Atomic structural analysis of nanowire defects and polytypes enabled through cross-sectional lattice imaging

Small

Volumn 8, Issue 11, 2012, Pages 1717-1724

  Hemesath, Eric R ^a   Schreiber, Daniel K ^a   Kisielowski, Christian F ^b   Petford Long, Amanda K ^a,c   Lauhon, Lincoln J ^a  

^a Northwestern University   (United States)

^b LAWRENCE BERKELEY NATIONAL LABORATORY   (United States)

^c ARGONNE NATIONAL LABORATORY   (United States)

Author keywords

aberration correction; cross sectional imaging; defect structures; nanowires; transmission electron microscopy

Indexed keywords

ABERRATION-CORRECTION; CROSS-SECTIONAL IMAGING; DIFFRACTION DATA; PLANAR DEFECT; POLYTYPES; SI NANOWIRE; SPECIFIC LOCATION; STRUCTURAL ORIGIN;

DEFECT STRUCTURES; DEFECTS; DIFFRACTION PATTERNS; INTERFEROMETRY; RAMAN SPECTROSCOPY; SILICON; TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY;

NANOWIRES;

NANOWIRE;

ARTICLE; CHEMISTRY; METHODOLOGY; NANOTECHNOLOGY; TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY; ULTRASTRUCTURE;

MICROSCOPY, ELECTRON, TRANSMISSION; NANOTECHNOLOGY; NANOWIRES;

EID: 84861905592     PISSN: 16136810     EISSN: 16136829     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/smll.201102404     Document Type: Article

References (33)

1. a) R. E. Algra, M. A. Verheijen, M. T. Borgstrom, L. F. Feiner, G. Immink, W. J. P. van Enckevort, E. Vlieg, E. P. A. M. Bakkers, Nature 2008, 456, 369
2. b) P. Caroff, K. A. Dick, J. Johansson, M. E. Messing, K. Deppert, L. Samuelson, Nat. Nanotechnol. 2009, 4, 50
3. c) K. A. Dick, P. Caroff, J. Bolinsson, M. E. Messing, J. Johansson, K. Deppert, L. R. Wallenberg, L. Samuelson, Semicond. Sci. Technol. 2010, 25, 024009.
4. E. P. A. M. Bakkers, R. A. Algra, R. E., M. Hocevar, M. A. Verheijen, I. Zardo, G. G. W. Immink, W. J. P. van Enckevort, G. Abstreiter, L. P. Kouwenhoven, E. Vlieg, Nano Lett. 2011, 11, 1690.
5. a) A. Mishra, L. V. Titova, T. B. Hoang, H. E. Jackson, L. M. Smith, J. M. Yarrison-Rice, Y. Kim, H. J. Joyce, Q. Gao, H. H. Tan, C. Jagadish, Appl. Phys. Lett. 2007, 91, 263104
6. b) A. Maharjan, K. Pemasiri, P. Kumar, A. Wade, L. M. Smith, H. E. Jackson, J. M. Yarrison-Rice, A. Kogan, S. Paiman, Q. Gao, H. H. Tan, C. Jagadish, Appl. Phys. Lett. 2009, 94, 193115.
7. F. J. Lopez, E. R. Hemesath, L. J. Lauhon, Nano Lett. 2009, 9, 2774.
8. F. M. Davidson, D. C. Lee, D. D. Fanfair, B. A. Korgel, J. Phys. Chem. C 2007, 111, 2929.
9. F. J. Lopez, U. Givan, J. G. Connell, L. J. Lauhon, ACS Nano 2011, 5, 8958.
10. L. Y. Cao, L. Laim, C. Y. Ni, B. Nabet, J. E. Spanier, J. Am. Chem. Soc. 2005, 127, 13782.
11. A. Fontcuberta i Morral, J. Arbiol, J. D. Prades, A. Cirera, J. R. Morante, Adv. Mater. 2007, 19, 1347.
12. X. H. Liu, D. W. Wang, Nano Res. 2009, 2, 575.
13. C. Cayron, M. Den Hertog, L. Latu-Romain, C. Mouchet, C. Secouard, J. L. Rouviere, E. Rouviere, J. P. Simonato, J. Appl. Crystallogr. 2009, 42, 242.
14. M. I. den Hertog, C. Cayron, P. Gentile, F. Dhalluin, F. Oehler, T. Baron, J. L. Rouviere, Nanotech. 2012, 23, 025701.
15. D. C. Bell, Y. Wu, C. J. Barrelet, S. Gradecak, J. Xiang, B. P. Timko, C. M. Lieber, Microsc. Res. and Tech. 2004, 64, 373.
16. Y. Ding, Z. L. Wang, J. Phys. Chem. B 2004, 108, 12280
17. D. Tham, C. Y. Nam, K. Byon, J. Kim, J. E. Fischer, Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process. 2006, 85, 227.
18. J. Arbiol, A. F. I. Morral, S. Estrade, F. Peiro, B. Kalache, P. R. I. Cabarrocas, J. R. Morante, J. Appl. Phys. 2008, 104, 064312.
19. A. H. Carim, K. K. Lew, J. M. Redwing, Adv. Mater. 2001, 13, 1489.
20. H. Kohno, N. Ozaki, H. Yoshida, K. Tanaka, S. Takeda, Cryst. Res. Technol. 2003, 38, 1082.
21. B. A. Korgel, D. C. Lee, T. Hanrath, M. J. Yacaman, A. Thesen, M. Matijevic, R. Kilaas, C. Kisielowski, A. C. Diebold, IEEE Trans. Semicond. Manuf. 2006, 19, 391.
22. D. Cherns, Philos. Mag. 1974, 30, 549.
23. K. Takayanagi, K. Yagi, Trans. Jpn Inst. Met. 1983, 24, 337.
24. V. Germain, J. Li, D. Ingert, Z. L. Wang, M. P. Pileni, J. Phys. Chem. B 2003, 107, 8717.
25. A. I. Kirkland, D. A. Jefferson, D. G. Duff, P. P. Edwards, I. Gameson, B. F. G. Johnson, D. J. Smith, Proc. Royal Soc. London Ser. A-Math. Phys. Eng. Sci. 1993, 440, 589.
26. E. R. Hemesath, D. K. Schreiber, E. B. Gulsoy, C. F. Kisielowski, A. K. Petford-Long, P. W. Voorhees, L. J. Lauhon, Nano Lett. 2012, 12, 167.
27. D. W. Pashley, M. J. Stowell, Philos. Mag. 1963, 8, 1605.
28. D. F. Lynch, Acta Crystallog. Sect. A: Found. Crystallogr. 1971, 27, 399.
29. R. C. Jin, Y. W. Cao, C. A. Mirkin, K. L. Kelly, G. C. Schatz, J. G. Zheng, Science 2001, 294, 1901.
30. J. Reyes-Gasga, A. Gõmez-Rodríguez, X. Gao, M. José-Yacamán, Ultramicroscopy 2008, 108, 929.
31. Z. R. Dai, Z. W. Pan, Z. L. Wang, J. Phys. Chem. B 2002, 106, 902.
32. J. M. Gibson, M. Y. Lanzerotti, V. Elser, Appl. Phys. Lett. 1989, 55, 1394.
33. S. Barth, J. J. Boland, J. D. Holmes, Nano Lett. 2011, 11, 1550.