-
2
-
-
0000836443
-
-
Nalwa, H. S., Ed.; Academic Press: San Diego, Chapter 1
-
Ritala, M.; Leskelä, M. In Handbook of Thin Film Materials; Nalwa, H. S., Ed.; Academic Press: San Diego, 2001, Vol.1, Chapter 1.
-
(2001)
Handbook of Thin Film Materials
, vol.1
-
-
Ritala, M.1
Leskelä, M.2
-
3
-
-
0344667722
-
-
Leskelä, M.; Ritala, M. Angew. Chem., Int. Ed. 2003, 42, 5548.
-
(2003)
Angew. Chem., Int. Ed.
, vol.42
, pp. 5548
-
-
Leskelä, M.1
Ritala, M.2
-
4
-
-
52649138379
-
-
and references therein
-
Knapas, K.; Ritala, M. Chem. Mater. 2008, 20, 5698 and references therein.
-
(2008)
Chem. Mater.
, vol.20
, pp. 5698
-
-
Knapas, K.1
Ritala, M.2
-
5
-
-
21744434246
-
-
Faschinger, W.; Juza, P.; Ferreira, S.; Zajicek, H.; Pesek, A.; Sitter, H.; Lischka, K. Thin Solid Films 1993, 225, 270.
-
(1993)
Thin Solid Films
, vol.225
, pp. 270
-
-
Faschinger, W.1
Juza, P.2
Ferreira, S.3
Zajicek, H.4
Pesek, A.5
Sitter, H.6
Lischka, K.7
-
6
-
-
0342272406
-
-
Yao, T.; Takeda, T.; Watanuki, R. Appl. Phys. Lett. 1986, 48, 1615.
-
(1986)
Appl. Phys. Lett.
, vol.48
, pp. 1615
-
-
Yao, T.1
Takeda, T.2
Watanuki, R.3
-
7
-
-
51249165853
-
-
Takemura, Y.; Konagai, M.; Yamasaki, K.; Lee, C. H.; Takahashi, K. J. Electron. Mater. 1993, 22, 437.
-
(1993)
J. Electron. Mater.
, vol.22
, pp. 437
-
-
Takemura, Y.1
Konagai, M.2
Yamasaki, K.3
Lee, C.H.4
Takahashi, K.5
-
8
-
-
0030392623
-
-
Konagai, M.; Ohtake, Y.; Okamoto, T. Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 1996, 426, 153.
-
(1996)
Mater. Res. Soc. Symp. Proc.
, vol.426
, pp. 153
-
-
Konagai, M.1
Ohtake, Y.2
Okamoto, T.3
-
9
-
-
0033328951
-
-
Szczerbakow, A.; Dynowska, E.; Swiatek, K.; Godlewski, M. J. Cryst. Growth 1999, 207, 148.
-
(1999)
J. Cryst. Growth
, vol.207
, pp. 148
-
-
Szczerbakow, A.1
Dynowska, E.2
Swiatek, K.3
Godlewski, M.4
-
10
-
-
0037403124
-
-
Godlewski, M.; Guziewicz, E.; Kopalko, K.; Lusakowska, E.; Dynowska, E.; Godlewski, M.; Goldys, E.; Philips, M. J. Lumin. 2003, 102-103, 455.
-
(2003)
J. Lumin.
, vol.102-103
, pp. 455
-
-
Godlewski, M.1
Guziewicz, E.2
Kopalko, K.3
Lusakowska, E.4
Dynowska, E.5
Godlewski, M.6
Goldys, E.7
Philips, M.8
-
12
-
-
0001687227
-
-
Dosho, S.; Takemura, Y.; Konagai, M.; Takahashi, K. J. Appl. Phys. 1989, 66, 2597.
-
(1989)
J. Appl. Phys.
, vol.66
, pp. 2597
-
-
Dosho, S.1
Takemura, Y.2
Konagai, M.3
Takahashi, K.4
-
13
-
-
0001354071
-
-
Konagai, M.; Takemura, Y.; Yamasaki, K.; Takahashi, K. Thin Solid Films 1993, 225, 256.
-
(1993)
Thin Solid Films
, vol.225
, pp. 256
-
-
Konagai, M.1
Takemura, Y.2
Yamasaki, K.3
Takahashi, K.4
-
14
-
-
0018985030
-
-
Ahonen, M.; Pessa, M.; Suntola, T. Thin Solid Films 1980, 65, 301.
-
(1980)
Thin Solid Films
, vol.65
, pp. 301
-
-
Ahonen, M.1
Pessa, M.2
Suntola, T.3
-
15
-
-
0026104821
-
-
Takemura, Y.; Nakanishi, H.; Konagai, M.; Takahashi, K. Jpn. J. Appl. Phys. 1991, 30, L246.
-
(1991)
Jpn. J. Appl. Phys.
, vol.30
-
-
Takemura, Y.1
Nakanishi, H.2
Konagai, M.3
Takahashi, K.4
-
16
-
-
0344007911
-
-
Hauzenberger, F.; Fashinger, W.; Juza, P.; Pesek, A.; Lischka, K.; Sitter, H. Thin Solid Films 1993, 225, 265.
-
(1993)
Thin Solid Films
, vol.225
, pp. 265
-
-
Hauzenberger, F.1
Fashinger, W.2
Juza, P.3
Pesek, A.4
Lischka, K.5
Sitter, H.6
-
18
-
-
0020834627
-
-
Pessa, M.; Huttunen, P.; Herman, M. A. J. Appl. Phys. 1983, 54, 6047.
-
(1983)
J. Appl. Phys.
, vol.54
, pp. 6047
-
-
Pessa, M.1
Huttunen, P.2
Herman, M.A.3
-
19
-
-
11644286431
-
-
Kytökivi, A.; Koskinen, Y.; Rautiainen, A.; Skarp, J. Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 1991, 222, 269.
-
(1991)
Mater. Res. Soc. Symp. Proc.
, vol.222
, pp. 269
-
-
Kytökivi, A.1
Koskinen, Y.2
Rautiainen, A.3
Skarp, J.4
-
21
-
-
0342272407
-
-
Koukitu, A.; Saegusa, A.; Kitho, M.; Ikeda, H.; Seki, H. Jpn. J. Appl. Phys. 1990, 29, L2165.
-
(1990)
Jpn. J. Appl. Phys.
, vol.29
-
-
Koukitu, A.1
Saegusa, A.2
Kitho, M.3
Ikeda, H.4
Seki, H.5
-
22
-
-
0026820841
-
-
Kimura, R.; Konagai, M.; Takahashi, K. J. Cryst. Growth 1992, 116, 283.
-
(1992)
J. Cryst. Growth
, vol.116
, pp. 283
-
-
Kimura, R.1
Konagai, M.2
Takahashi, K.3
-
23
-
-
0028423260
-
-
Fujiwara, H.; Nabeta, T.; Shimizu, I. Jpn. J. Appl. Phys. 1994, 33, 2474.
-
(1994)
Jpn. J. Appl. Phys.
, vol.33
, pp. 2474
-
-
Fujiwara, H.1
Nabeta, T.2
Shimizu, I.3
-
24
-
-
36449001127
-
-
Fujiwara, H.; Kiryu, H.; Shimizu, I. J. Appl. Phys. 1995, 77, 3927.
-
(1995)
J. Appl. Phys.
, vol.77
, pp. 3927
-
-
Fujiwara, H.1
Kiryu, H.2
Shimizu, I.3
-
25
-
-
0027647147
-
-
Wang, W.-S.; Ehsani, H.; Bhat, I. J. Electron. Mater. 1993, 22, 873.
-
(1993)
J. Electron. Mater.
, vol.22
, pp. 873
-
-
Wang, W.-S.1
Ehsani, H.2
Bhat, I.3
-
26
-
-
21744444804
-
-
Karam, N.; Wolfson, R.; Bhat, I.; Ehsani, H.; Gandhi, S. Thin Solid Films 1993, 225, 261.
-
(1993)
Thin Solid Films
, vol.225
, pp. 261
-
-
Karam, N.1
Wolfson, R.2
Bhat, I.3
Ehsani, H.4
Gandhi, S.5
-
27
-
-
0028760779
-
-
Lee, C.; Kim, B.; Kim, J.; Park, H.; Chung, C.; Chang, S.; Lee, J.; Noh, S. J. Cryst. Growth 1994, 138, 136.
-
(1994)
J. Cryst. Growth
, vol.138
, pp. 136
-
-
Lee, C.1
Kim, B.2
Kim, J.3
Park, H.4
Chung, C.5
Chang, S.6
Lee, J.7
Noh, S.8
-
28
-
-
21544433891
-
-
Lee, C.; Kim, B.; Kim, J.; Chang, S.; Suh, S. J. Appl. Phys. 1994, 76, 928.
-
(1994)
J. Appl. Phys.
, vol.76
, pp. 928
-
-
Lee, C.1
Kim, B.2
Kim, J.3
Chang, S.4
Suh, S.5
-
31
-
-
0033746103
-
-
Yokoyama, M.; Chen, N.; Ueng, H. J. Cryst. Growth 2000, 212, 97.
-
(2000)
J. Cryst. Growth
, vol.212
, pp. 97
-
-
Yokoyama, M.1
Chen, N.2
Ueng, H.3
-
32
-
-
0028762003
-
-
Yoshikawa, A.; Kobayashi, M.; Tokita, S. Appl. Surf. Sci. 1994, 82/ 83, 316.
-
(1994)
Appl. Surf. Sci.
, vol.82-83
, pp. 316
-
-
Yoshikawa, A.1
Kobayashi, M.2
Tokita, S.3
-
33
-
-
84990696131
-
-
Yoshikawa, A.; Kobayashi, M.; Tokita, S. Phys. Status Solidi B 1995, 187, 315.
-
(1995)
Phys. Status Solidi B
, vol.187
, pp. 315
-
-
Yoshikawa, A.1
Kobayashi, M.2
Tokita, S.3
-
34
-
-
67749106317
-
-
Pore, V.; Hatanpää, T.; Ritala, M.; Leskelä, M. J. Am. Chem. Soc. 2009, 131, 3478.
-
(2009)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.131
, pp. 3478
-
-
Pore, V.1
Hatanpää, T.2
Ritala, M.3
Leskelä, M.4
-
35
-
-
67349117674
-
-
Ritala, M.; Pore, V.; Hatanpää, T; Heikkilä, M.; Leskelä, M.; Mizohata, K.; Schrott, A.; Raoux, S.; Rossnagel, S. Microelectron. Eng. 2009, 86, 1946.
-
(2009)
Microelectron. Eng.
, vol.86
, pp. 1946
-
-
Ritala, M.1
Pore, V.2
Hatanpää, T.3
Heikkilä, M.4
Leskelä, M.5
Mizohata, K.6
Schrott, A.7
Raoux, S.8
Rossnagel, S.9
-
36
-
-
33846666168
-
-
Lee, J.; Choi, S.; Lee, C.; Kang, Y.; Kim, D. Appl. Surf. Sci. 2007, 253, 3969.
-
(2007)
Appl. Surf. Sci.
, vol.253
, pp. 3969
-
-
Lee, J.1
Choi, S.2
Lee, C.3
Kang, Y.4
Kim, D.5
-
37
-
-
34548820185
-
-
Choi, B.; Choi, S.; Shin, Y.; Kim, K.; Hwang, C.; Kim, Y.; Son, Y.; Hong, S. Chem. Mater. 2007, 19, 4387.
-
(2007)
Chem. Mater.
, vol.19
, pp. 4387
-
-
Choi, B.1
Choi, S.2
Shin, Y.3
Kim, K.4
Hwang, C.5
Kim, Y.6
Son, Y.7
Hong, S.8
-
38
-
-
56749180381
-
-
Choi, B.; Oh, S.; Choi, S.; Eom, T.; Shin, Y.; Kim, K.; Yi, K.; Hwang, C.; Kim, Y.; Park, H.; Baek, T.; Hong, S. J. Electrochem. Soc. 2009, 156, H59.
-
(2009)
J. Electrochem. Soc.
, vol.156
-
-
Choi, B.1
Oh, S.2
Choi, S.3
Eom, T.4
Shin, Y.5
Kim, K.6
Yi, K.7
Hwang, C.8
Kim, Y.9
Park, H.10
Baek, T.11
Hong, S.12
-
39
-
-
67649268160
-
-
Choi, B.; Choi, S.; Eom, T.; Ryu, S.; Cho, D.; Heo, J.; Kim, H.; Hwang, C.; Kim, Y.; Hong, S. Chem. Mater. 2009, 21, 2386.
-
(2009)
Chem. Mater.
, vol.21
, pp. 2386
-
-
Choi, B.1
Choi, S.2
Eom, T.3
Ryu, S.4
Cho, D.5
Heo, J.6
Kim, H.7
Hwang, C.8
Kim, Y.9
Hong, S.10
|