Domain structures of single layer graphene imaged with conductive probe atomic force microscopy

Surface and Interface Analysis

Volumn 44, Issue 6, 2012, Pages 768-771

  Kwon, Sangku ^a   Chung, H J ^b   Seo, Sunae ^c   Park, Jeong Young ^a  

^a Korea Advanced Institute of Science and Technology (KAIST)   (South Korea)

^b Samsung Advanced Institute of Technology (SAIT)   (South Korea)

^c Sejong University   (South Korea)

Author keywords

atomic force microscopy; charge transport; friction; graphene; strain

Indexed keywords

ADHESION MEASUREMENT; CONDUCTIVE PROBE ATOMIC FORCE MICROSCOPIES; COPPER SUBSTRATES; CURRENT MAPPING; DOMAIN BOUNDARY; DOMAIN STRUCTURE; GRAPHENE LAYERS; HEXAGONAL STRUCTURES; HIGH LOAD; INDUCTIVELY COUPLED PLASMA CHEMICAL VAPOR DEPOSITION; MECHANICAL DEFORMATION; NANOSCALE DOMAIN; SINGLE LAYER;

ADHESION; ATOMIC FORCE MICROSCOPY; CHARGE TRANSFER; CHEMICAL VAPOR DEPOSITION; FRICTION; INDUCTIVELY COUPLED PLASMA; MECHANICAL PROPERTIES; PLASMA CVD; SLIP FORMING; STRAIN; TRANSPORT PROPERTIES;

GRAPHENE;

EID: 84861586479     PISSN: 01422421     EISSN: 10969918     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/sia.4810     Document Type: Conference Paper

References (23)

1. K. I. Bolotin, K. J. Sikes, Z. Jiang, M. Klima, G. Fudenberg, J. Hone, P. Kim, H. L. Stormer, Solid State Commun. 2008, 146, 351.
2. K. S. Novoselov, A. K. Geim, S. V. Morozov, D. Jiang, M. I. Katsnelson, I. V. Grigorieva, S. V. Dubonos, A. A. Firsov, Nature 2005, 438, 197.
3. Y. Zhang, Y. W. Tan, H. L. Stormer, P. Kim, Nature 2005, 438, 201.
4. C. Lee, X. Wei, J. W. Kysar, J. Hone, Science 2008, 321, 385.
5. K. S. Kim, Y. Zhao, H. Jang, S. Y. Lee, J. M. Kim, J. H. Ahn, P. Kim, J. Y. Choi, B. H. Hong, Nature 2009, 457, 706.
6. T. Ohta, A. Bostwick, T. Seyller, K. Horn, E. Rotenberg, Science 2006, 313, 951.
7. C. Berger, Z. M. Song, X. B. Li, X. S. Wu, N. Brown, C. Naud, D. Mayou, T. B. Li, J. Hass, A. N. Marchenkov, E. H. Conrad, P. N. First, W. A. de Heer, Science 2006, 312, 1191.
8. P. W. Sutter, J. I. Flege, E. A. Sutter, Nat. Mater. 2008, 7, 406.
9. S. Bae, H. Kim, Y. Lee, X. F. Xu, J. S. Park, Y. Zheng, J. Balakrishnan, T. Lei, H. R. Kim, Y. I. Song, Y. J. Kim, K. S. Kim, B. Ozyilmaz, J. H. Ahn, B. H. Hong, S. Iijima, Nat. Nanotechnol. 2010, 5, 574.
10. L. B. Biedermann, M. L. Bolen, M. A. Capano, D. Zemlyanov, R. G. Reifenberger, Phys. Rev. B 2009, 79, 125411.
11. O. V. Yazyev, S. G. Louie, Nat. Mater. 2010, 9, 806.
12. P. N. Nirmalraj, T. Lutz, S. Kumar, G. S. Duesberg, J. J. Boland, Nano Lett. 2011, 11, 16.
13. M. Ahmad, S. A. Han, D. H. Tien, J. Jung, Y. Seo, J. Appl. Phys. 2011, 110, 54307.
14. J. Y. Park, D. F. Ogletree, P. A. Thiel, M. Salmeron, Science 2006, 313, 186.
15. D. I. Son, T. W. Kim, J. H. Shim, J. H. Jung, D. U. Lee, J. M. Lee, W. I. Park, W. K. Choi, Nano Lett. 2010, 10, 2441.
16. H. Lee, N. Lee, Y. Seo, J. Eom, S. Lee, Nanotechnology 2009, 20, 325701.
17. J. Y. Park, D. F. Ogletree, M. Salmeron, C. J. Jenks, P. A. Thiel, Tribol. Lett. 2004, 17, 629.
18. A. C. Ferrari, J. C. Meyer, V. Scardaci, C. Casiraghi, M. Lazzeri, F. Mauri, S. Piscanec, D. Jiang, K. S. Novoselov, S. Roth, A. K. Geim, Phys. Rev. Lett. 2006, 97, 187401.
19. A. Haran, D. H. Waldeck, R. Naaman, E. Moons, D. Cahen, Science 1994, 263, 948.
20. Y. B. Qi, X. S. Liu, B. L. M. Hendriksen, V. Navarro, J. Y. Park, I. Ratera, J. M. Klopp, C. Edder, F. J. Himpsel, J. M. J. Frechet, E. E. Haller, M. Salmeron, Langmuir 2010, 26, 16522.
21. S. Kwon, S. Choi, H. J. Chung, H. Yang, S. Seo, S. H. Jhi, J. Y. Park, Appl. Phys. Lett. 2011, 99. 013110.
22. J. S. Choi, J. S. Kim, I. S. Byun, D. H. Lee, M. J. Lee, B. H. Park, C. Lee, D. Yoon, H. Cheong, K. H. Lee, Y. W. Son, J. Y. Park, M. Salmeron, Science 2011, 333, 607.
23. C. Lee, Q. Y. Li, W. Kalb, X. Z. Liu, H. Berger, R. W. Carpick, J. Hone, Science 2010, 328, 76.