C. Hersam, Appl. Phys. Lett., 86, 073509 (2005).
10. L. S. C. Pingree, M. C. Hersam, M. M. Kern, B. J. Scott, and T. J. Marks, Appl. Phys. Lett., 85, 344 (2004).
11. Y. Koide, M. W. Such, R. Basu, G. Evmenenko, J. Cui, P. Dutta, M. C. Hersam, and T. J. Marks, Langmuir, 19, 86 (2003).
12. R. Basu, J. D. Tovar, and M. C. Hersam, J. Vac. Sci. Technol. B, 23, 1785 (2005).
13. B. Wang, X. Zheng, J. Michl, E. T. Foley, M. C. Hersam, A. Bilić, M. J. Crossley, J. R. Reimers, and N. S. Hush, Nanotechnology, 15, 324 (2004).
14. C. R. Kinser, M. J. Schmitz, and M. C. Hersam, Nano Lett., 5, 91 (2005).
15. M. E. Greene, C. R. Kinser, D. E. Kramer, L. S. C. Pingree, and M. C. Hersam, Microscopy Research and Technique, 64, 415 (2004).
16. H. Jin, C. R. Kinser, P. A. Bertin, D. E. Kramer, J. A. Libera, M. C. Hersam, S. T. Nguyen, and M. J. Bedzyk, Langmuir, 20, 6252 (2004).
17. A. S. Baluch, N. P. Guisinger, R. Basu, E. T. Foley, and M. C. Hersam, J. Vac. Sci. Technol. A, 22, L1 (2004).
18. M. W. Such, D. E. Kramer, and M. C. Hersam, Ultramicroscopy, 99, 189 (2004).
19. M. S. Arnold, S. I. Stupp, and M. C. Hersam, Nano Lett., 5, 713 (2005).
20. M. S. Arnold, M. O. Guler, M. C. Hersam, and S. I. Stupp, Langmuir, 21, 4705 (2005).
21. M. S. Arnold, J. E. Sharping, S. I. Stupp, P. Kumar, and M. C. Hersam, Nano Lett., 3, 1549 (2003).
22. M. E. Greene, A. N. Chiaramonti, S. T. Christensen, L. X. Cao, M. J. Bedzyk, and M. C. Hersam, Adv. Mater., 17, 1765 (2005).
23. E. T. Foley, N. L. Yoder, N. P. Guisinger, and M. C. Hersam, Rev. Sci. Instrum., 75, 5280 (2004).
24. T. C. Shen, C. Wang, G. C. Abeln, J. R. Tucker, J. W. Lyding, P. Avouris, and R. E. Walkup, Science, 268, 1590 (1995).
25. S. Alavi, R. Rousseau, S. N. Patitsas, G. P. Lopinski, R. A. Wolkow, and T. Seideman, Phys. Rev. Lett., 85, 5372 (2000).
26. P. A. Sloan, M. F. G. Hedouin, R. E. Palmer, and M. Persson, Phys. Rev. Lett., 91, 118301 (2003).