Giant phase transition properties at terahertz range in VO2 films deposited by sol-gel method

ACS Applied Materials and Interfaces

Volumn 3, Issue 9, 2011, Pages 3523-3527

  Shi, Qiwu ^a   Huang, Wanxia ^a   Zhang, Yaxin ^b   Yan, Jiazhen ^a   Zhang, Yubo ^a   Mao, Mao ^a   Zhang, Yang ^a   Tu, Mingjing ^a  

^a SICHUAN UNIVERSITY   (China)

^b UNIVERSITY OF ELECTRONIC SCIENCE AND TECHNOLOGY OF CHINA   (China)

Author keywords

phase transformation; terahertz transmission; thin film; vanadium dioxide

Indexed keywords

EFFECTIVE-MEDIUM THEORIES; FIELD EMISSION SCANNING ELECTRON MICROSCOPY; HIGH CRYSTALLINITY; HIGH-PURITY; PHASE TRANSFORMATION; PHASE TRANSITION PROPERTIES; POLYCRYSTALLINE; RAPID ANNEALING; SINGLE CRYSTALLINE SILICON; TERAHERTZ RANGE; TERAHERTZ TIME DOMAIN SPECTROSCOPY; TERAHERTZ TRANSMISSION; TRANSMISSION CHARACTERISTICS; TRANSMISSION MODULATION; VANADIUM DIOXIDE; VANADIUM OXIDES;

ATOMIC FORCE MICROSCOPY; ATOMIC SPECTROSCOPY; ENAMELS; GELS; MICROSTRUCTURE; OXIDE FILMS; PHASE TRANSITIONS; SCANNING ELECTRON MICROSCOPY; SOL-GEL PROCESS; SOL-GELS; SOLS; THIN FILMS; TIME DOMAIN ANALYSIS; VANADIUM; VANADIUM ALLOYS; VANADIUM COMPOUNDS; X RAY DIFFRACTION; X RAY DIFFRACTION ANALYSIS; X RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY;

TERAHERTZ SPECTROSCOPY;

NANOMATERIAL; SILICON;

ARTICLE; ATOMIC FORCE MICROSCOPY; CHEMISTRY; GEL; PHASE TRANSITION; TERAHERTZ RADIATION; X RAY DIFFRACTION; X RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY;

GELS; MICROSCOPY, ATOMIC FORCE; NANOSTRUCTURES; PHASE TRANSITION; PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY; SILICON; TERAHERTZ RADIATION; X-RAY DIFFRACTION;

EID: 84862832848     PISSN: 19448244     EISSN: 19448252     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/am200734k     Document Type: Article

References (49)

1. Manning, T. D.; Parkin, I. P.; Pemble, M. E.; Sheel, D.; Vernardou, D. Chem. Mater. 2006, 16, 744-749
2. Muraoka, Y.; Ueda, Y.; Hiroi, Z. J. Phys. Chem. Solids 2002, 63, 965-967
3. Kim, H. T.; Chae, B. G.; Youn, D. H.; Kim, G.; Kang, K. Y.; Lee, S. J.; Kim, K.; Lim, Y. S. Appl. Phys. Lett. 2005, 86, 242101
4. Cavalleri, A.; Tóth, Cs.; Siders, C. W.; Squier, J. A.; Ráksi, F.; Forget, P.; Kieffer, J. C. Phys. Rev. Lett. 2001, 87, 237401
5. Cao, J.; Ertekin, E.; Srinivasan, V.; Fan, W.; Huang, S.; Zheng, H.; Yim, J. W. L.; Khanal, D. R.; Ogletree, D. F.; Grossmanan, J. C.; Wu, J. Nat. Nanotechnol. 2009, 4, 732-737
6. Lappalainen, J.; Heinilehto, S.; Jantunen, H.; Lantto, V. J. Electroceram. 2008, 22, 73-77
7. Morin, F. J. Phys. Rev. Lett. 1959, 3, 34-36
8. Manning, T. D.; Parkin, I. P. J. Mater. Chem. 2004, 14, 2554-2559
9. Viswanath, B.; Ko, C.; Ramanathan, S. Scr. Mater. 2001, 64, 490-492
10. Huang, W. X.; Yin, X. G.; Huang, C. P.; Wang, Q. J.; Miao, T. F.; Zhu, Y. Y. Appl. Phys. Lett. 2010, 96, 261908
11. Messaoud, T. B.; Landry, G.; Gariépy, J. P.; Ramamoorthy, B.; Ashrit, P. V.; Haché, A. Opt. Commun. 2008, 281, 6024-6027
12. Driscoll, T.; Palit, S.; Qazilbash, M. M.; Brehm., M.; Keilmann, F.; Chae, B. G.; Yun, S. J; Kim, H. T.; Cho, S. Y.; Marie Jokerst, N.; Smith, D. R.; Basov, D. N. Appl. Phys. Lett. 2008, 93, 024101
13. Driscoll, T.; Kim, H. T.; Chae, B. G.; Kim, B. J.; Lee, Y. W.; Jokerst, N. M.; Palit, S.; Smith, D. R.; Ventra, M. D.; Basov, D. N. Science 2009, 325, 1518-1521
14. Wang, H. C.; Yi, X. J.; Li, Y. Opt. Commun. 2005, 256, 305-309
15. Rozen, J.; Lopez, R.; Haglund, R. F.; Feldman, L. C. Appl. Phys. Lett. 2006, 88, 081902
16. Suh, J. Y.; Donev, E. U.; Lopez, R.; Feldman, L. C.; Haglun, R. F. Appl. Phys. Lett. 2006, 88, 133115
17. Lee, K. W.; Kweon, J. J.; Lee, C. E.; Gedanken, A.; Ganesan, R. Appl. Phys. Lett. 2010, 96, 243111
18. Zhan, H.; Astley, V.; Hvasta, M.; Deibel, J. A.; Mittleman, D. M.; Kim, Y.-S. Appl. Phys. Lett. 2007, 91, 162110
19. Chen, C.; Zhou, Z. Appl. Phys. Lett. 2007, 91, 011107
20. Kyoung, J. S.; Seo, M. A.; Koo, S. M.; Park, H. R.; Kim, H. S.; Kim, B. J.; Kim, H. T.; Park, N. K.; Kim, D. S.; Ahn, K. J. Phys. Status Solidi C 2011, 4, 1227-1230
21. Wen, Q. Y.; Zhang, H. W.; Yang, Q. H.; Xie, Y. S.; Chen, K.; Liu, Y. L. Appl. Phys. Lett. 2010, 97, 021111
22. Hendry, E.; Lockyear, M. J.; Rivas, J. G.; Kuipers, L.; Bonm, M. Phys. Rev. B 2007, 75, 235305
23. Kyoung, J.; Seo, M.; Park, H.; Koo, S.; Sun, K. H.; Park, Y.; Kim, B.-J.; Ahn, K.; Park, N.; Kim, H.-T.; Kim, D.-S. Opt. Exp. 2010, 18, 16452
24. Seo, M.; Kyoung, J.; Park, H.; Koo, S.; Sun, K. H.; Bernien, H.; Kim, B.-J.; Cheo, J. H.; Ahn, Y. H.; Kim, H.-T.; Park, N.; Park, Q. H.; Ahn, K.; Kim, D.-S. Nano Lett. 2010, 10, 2064-2068
25. Chen, C. H.; Zhu, Y. H.; Zhao, Y.; Lee, J. H.; Wang, H. Y.; Bernussi, A.; Holtz, M.; Fan, Z. Y. Appl. Phys. Lett. 2010, 97, 211905
26. Mandal, P.; Speck, A.; Ko, C.; Ramanathan, S. Opt. Lett. 2011, 36, 1927-1929
27. Partlow, D. P.; Gurkovich, S. R.; Radford, K. C.; Denes, L. J. J. Appl. Phys. 1991, 70, 443-452
28. Ozer, N. Thin Solid Films 1997, 305, 80-87
29. Ningyi, Y.; Jinhua, L.; Chenglu, L. Appl. Surf. Sci. 2002, 191, 176-180
30. Dai, J. M.; Zhang, J. Q.; Zhang, W. L.; Grischkowsky, D. J. Opt. Soc. Am. B 2004, 21, 1379-1386
31. Jeon, T. I.; Grischkowsky, D. Phys. Rev. Lett. 1997, 78, 1106-1109
32. Yan, J. Z.; Zhang, Y.; Huang, W. X.; Tu, M. J. Thin Solid Films 2008, 516, 8554-8558
33. Zhang, Z. T.; Gao, Y. F.; Chen, Z.; Du, J.; Cao, C. X.; Kang, L.; Luo, H. Langmuir 2010, 26, 10738-10744
34. Alov, N.; Kutsko, D.; Spirovova, I.; Bastl, Z. Surf. Sci. 2006, 600, 1628-1631
35. Bowen Katarl, J. E.; Colvin, V. L.; Alivisatos, A. P. J. Phys. Chem. 1994, 98, 4109-4117
36. Jablonski, A. Surf. Sci. 2009, 603, 1342-1352
37. Wagner, C. D.; Davis, L. E.; Zeller, M. V.; Taylor, J. A.; Raymond, R. H.; Gale, L. H. Surf. Interface Anal. 1981, 3, 211-225
38. Balu, R.; Ashrit, P. V. Appl. Phys. Lett. 2008, 92, 021904
39. Yang, Z.; Ko, C.; Ramanathan, S. J. Appl. Phys. 2010, 107, 053514
40. Chen, S. H.; Ma, H.; Dai, J.; Yi, X. J. Appl. Phys. Lett. 2007, 90, 101117
41. Tu, J. J.; Homes, C. C.; Strongin, M. Phys. Rev. Lett. 2003, 90, 017402
42. Tinkham, M. Phys. Rev. 1956, 104, 845-846
43. Walther, M.; Cooke, D. G.; Sherstan, C.; Hajar, M.; Freeman, M. R.; Hegmann, F. A. Phys. Rev. B 2007, 76, 125408
44. Thoman, A. Far-Infrared Probing of the Metal-Insulator Transition in Thin-Films and of the Dynamics of Pure Ionic Liquids: An Application of THz Time-Domain Spectroscopy; Universitatsbibliothek: Freiburg, Germany, 2009; pp 82-96.
45. Cocker, T. L.; Titova, L. V.; Fourmaux, S.; Bandulet, H.-C.; Brassard, D.; Kieffer, J.-C.; EI Khakani, M. A.; Hegmann, F. A. Appl. Phys. Lett. 2010, 97, 221905
46. Jepsen, P. U.; Fischer, B. M.; Thoman, A.; Helm, H.; Suh, J. Y.; Lopez, R.; Haglund, R. F. Phys. Rew. B 2006, 74, 205103
47. Kang, M.; Kim, I.; Kim, S. W.; Ryu, J. W.; Park, H. Y. Appl. Phys. Lett. 2011, 98, 131907
48. Qazilbash, M. M.; Brehm, M.; Chae, B. G.; Ho, P.-C.; Andreev, G. O.; Kim, B. J.; Yun, S. J.; Balatsky, A. V.; Maple, M. B.; Keilmann, F.; Kim, H. T.; Basov, D. N. Science 2007, 318, 1750-1753
49. Qazilbash, M. M.; Tripathi, A.; Schafgans, A. A.; Kim, B. J.; Kim, H. T.; Cai, Z. H.; Holt, M. V.; Maser, J. M.; Keilmann, F.; Shpyrko, O. G.; Basov, D. N. Phys. Rev. B 2011, 83, 165108