Synchrotron radiation angle-resolved photoelectron spectroscopy studies of 6H-SiC(0001)-6√3×6√3 R30° surface

Wuli Xuebao/Acta Physica Sinica

Volumn 58, Issue 6, 2009, Pages 4288-4294

  Wu, Yu Yu ^a   Chen, Shi ^b   Gao, Xin Yu ^b   Wee, Andrew Thye Shen ^b   Xu, Peng Shou ^a  

^a UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY OF CHINA   (China)

^b NATIONAL UNIVERSITY OF SINGAPORE   (Singapore)

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Angle resolved photoelectron spectroscopy; Electronic structure; SiC; Surface states

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EID: 67649858763     PISSN: 10003290     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article

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