Comparison of output power of InGaN laser diodes for different Al compositions in the AlGaN n -cladding layer

Journal of Applied Physics

Volumn 105, Issue 10, 2009, Pages

  Ryu, H Y ^a   Ha, K H ^b   Son, J K ^c   Paek, H S ^c   Sung, Y J ^c   Kim, K S ^c   Kim, H K ^c   Park, Y ^c   Lee, S N ^d   Nam, O H ^e  

^a Inha University   (South Korea)

^b Samsung Advanced Institute of Technology (SAIT)   (South Korea)

^c Samsung Electro Mechanics   (South Korea)

^d Silla University   (South Korea)

^e Korea Polytechnic University   (South Korea)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

AL COMPOSITION; ALGAN; CATASTROPHIC OPTICAL DAMAGES; CLADDING LAYER; INGAN LASER DIODES; MULTIPLE-QUANTUM-WELL LASER DIODES; MW OUTPUT; OPTICAL FIELD DISTRIBUTION; OUTPUT POWER; SLOPE EFFICIENCIES; THRESHOLD CURRENTS;

ALUMINUM; CHEMICAL ANALYSIS; LADDER NETWORKS; LIGHT REFRACTION; REFRACTIVE INDEX; REFRACTOMETERS;

LASER CLADDING;

EID: 66549128356     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.3126487     Document Type: Article

References (19)

1. S. Nagahama, N. Iwasa, M. Senoh, T. Matsushita, Y. Sugimoto, H. Kiyoku, T. Kozaki, M. Sano, H. Matsumura, H. Umemoto, K. Chocho, and T. Mukai, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 0021-4922 39, L647 (2000). 10.1143/JJAP.39.L647
2. M. Ikeda, T. Mizuno, M. Takeya, S. Goto, S. Ikeda, T. Fujimoto, Y. Ohfuji, and T. Hashiuzu, Phys. Status Solidi C 1610-1634 1, 1416 (2004).
3. O. H. Nam, K. H. Ha, J. S. Kwak, S. N. Lee, K. K. Choi, T. H. Chang, S. H. Chae, W. S. Lee, Y. J. Sung, H. S. Paek, J. H. Chae, T. Sakong, J. K. Son, H. Y. Ryu, Y. H. Kim, and Y. Park, Phys. Status Solidi A 0031-8965 201, 2717 (2004). 10.1002/pssa.200405114
4. T. Kozaki, H. Matsumura, Y. Sugimoto, S. Nagahama, and T. Mukai, Proc. SPIE 0277-786X 6133, 613306 (2006). 10.1117/12.641460
5. K. Fukuda, S. Kohmoto, M. Matsudate, T. Tsukuda, M. Yamada, M. Ohya, K. Naniwae, T. Akagawa, I. Masumoto, and C. Sasaoka, Phys. Status Solidi A 0031-8965 204, 2094 (2007). 10.1002/pssa.200674823
6. S. Uchida, M. Takeya, S. Ikeda, T. Mizuno, T. Fujimoto, O. Matsumoto, S. Goto, T. Tojyo, and M. Ikeda IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron. 1077-260X 9, 1252 (2003). 10.1109/JSTQE.2003.820910
7. M. Kuramoto, C. Sasaoka, N. Futagawa, M. Nido, and A. A. Yamaguchi, Phys. Status Solidi A 0031-8965 192, 329 (2002). 10.1002/1521-396X(200208)192: 2<329::AID-PSSA329>3.0.CO;2-A
8. T. Asano, M. Takeya, T. Tojyo, T. Mizuno, S. Ikeda, K. Shibuya, T. Hino, S. Uchida, and M. Ikeda, Appl. Phys. Lett. 0003-6951 80, 3497 (2002). 10.1063/1.1478157
9. M. Takeya, T. Tojyo, T. Asano, S. Ikeda, T. Mizuno, O. Matsumoto, S. Goto, Y. Yabuki, S. Uchida, and M. Ikeda, Phys. Status Solidi A 0031-8965 192, 269 (2002). 10.1002/1521-396X(200208)192:2<269::AID-PSSA269>3.0.CO;2-Z
10. S. Ito, Y. Yamasaki, S. Omi, K. Takatani, T. Kawakami, T. Ohno, M. Ishida, Y. Ueta, T. Yuasa, and T. Taneya, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 0021-4922 43, 96 (2004). 10.1143/JJAP.43.96
11. H. Y. Ryu, K. H. Ha, S. N. Lee, K. K. Choi, T. Jang, J. K. Son, J. H. Chae, S. H. Chae, H. S. Paek, Y. J. Sung, T. Sakong, H. K. Kim, K. S. Kim, Y. H. Kim, O. H. Nam, and Y. Park, IEEE Photon. Technol. Lett. 1041-1135 18, 1001 (2006). 10.1109/LPT.2006.873540
12. T. Takeuchi, T. Detchprohm, M. Iwaya, N. Hayashi, K. Isomura, K. Kimura, N. Yamaguchi, H. Amano, I. Akasaki, Yw. Kaneko, R. Shioda, S. Watanabe, T. Hidaka, Y. Yamaoka, Ys. Kaneko, and N. Yamda, Appl. Phys. Lett. 0003-6951 75, 2960 (1999). 10.1063/1.125201
13. S. Nakamura, M. Senoh, S. Nagahama, T. Matsushita, H. Kiyoku, Y. Sugimoto, T. Kozaki, H. Umemoto, M. Sano, and T. Mukai, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 0021-4922 38, L226 (1999). 10.1143/JJAP.38.L226
14. G. A. Smolyakov, P. G. Eliseev, and M. Osinski, IEEE J. Quantum Electron. 0018-9197 41, 517 (2005). 10.1109/JQE.2005.843619
15. J. K. Son, S. N. Lee, H. S. Paek, T. Sakong, H. K. Kim, Y. Park, H. Y. Ryu, O. H. Nam, J. S. Hwang, and Y. H. Cho, J. Appl. Phys. 0021-8979 103, 103101 (2008). 10.1063/1.2931025
16. H. Y. Ryu, K. H. Ha, S. N. Lee, T. Jang, J. K. Son, H. S. Paek, Y. J. Sung, H. K. Kim, K. S. Kim, O. H. Nam, Y. Park, and J. I. Shim, IEEE Photon. Technol. Lett. 1041-1135 19, 1717 (2007). 10.1109/LPT.2007.905215
17. M. Ohta, Y. Ohizumi, Y. Hoshina, T. Tanaka, Y. Yabuki, K. Funato, S. Tomiya, S. Goto, and M. Ikeda, Phys. Status Solidi A 0031-8965 204, 2068 (2007). 10.1002/pssa.200674748
18. K. S. Kim, J. K. Son, S. N. Lee, Y. J. Sung, H. S. Paek, H. K. Kim, M. Y. Kim, K. H. Ha, H. Y. Ryu, O. H. Nam, T. Jang, and Y. J. Park, Appl. Phys. Lett. 0003-6951 92, 101103 (2008). 10.1063/1.2892634
19. K. Okamoto, T. Tanaka, and M. Kubota, Appl. Phys. Express 1882-0778 1, 072201 (2008). 10.1143/APEX.1.072201