-
1
-
-
0142037327
-
-
Chou, S. Y.; Krauss, P. R.; Renstrom, P. J. Appl. Phys. Lett. 1995, 67, 3114-3116
-
(1995)
Appl. Phys. Lett.
, vol.67
, pp. 3114-3116
-
-
Chou, S.Y.1
Krauss, P.R.2
Renstrom, P.J.3
-
2
-
-
5344241941
-
-
Chou, S. Y.; Krauss, P. R.; Renstrom, P. J. J. Vac. Sci. Technol., B 1996, 14, 4129-4133
-
(1996)
J. Vac. Sci. Technol., B
, vol.14
, pp. 4129-4133
-
-
Chou, S.Y.1
Krauss, P.R.2
Renstrom, P.J.3
-
3
-
-
68249147654
-
-
Buyukserin, F.; Aryal, M.; Gao, J.; Hu, W. Small 2009, 5, 1632-1634
-
(2009)
Small
, vol.5
, pp. 1632-1634
-
-
Buyukserin, F.1
Aryal, M.2
Gao, J.3
Hu, W.4
-
4
-
-
0012752163
-
-
Chou, S. Y.; Krauss, P. R.; Zhang, W.; Guo, L.; Zhuang, L. J. Vac. Sci. Technol., B 1997, 15, 2897-2904
-
(1997)
J. Vac. Sci. Technol., B
, vol.15
, pp. 2897-2904
-
-
Chou, S.Y.1
Krauss, P.R.2
Zhang, W.3
Guo, L.4
Zhuang, L.5
-
5
-
-
0000740684
-
-
Fabrication and characterization of room temperature silicon single electron memory.
-
Fabrication and characterization of room temperature silicon single electron memory. Guo, L.; Leobandung, E.; Zhuang, L.; Chou, S. Y. J. Vac. Sci. Technol., B 1997, 15, 2840-2843
-
(1997)
J. Vac. Sci. Technol., B
, vol.15
, pp. 2840-2843
-
-
Guo, L.1
Leobandung, E.2
Zhuang, L.3
Chou, S.Y.4
-
6
-
-
11744354228
-
-
Wu, W.; Cui, B.; Sun, X.-Y.; Zhang, W.; Zhuang, L.; Kong, L.; Chou, S. Y. J. Vac. Sci. Technol., B 1998, 16, 3825-3829
-
(1998)
J. Vac. Sci. Technol., B
, vol.16
, pp. 3825-3829
-
-
Wu, W.1
Cui, B.2
Sun, X.-Y.3
Zhang, W.4
Zhuang, L.5
Kong, L.6
Chou, S.Y.7
-
7
-
-
0040708652
-
-
Wang, J.; Schablitsky, S.; Yu, Z.; Wu, W.; Chou, S. Y. J. Vac. Sci. Technol., B 1999, 17, 2957-2960
-
(1999)
J. Vac. Sci. Technol., B
, vol.17
, pp. 2957-2960
-
-
Wang, J.1
Schablitsky, S.2
Yu, Z.3
Wu, W.4
Chou, S.Y.5
-
8
-
-
0000903445
-
-
Li, M.; Wang, J.; Zhuang, L.; Chou, S. Y. Appl. Phys. Lett. 2000, 76, 673-675
-
(2000)
Appl. Phys. Lett.
, vol.76
, pp. 673-675
-
-
Li, M.1
Wang, J.2
Zhuang, L.3
Chou, S.Y.4
-
9
-
-
34648819049
-
-
Yokoo, A.; Wada, K.; Kimerling, L. C. Jpn. J. Appl. Phys. 2007, 46 (9B) 6395-6397
-
(2007)
Jpn. J. Appl. Phys.
, vol.46
, Issue.9 B
, pp. 6395-6397
-
-
Yokoo, A.1
Wada, K.2
Kimerling, L.C.3
-
10
-
-
80052930324
-
-
Yanagishita, T.; Nishio, K.; Masuda, H. Jpn. J. Appl. Phys. 2010, 49, 065202.
-
(2010)
Jpn. J. Appl. Phys.
, vol.49
, pp. 065202
-
-
Yanagishita, T.1
Nishio, K.2
Masuda, H.3
-
11
-
-
77950576754
-
-
Yanagishita, T.; Nishio, K.; Masuda, H. J. Vac. Sci. Technol., B 2010, 28, 398-400
-
(2010)
J. Vac. Sci. Technol., B
, vol.28
, pp. 398-400
-
-
Yanagishita, T.1
Nishio, K.2
Masuda, H.3
-
12
-
-
76849088574
-
-
Hiep, H. M.; Yoshikawa, H.; Tamiya, E. Anal. Chem. 2010, 82, 1221-1227
-
(2010)
Anal. Chem.
, vol.82
, pp. 1221-1227
-
-
Hiep, H.M.1
Yoshikawa, H.2
Tamiya, E.3
-
13
-
-
77955313762
-
-
Hiep, H. M.; Yoshikawa, H.; Taniyama, S.; Hoa, L. Q.; Kondoh, K.; Saito, M.; Tamiya, E. Jpn. J. Appl. Phys. 2010, 49, 06GM02
-
(2010)
Jpn. J. Appl. Phys.
, vol.49
-
-
Hiep, H.M.1
Yoshikawa, H.2
Taniyama, S.3
Hoa, L.Q.4
Kondoh, K.5
Saito, M.6
Tamiya, E.7
-
14
-
-
46849093174
-
-
Mayer, K. M.; Lee, S.; Liao, H.; Rostro, B. C.; Fuentes, A.; Scully, P. T.; Nehl, C. L.; Hafner, J. H. ACS Nano 2008, 2, 687-692
-
(2008)
ACS Nano
, vol.2
, pp. 687-692
-
-
Mayer, K.M.1
Lee, S.2
Liao, H.3
Rostro, B.C.4
Fuentes, A.5
Scully, P.T.6
Nehl, C.L.7
Hafner, J.H.8
-
17
-
-
0348014624
-
-
Frederix, F.; Friedt, J.-M.; Choi, K.-H.; Laureyn, W.; Campitelli, A.; Mondelaers, D.; Maes, G.; Borghs, G. Anal. Chem. 2003, 75, 6894-6900
-
(2003)
Anal. Chem.
, vol.75
, pp. 6894-6900
-
-
Frederix, F.1
Friedt, J.-M.2
Choi, K.-H.3
Laureyn, W.4
Campitelli, A.5
Mondelaers, D.6
Maes, G.7
Borghs, G.8
-
18
-
-
33847616125
-
-
Kim, D. K.; Kerman, K.; Saito, M.; Sathuluri, R. R.; Endo, T.; Yamamura, S.; Kwon, Y. S.; Tamiya, E. Anal. Chem. 2007, 79 (5) 1855-1864
-
(2007)
Anal. Chem.
, vol.79
, Issue.5
, pp. 1855-1864
-
-
Kim, D.K.1
Kerman, K.2
Saito, M.3
Sathuluri, R.R.4
Endo, T.5
Yamamura, S.6
Kwon, Y.S.7
Tamiya, E.8
-
19
-
-
50949085748
-
-
Kim, D. K.; Kerman, K.; Ha, M. H.; Saito, M.; Yamamura, S.; Takamura, Y.; Kwon, Y. S.; Tamiya, E. Anal. Biochem. 2008, 379 (1) 1-7
-
(2008)
Anal. Biochem.
, vol.379
, Issue.1
, pp. 1-7
-
-
Kim, D.K.1
Kerman, K.2
Ha, M.H.3
Saito, M.4
Yamamura, S.5
Takamura, Y.6
Kwon, Y.S.7
Tamiya, E.8
-
20
-
-
63449114282
-
-
Hiep, H. M.; Yoshikawa, H.; Saito, M.; Tamiya, E. ACS Nano 2009, 3, 446-452
-
(2009)
ACS Nano
, vol.3
, pp. 446-452
-
-
Hiep, H.M.1
Yoshikawa, H.2
Saito, M.3
Tamiya, E.4
-
21
-
-
72149102825
-
-
Fujiwara, K.; Kasaya, H.; Ogawa, N. Anal. Sci. 2009, 25, 241-248
-
(2009)
Anal. Sci.
, vol.25
, pp. 241-248
-
-
Fujiwara, K.1
Kasaya, H.2
Ogawa, N.3
-
22
-
-
38149062818
-
-
Zheng, Y. B.; Juluri, B. K.; Mao, X.; Walker, T. R.; Huang, T. J. J. Appl. Phys. 2008, 103, 014308
-
(2008)
J. Appl. Phys.
, vol.103
, pp. 014308
-
-
Zheng, Y.B.1
Juluri, B.K.2
Mao, X.3
Walker, T.R.4
Huang, T.J.5
-
23
-
-
41449093107
-
-
Ha, M. H.; Endo, T.; Saito, M.; Chikae, M.; Kim, D. K.; Yamamura, S.; Takamura, Y.; Tamiya, E. Anal. Chem. 2008, 80 (6) 1859-1864
-
(2008)
Anal. Chem.
, vol.80
, Issue.6
, pp. 1859-1864
-
-
Ha, M.H.1
Endo, T.2
Saito, M.3
Chikae, M.4
Kim, D.K.5
Yamamura, S.6
Takamura, Y.7
Tamiya, E.8
-
25
-
-
4444246467
-
-
Lahav, M.; Vaskevich, A.; Rubinstein, I. Langmuir 2004, 20, 7365-7367
-
(2004)
Langmuir
, vol.20
, pp. 7365-7367
-
-
Lahav, M.1
Vaskevich, A.2
Rubinstein, I.3
-
26
-
-
0037420337
-
-
Huang, T. T.; Sturgis, J.; Gomez, R.; Geng, T.; Bashir, R.; Bhunia, A. K.; Robinson, J. P.; Ladisch, M. R. Biotechnol. Bioeng. 2003, 81, 618-624
-
(2003)
Biotechnol. Bioeng.
, vol.81
, pp. 618-624
-
-
Huang, T.T.1
Sturgis, J.2
Gomez, R.3
Geng, T.4
Bashir, R.5
Bhunia, A.K.6
Robinson, J.P.7
Ladisch, M.R.8
-
28
-
-
0027657469
-
-
Paulsson, M.; Kober, M.; Freij-Larsson, C.; Sollenwerk, M.; Wesslen, B.; Ljungh, A. Biomaterials 1993, 14, 845-853
-
(1993)
Biomaterials
, vol.14
, pp. 845-853
-
-
Paulsson, M.1
Kober, M.2
Freij-Larsson, C.3
Sollenwerk, M.4
Wesslen, B.5
Ljungh, A.6
|