Molecular lithography for wafer-scale fabrication of molecular junctions

Nano Letters

Volumn 4, Issue 8, 2004, Pages 1391-1394

  McCarty, Gregory S ^a  

^a The Pennsylvania State University   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

WATER;

ANALYTIC METHOD; ARTICLE; CHEMICAL STRUCTURE; METHODOLOGY; NANOTECHNOLOGY; STRUCTURE ANALYSIS; TECHNOLOGY;

EID: 4444264775     PISSN: 15306984     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/nl049375z     Document Type: Article

References (25)

1. Bumm, L. A.; Arnold, J. J.; Cygan, M. T.; Dunbar, T. D.; Burgin, T. P.; Jones, L., II.; Allara, D. L.; Tour, J. M.; Weiss, P. S. Science 1996, 277, 1705-1707.
2. Bumm, L. A.; Arnold, J. J.; Dunbar, T. D.; Allara, D. L.; Weiss, P. S. J. Phys. Chem. B 1999, 103, 8122-8127.
3. Chen, J.; Reed, M. A.; Rawlett, A. M.; Tour, J. M. Science 1999, 286, 1550-1552.
4. Chen, J.; Wang, W.; Reed, M. A.; Rawlett, A. M.; Price, D. W.; Tour, J. M. Appl. Phys. 2000, 77, 1224-1226.
5. Chen, J.; Wang, W.; Klemic, J.; Reed, M. A,; Axelrod, B. W.; Kaschak, D. M.; Rawlett, A. M.; Price, D. W.; Dirk, S. M.; Tour, J. M.; Grubisha, D. S.; Bennett, D. W. Ann. N.Y. Acad. Sci. 2002, 960, 69-99.
6. Cui, X. D.; Primak, A.; Zarate, X.; Tomfohr, J.; Sankey, O. F.; Moore, A. L.; Moore, T. A.; Gust, D.; Nagahara, L. A.; Lindsay, S. M. J. Phys. Chem. B 2002, 106, 8609-8614.
7. Davis, W. B.; Svec, W. A.; Ratner, M. A.; Wasielewski, M. R. Nature 1998, 396, 60-63.
8. Donhauser, Z. J.; Mantooth, B. A.; Kelly, K. F.; Bumm, L. A.; Monnell, J. D.; Stapleton, J. J.; Price, D. W.; Rawlett, A. M.; Allara, D. L.; Tour, J. M.; Weiss, P. S. Science 2001, 292, 2303-2307.
9. Fan, F.-R. F.; Yang, J.; Cai, L.; Price, D. W., Jr.; Dirk, S. M.; Kosynkin, D. V.; Yao, Y.; Rawlett, A. M.; Tour, J. M.; Bard, A. J. J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 5550-5560.
10. Muller, C. J.; Vleeming, B. J.; Reed, M. A.; Lambda, J. J. S.; Hara, R.; Jones, L., II.; Tour, J. M. Nanotechnology 1996, 7, 409-411.
11. Ratner, M. A.; Davis, B.; Kemp, M.; Mujica, V.; Roitberg, A.; Yaliraki, S. Ann. N.Y. Acad. Sci. 1998, 852, 22-37.
12. Ratner, M. A. Nature 2000, 404, 137-138.
13. Rawlett, A. M.; Hopson, T. J.; Nagahara, L. A.; Tsui, R. K.; Ramachandran, G. K.; Lindsay, S. M. Appl. Phys. 2002, 81, 3043-3045.
14. Reed, M. A.; Zhou, C.; Muller, C. J.; Burgin, T. P.; Tour, J. M. Science 1997, 278, 252-254.
15. Reed, M. A. Proc. Inst. Electr. Elect. 1999, 87, 652-658.
16. van Delft, F. C. M. J. Microelectron. Eng. 1999, 46, 369-373.
17. van Delft, F. C. M. J.; Weterings, J. P.; Langen-Suurling, A. K.; Romijn, H. J. Vac. Sci. Technol., B 2000, 18, 3419-3423.
18. Mirkin, C. A.; Hong, S. H.; Demers, L. ChemPhysChem 2001, 2, 37-39.
19. Piner, R. D.; Zhu, J.; Xu, F.; Hong, S. H.; Mirkin, C. A. Science 1999, 283, 661-663.
20. Melosh, N. A.; Boukai, A.; Diana, F.; Gerardot, B.; Badolato, A.; Petroff, P. M.; Heath, J. R. Science 2003, 300, 112-115.
21. Anderson, M. E.; Tan, L. P.; Tanaka, H.; Mihok, M.; Lee, H.; Horn, M. W.; Weiss, P. S. J. Vac. Sci. Technol., B 2003, 21, 3116-3119.
22. Hatzor, A.; Weiss, P. S. Science 2001, 291, 1019-1020.
23. Evans, S. D.; Ulman, A.; Goppertberarducci, K. E.; Gerenser, L. J. J. Am. Chem. Soc. 1991, 113, 5866-5868.
24. Dunbar, T. D.; Cygan, M. T.; Bumm, L. A.; McCarty, G. S.; Burgin, T. P.; Reinerth, W. A.; Jones, L., II.; Jackiw, J. J.; Tour, J. M.; Weiss, P. S.; Allara, D. L. J. Phys. Chem. B 2000, 104, 4880-4893.
25. Kushmerick, J. G.; Holt, D. B.; Yang, J. C.; Naciri, J.; Moore, M. H.; Shashidhar, R. Phys. Rev. Lett. 2002, 89, 86802-1-86802-4.