Rolled-up nanomembranes as compact 3D architectures for field effect transistors and fluidic sensing applications

Nano Letters

Volumn 13, Issue 1, 2013, Pages 213-218

  Grimm, Daniel ^a,b   Bof Bufon, Carlos Cesar ^a,d   Deneke, Christoph ^a,d   Atkinson, Paola ^a,e   Thurmer, Dominic J ^a   Schäffel, Franziska ^c   Gorantla, Sandeep ^a   Bachmatiuk, Alicja ^a   Schmidt, Oliver G ^a,b  

^a IFW DRESDEN   (Germany)

^b CHEMNITZ UNIVERSITY OF TECHNOLOGY   (Germany)

^c UNIVERSITY OF OXFORD   (United Kingdom)

^d BRAZILIAN CENTER FOR RESEARCH IN ENERGY AND MATERIALS CNPEM   (Brazil)

^e INSTITUT DES NANOSCIENCES DE PARIS   (France)

Author keywords

flexible metal oxide field effect transistor; indium gallium arsenide; microfluidics; Rolled up electronic device; solvent sensing

Indexed keywords

3D ARCHITECTURES; BENDING RADIUS; ELECTRONIC DEVICE; ELECTRONIC PERFORMANCE; FABRICATION TECHNOLOGIES; HIGHLY STRAINED; INDIUM GALLIUM ARSENIDE; METAL-OXIDE; MICRO FLUIDIC APPLICATIONS; NANOMEMBRANES; ON-OFF RATIO; PLANAR TRANSISTORS; SENSING APPLICATIONS; SUBTHRESHOLD SWING; TUBULAR ARCHITECTURE;

MICROFLUIDICS; NANOSTRUCTURES; THIN FILM TRANSISTORS; THIN FILMS;

FIELD EFFECT TRANSISTORS;

EID: 84872111580     PISSN: 15306984     EISSN: 15306992     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/nl303887b     Document Type: Article

References (39)

1. Takei, K.; Takahashi, T.; Ho, J. C.; Ko, H.; Gillies, A. G.; Leu, P. W.; Fearing, R. S.; Javey, A. Nat. Mater. 2010, 9, 821-826
2. Kippelen, B.; Brédas, J.-L. Energy Environ. Sci. 2009, 2, 251
3. Huitema, H. E. A.; Gelinck, G. H.; van der Putten, J. B. P. H.; Kuijk, K. E.; Hart, C. M.; Cantatore, E.; Herwig, P. T.; van Breemen, A. J. J. M.; de Leeuw, D. M. Nature 2001, 414, 599-599
4. Rogers, J. A.; Bao, Z.; Baldwin, K.; Dodabalapur, A.; Crone, B.; Raju, V. R.; Kuck, V.; Katz, H.; Amundson, K.; Ewing, J.; Drzaic, P. Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 2001, 98, 4835-4840
5. Sekitani, T.; Zschieschang, U.; Klauk, H.; Someya, T. Nat. Mater. 2010, 9, 1015-1022
6. Melzer, M.; Makarov, D.; Calvimontes, A.; Karnaushenko, D.; Baunack, S.; Kaltofen, R.; Mei, Y.; Schmidt, O. G. Nano Lett. 2011, 11, 2522-2526
7. Park, S.; Wang, G.; Cho, B.; Kim, Y.; Song, S.; Ji, Y.; Yoon, M.-H.; Lee, T. Nature Nanotechnol. 2012, not supplied.
8. Sekitani, T.; Yokota, T.; Zschieschang, U.; Klauk, H.; Bauer, S.; Takeuchi, K.; Takamiya, M.; Sakurai, T.; Someya, T. Science 2009, 326, 1516-1519
9. Sun, Y.; Kim, H.-S.; Menard, E.; Kim, S.; Adesida, I.; Rogers, J. A. Small 2006, 2, 1330-1334
10. Lee, J.; Wu, J.; Shi, M.; Yoon, J.; Park, S.-I.; Li, M.; Liu, Z.; Huang, Y.; Rogers, J. A. Adv. Mater. 2011, 23, 986-991
11. Nomura, K.; Ohta, H.; Takagi, A.; Kamiya, T.; Hirano, M.; Hosono, H. Nature 2004, 432, 488-492
12. Roberts, M. M.; Klein, L. J.; Savage, D. E.; Slinker, K. A.; Friesen, M.; Celler, G.; Eriksson, M. A.; Lagally, M. G. Nat. Mater. 2006, 5, 388-393
13. Han, L.; Song, K.; Mandlik, P.; Wagner, S. Appl. Phys. Lett. 2010, 96, 042111-042111-3
14. Ahn, J.-H.; Kim, H.-S.; Lee, K. J.; Zhu, Z.; Menard, E.; Nuzzo, R. G.; Rogers, J. A. IEEE Electron Device Lett. 2006, 27, 460-462
15. Schmidt, O. G.; Eberl, K. Nature 2001, 410, 168-168
16. Prinz, V. Y.; Seleznev, V..; Gutakovsky, A..; Chehovskiy, A..; Preobrazhenskii, V..; Putyato, M..; Gavrilova, T.. Phys. E: Low-Dimens. Syst. Nanostruct. 2000, 6, 828-831
17. Bof Bufon, C. C.; Cojal González, J. D.; Thurmer, D. J.; Grimm, D.; Bauer, M.; Schmidt, O. G. Nano Lett. 2010, 10, 2506-2510
18. Cavallo, F.; Songmuang, R.; Schmidt, O. G. Appl. Phys. Lett. 2008, 93, 143113-143113-3
19. Mendach, S.; Schumacher, O.; Heyn, C.; Schnüll, S.; Welsch, H.; Hansen, W. Phys. E: Low-Dimens. Syst. Nanostruct. 2004, 23, 274-279
20. Friedland, K.-J.; Siddiki, A.; Hey, R.; Kostial, H.; Riedel, A.; Maude, D. K. Phys. Rev. B 2009, 79, 125320
21. Bof Bufon, C. C.; Arias Espinoza, J. D.; Thurmer, D. J.; Bauer, M.; Deneke, C.; Zschieschang, U.; Klauk, H.; Schmidt, O. G. Nano Lett. 2011, 11, 3727-3733
22. Thurmer, D. J.; Bof Bufon, C. C.; Deneke, C.; Schmidt, O. G. Nano Lett. 2010, 10, 3704-3709
23. Deneke, C.; Müller, C.; Jin-Phillipp, N. Y.; Schmidt, O. G. Semicond. Sci. Technol. 2002, 17, 1278-1281
24. Lin, H.-C.; Senanayake, S.; Cheng, K.-Y.; Hong, M.; Kwo, J. R.; Yang, B.; Mannaerts, J. P. IEEE Trans. Electron Devices 2003, 50, 880-885
25. Deneke, C.; Songmuang, R.; Jin-Phillipp, N. Y.; Schmidt, O. G. J. Phys. D: Appl. Phys. 2009, 42, 103001
26. Leite, M. S.; Warmann, E. C.; Kimball, G. M.; Burgos, S. P.; Callahan, D. M.; Atwater, H. A. Adv. Mater. 2011, 23, 3801-3807
27. Tan, I.-H.; Snider, G. L.; Chang, L. D.; Hu, E. L. J. Appl. Phys. 1990, 68, 4071-4076
28. Ye, P. D.; Wilk, G. D.; Yang, B.; Kwo, J.; Chu, S. N. G.; Nakahara, S.; Gossmann, H.-J. L.; Mannaerts, J. P.; Hong, M.; Ng, K. K.; Bude, J. Appl. Phys. Lett. 2003, 83, 180-182
29. Ye, P. D.; Wilk, G. D.; Yang, B.; Kwo, J.; Gossmann, H.-J. L.; Hong, M.; Ng, K. K.; Bude, J. Appl. Phys. Lett. 2004, 84, 434-436
30. Iida, R.; Kim, S.-H.; Yokoyama, M.; Taoka, N.; Lee, S.-H.; Takenaka, M.; Takagi, S. J. Appl. Phys. 2011, 110, 124505-124505-8
31. Shahrjerdi, D.; Tutuc, E.; Banerjee, S. K. Appl. Phys. Lett. 2007, 91, 063501-063501-3
32. Jena, D.; Konar, A. Phys. Rev. Lett. 2007, 98, 136805
33. Vorob'ev, A. B.; Prinz, V. Y.; Yukecheva, Y. S.; Toropov, A. I. Phys. E: Low-Dimens. Syst. Nanostruct. 2004, 23, 171-176
34. Mookerjea, S.; Mohata, D.; Mayer, T.; Narayanan, V.; Datta, S. IEEE Electron Device Lett. 2010, 31, 564-566
35. Neuberger, R.; Müller, G.; Ambacher, O.; Stutzmann, M. Phys. Status Solidi A 2001, 185, 85-89
36. Luber, S..; Adlkofer, K.; Rant, U.; Ulman, A.; Gölzhäuser, A.; Grunze, M.; Schuh, D.; Tanaka, M.; Tornow, M.; Abstreiter, G. Phys. E: Low-Dimens. Syst. Nanostruct. 2004, 21, 1111-1115
37. Aluri, G. S.; Motayed, A.; Davydov, A. V.; Oleshko, V. P.; Bertness, K. A.; Sanford, N. A.; Mulpuri, R. V. Nanotechnology 2012, 23, 175501
38. Smith, E. J.; Xi, W.; Makarov, D.; Mönch, I.; Harazim, S.; Quiñones, V. A. B.; Schmidt, C. K.; Mei, Y.; Sanchez, S.; Schmidt, O. G. Lab Chip 2012, 12, 1917-1931
39. Sabry, M. M.; Sridhar, A.; Atienza, D.; Temiz, Y.; Leblebici, Y.; Szczukiewicz, S.; Borhani, N.; Thome, J. R.; Brunschwiler, T.; Michel, B. In Design, Automation Test in Europe Conference Exhibition (DATE); IEEE: New York, 2011; pp 1-6.