Study of the temporal current stability of field-emitted electrons from ultrananocrystalline diamond films

Journal of Applied Physics

Volumn 103, Issue 10, 2008, Pages

  Uppireddi, Kishore ^a   Weiner, Brad R ^a   Morell, Gerardo ^a  

^a UNIVERSITY OF PUERTO RICO   (Puerto Rico)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CHEMICAL VAPOR DEPOSITION; DIAMOND FILMS; ELECTRIC CURRENTS; STABILITY CRITERIA;

TEMPORAL CURRENT STABILITY; ULTRANANOCRYSTALLINE DIAMOND (UNCD) FILMS;

ELECTRONS;

EID: 44649187864     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2927398     Document Type: Article

References (39)

1. G. Fursey, in Field Emission in Vacuum Microelectronics, edited by, I. Brodie, and, P. Schwoebel, (Kluwer Academic, New York, 2005) pp. 144-150.
2. K. A. Dean, and B. R. Chalamala, Appl. Phys. Lett. 75, 3017 (1999).
3. G. X. Guo, K. Tokunaga, E. Yin, F. C. Tsai, A. D. Brodie, and N. W. Parker, J. Vac. Sci. Technol. B 19, 862 (2001).
4. B. Günther, F. Kaldasch, G. Müller, S. Schmitt, T. Henning, R. Huber, and M. Lacher, J. Vac. Sci. Technol. B 21, 427 (2003).
5. W. Zhu, G. P. Kochanski, and S. Jin, Science 0036-8075 10.1126/science.282.5393.1471 282, 1471 (1998); W. Zhu, C. Bower, G. P. Kochanski, and S. Jin, Solid-State Electron. 45, 921 (2001).
6. S. S. Proffitt, S. J. Probert, M. D. Whitfield, J. S. Foord, and R. B. Jackman, Diamond Relat. Mater. 8, 768 (1999).
7. A. V. Karabutov, V. D. Frolov, V. I. Konov, V. G. Ralchenko, S. K. Gordeev, and P. I. Belobrov, J. Vac. Sci. Technol. B 19, 965 (2001).
8. K. Okano, S. Koizumi, S. R. P. Silva, and G. A. J. Amartunga, Nature (London) 381, 140 (1996).
9. S. C. Lim, R. E. Stallcup II, A. Akiwani, and J. M. Perez, Appl. Phys. Lett. 75, 1179 (1999).
10. M. Hajra, C. E. Hunt, M. Ding, O. Auciello, J. Carlisle, and D. M. Gruen, J. Appl. Phys. 94, 4079 (2003).
11. M. Q. Ding, O. Auciello, J. A. Carlisle, and D. M. Gruen, J. Vac. Sci. Technol. B 21, 1644 (2003).
12. D. M. Gruen, Annu. Rev. Mater. Sci. 29, 211 (1999).
13. L. C. Qin, D. Zhou, A. R. Krauss, and D. M. Gruen, Nanostruct. Mater. 10, 649 (1998).
14. A. R. Krauss, O. Auciello, M. Q. Ding, D. M. Gruen, Y. Huang, V. V. Zhirnov, E. I. Givargizov, A. Breskin, R. Chechen, E. Shefer, V. Konov, S. Pimenov, A. Karabutov, A. Rakhimov, and N. Suetin, J. Appl. Phys. 89, 2958 (2001).
15. A. Erdemir, C. Bindal, G. R. Fenske, C. Zuiker, A. R. Krauss, and D. M. Gruen, Diamond Relat. Mater. 5, 923 (1996).
16. K. Uppireddi, B. R. Weiner, and G. Morell, Diamond Relat. Mater. 17, 55 (2008).
17. A. González-Berríos, B. R. Weiner, and G. Morell, J. Vac. Sci. Technol. B 25, 318 (2007).
18. A. González-Berríos, F. Piazza, and G. Morell, J. Vac. Sci. Technol. B 23, 645 (2005).
19. J. Birrell, J. E. Gerbi, O. Auciello, J. M. Gibson, D. M. Gruen, and J. A. Carlisle, J. Appl. Phys. 93, 5606 (2003).
20. F. R. McFeely, S. P. Kowalcyk, L. Ley, R. G. Cavell, R. A. Pollak, and D. A. Shirley, Phys. Rev. B 9, 5268 (1974).
21. G. Francz and P. Oelhafen, Diamond Relat. Mater. 4, 539 (1995).
22. P. K. Bachmann, W. Eberhardt, B. Kessler, H. Lade, K. Radermacher, D. U. Wiecher, and H. Wilson, Diamond Relat. Mater. 5, 1378 (1996).
23. V. V. Zhirnov, A. B. Voronin, E. I. Givargizov, and A. L. Meshcheryakova, J. Vac. Sci. Technol. B 14, 2034 (1996).
24. G. Fursey, in Field Emission in Vacuum Microelectronics, edited by, I. Brodie, and, P. Schwoebel, (Kluwer Academic, New York, 2005) p. 152.
25. C.-Y. Hong, and A. I. Akinwande, IEEE Trans. Electron Devices 52, 2323 (2005).
26. O. Gröning, O. M. Küttel, P. Gröning, and L. Schlapbach, J. Vac. Sci. Technol. B 17, 1970 (1999).
27. W. A. Mackie, L. A. Southall, T. Xie, G. L. Cabe, F. M. Charbonnier, and P. H. McClelland, J. Vac. Sci. Technol. B 21, 1574 (2003).
28. P. R. Schwoebel, C. A. Spindt, and C. E. Holland, J. Vac. Sci. Technol. B 23, 691 (2005).
29. V. N. Tondare, M. Naddaf, A. B. Bhise, S. V. Bhoraskar, D. S. Joag, A. B. Mandale, and S. R. Sainkar, Appl. Phys. Lett. 80, 1085 (2002).
30. J. Robertson, J. Vac. Sci. Technol. B 17, 659 (1999).
31. M. W. Geis, N. N. Efremow, K. E. Krohn, J. C. Twichell, T. M. Lyszczarz, R. Kalish, J. A. Greer, and M. D. Tabat, Nature (London) 0028-0836 10.1038/30900 393, 431 (1998); M. W. Geis, J. C. Twichell, and T. M. Lyszczarz, J. Vac. Sci. Technol. B 14, 2060 (1996).
32. A. Llie, A. C. Ferrari, T. Yagi, and J. Robertson, Appl. Phys. Lett. 76, 2627 (2000).
33. J. J. Blandino, D. G. Goodwin, and C. E. Garner, Diamond Relat. Mater. 9, 1992 (2000).
34. H. Fujiwara, Spectroscopic Ellipsometry-Principles and Applications (Wiley, New York, 2007).
35. J. Lee, R. W. Collins, V. S. Veerasamy, and J. Robertson, Diamond Relat. Mater. 7, 999 (1998).
36. C. Corbella, E. Pascual, A. Canillas, E. Bertran, and J. L. Andújar, Thin Solid Films 455, 370 (2004).
37. X. Xiao, J. Birrell, J. E. Gerbi, O. Auciello, and J. A. Carlisle, J. Appl. Phys. 96, 2232 (2004).
38. P. F. Cleri, P. Keblinski, L. Colombo, D. Wolf, and S. R. Philpot, Europhys. Lett. 46, 671 (1999).
39. H. H. Busta, J. E. Pogemiller, and B. J. Zimmerman, J. Vac. Sci. Technol. B 12, 689 (1994).