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Materials Science Forum

Volumn 615 617, Issue , 2009, Pages 417-422

Nanoimaging in SiC and related materials: Beyond surface morphology to charge transport and physical parameters mapping

(3) Raineri, V a Giannazzo, F a Roccaforte, F a

a CNR (Italy)

Author keywords

Scanning probe microscopy; Silicon carbide

Indexed keywords

BERYLLIUM COMPOUNDS; CONDUCTIVE MATERIALS; ENERGY GAP; HYDROPHOBICITY; MAPPING; MORPHOLOGY; SCANNING PROBE MICROSCOPY; SILICON CARBIDE; SURFACE MORPHOLOGY;

CARRIER DISTRIBUTIONS; CARRIER PROFILING; COMPLEX METHODS; CONDUCTIVE LAYER; NANO SCALE; NANO-IMAGING; PHYSICAL PARAMETERS; WIDE BAND-GAP MATERIAL;

WIDE BAND GAP SEMICONDUCTORS;

EID: 69749127444 PISSN: 02555476 EISSN: 16629752 Source Type: Book Series
DOI: 10.4028/www.scientific.net/MSF.615-617.417 Document Type: Conference Paper

Times cited : (3)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.