Scanning kelvin probe microscopy on bulk heterojunction polymer blends

Advanced Functional Materials

Volumn 19, Issue 9, 2009, Pages 1379-1386

  Maturová, Klára ^a   Kemerink, Martijn ^a   Wienk, Martijn M ^a   Charrier, Dimitri S H ^a   Janssen, René A J ^a  

^a EINDHOVEN UNIVERSITY OF TECHNOLOGY   (Netherlands)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ACTIVE LAYER; AFM; BULK HETEROJUNCTION; BULK HETEROJUNCTION SOLAR CELLS; COMPARING DEVICES; DONOR AND ACCEPTOR; ELECTRON TRANSPORT; ENERGY LEVEL SHIFT; MDMO-PPV; NUMERICAL MODELING; PHOTOGENERATED ELECTRONS; POLYMER-FULLERENE; SCANNING KELVIN PROBE MICROSCOPY; SUB-100 NM; TIME EVOLUTIONS; TRAPPED ELECTRONS;

ELECTRONS; HETEROJUNCTIONS; POLYMER BLENDS; PROBES; SCANNING; SOLAR ENERGY; SURFACE POTENTIAL; SURFACE PROPERTIES; THREE DIMENSIONAL;

PHASE SEPARATION;

EID: 66149142203     PISSN: 1616301X     EISSN: 16163028     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/adfm.200801283     Document Type: Article

References (36)

1. G. Yu, A. J. Heeger, J. Appl. Phys. 1995, 78, 4510.
2. J. J. M. Halls, C. A. Walsh, N. C. Greenham, E. A.Marseglia, R. H. Friend, S. C. Moratti, A. B. Holmes, Nature 1995, 376, 498.
3. G. Yu, J. Gao, J. C. Hummelen, F. Wudl, A. J. Heeger, Science 1995, 270, 1789.
4. S. E. Shaheen, C. J. Brabec, N. S. Sariciftci, F. Padinger, T. Fromherz, J. C. Hummelen, Appl. Phys. Lett. 2001, 78, 841-843.
5. P. Schilinsky, C. Waldauf, C. J. Brabec, Appl. Phys. Lett. 2002, 81, 3885.
6. M. M. Wienk, J. M. Kroon, W. J. H. Verhees, J. Knol, J. C. Hummelen, P. A. van Hal, R. A. J. Janssen, Angew. Chem, Int. Ed. 2003, 42, 3371.
7. J. Peet, J. Y. Kim, N. E. Coates, W. L. Ma, D. Moses, A. J. Heeger, G. C. Bazan, Nat. Mater. 2007, 6, 497.
8. G. Li, V. Shrotriya, J. Huang, Y. Yao, T. Moriarty, K. Emery, Y. Yang, Nat. Mater. 2005, 4, 864.
9. F. Padinger, R. S. Rittberger, N. S. Sariciftci, Adv. Funct. Mater. 2003, 13, 85.
10. T. Martens, J. d'Haen, T. Munters, Z. Beelen, L. Goris, J. Manca, M. d'Olieslaeger, D. Vanderzande, L. de Schepper, R. Andriessen, Synth. Met. 2003, 138, 243.
11. T. Glatzel, H. Hoppe, N. S. Sariciftci, M. C. Lux-Steiner, M. Komiyama, Jpn. J. Appl. Phys. 2005, 44, 5370.
12. H. Hoppe, T. Glatzel, M. Niggemann, A. Hinsch, M. C. Lux-Steiner, N. S. Sariciftci, Nano Lett. 2005, 5, 269.
13. M. Chiesa, L. Bürgi, J. S. Kim, R. Shikler, R. H. Friend, H. Sirringhaus, Nano Lett. 2005, 5, 559.
14. H. Hoppe, T. Glatzel, M. Niggemann, W. Schwinger, F. Schaeffler, A. Hinsch, M. C. Lux-Steiner, N. S. Sariciftci, Thin Solid Films 2006, 511-512, 587.
15. V. Palermo, G. Ridolfi, A. M. Talarico, L. Favaretto, G. Barbarella, N. Camaioni, P. Samori, Adv. Funct. Mater. 2007, 17, 472.
16. D. C. Coffey, O. G. Reid, D. B. Rodovsky, G. P. Bartholomew, D. S. Ginger, Nano Lett. 2007, 7, 738.
17. C. R. McNeill, H. Frohne, J. L. Holdsworth, J. E. Furst, B. V. King, P. C. Dastoor, Nano Lett. 2004, 4, 2503.
18. Y. Martin, D. W. Abraham, H. K. Wickramasinghe, Appl. Phys. Lett. 1988, 52, 1103.
19. H. O. Jacobs, P. Leuchtmann, O. J. Homan, A. J. Stemmer, Appl. Phys. 1998, 84, 1168.
20. C. Sommerhalter, T. Glatzel, T. W. Matthes, A. Jager-Waldau, M. C. Lux-Steiner, Appl. Surf. Sci. 2000, 157, 263.
21. J. K. J. van Duren, X. Yang, J. Loos, C. W. T. Bulle-Lieuwma, A. B. Sieval, J. C. Hummelen, R. A. J. Janssen, Adv. Funct. Mater. 2004, 14, 425.
22. K. Maturova, M. Kemerink, S. S. van Bavel, R. A. J. Janssen, unpublished.
23. V. D. Mihailetchi, L. J. A. Koster, P.W.M. Blom, C. Melzer, B. de Boer, J. K. J. van Duren, R. A. J. Janssen, Adv. Funct. Mater. 2005, 15, 795.
24. D. S. Charrier, M. Kemerink, B. E. Smalbrugge, T. de Vries, R. A. J. Janssen, ACS Nano 2008, 2, 622. Qualitatively, the non-ideality of the probe causes a reduction of the measured contrast. However, an increase (decrease) in "real" contrast always leads to an increase (decrease) in observed contrast. Spatially constant shifts are not affected.
25. H. Hoppe, M. Niggemann, C. Winder, J. Kraut, R. Hiesgen, A. Hinsch, D. Meissner, N. S. Sariciftci, Adv. Funct. Mater. 2004, 14, 1005.
26. O. Douhéret, A. Swinnen, M. Breselge, I. Van Severen, L. Lutsen, D. Vanderzande, J. Manca, Microelectron. Eng. 2007, 84, 431.
27. M. Kemerink, J.M. Kramer, H. H. P. Gommans, R. A. J. Janssen, Appl. Phys. Lett. 2006, 88, 192108.
28. C. Tengstedt, W. Osikowicz, W. R. Salaneck, I. D. Parker, C. H. Hsu, M. Fahlman, Appl. Phys. Lett. 2006, 88, 053502.
29. J. Gilot, M. M. Wienk, R. A. J. Janssen, Appl. Phys. Lett. 2007, 90, 143512.
30. J. L. van Hemmen, S. B. S. Heil, J.H. Klootwijk, F. Roozeboom, C. J.Hodson, M. C. M. van Snaden, W. M. M. Kessels, J. Electrochem. Soc. 2007, 154, G165.
31. M. M. Mandoc, B. de Boer, G. Paasch, P. W. M. Blom, Phys. Rev. B 2007, 75, 193202.
32. r=3.6, and d=100 nm.
33. L. J. A. Koster, E. C. P. Smits, V. D. Mihailetchi, P. W. M. Blom, Phys. Rev. B 2005, 72, 85205.
34. H. J. Snaith, A. C. Arias, A. C. Morteani, C. Silva, R. H. Friend, Nano Lett. 2002, 2, 1353.
35. H. J. Snaith, R. H. Friend, Thin Solid Films 2004, 451, 567.
36. R. Shikler, M. Chiesa, R. H. Friend, Macromolecules 2006, 39, 5393.