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Volumn 13, Issue 19, 2001, Pages 1489-1491

Bicrystalline silicon nanowires

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CRYSTAL LATTICES; CRYSTAL ORIENTATION; CRYSTALLOGRAPHY; GRAIN BOUNDARIES; HIGH RESOLUTION ELECTRON MICROSCOPY; NUCLEATION; SILICON; SINGLE CRYSTALS; TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY; TWINNING;

EID: 0035797847     PISSN: 09359648     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/1521-4095(200110)13:19<1489::AID-ADMA1489>3.0.CO;2-E     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.